分子光譜：作用：分子光譜是提供分子內(nèi)部信息的主要途徑，根據(jù)分子光譜可以確定分子的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量、分子的鍵長(zhǎng)和鍵強(qiáng)度以及分子離解能等許多性質(zhì)，從而可推測(cè)分子的結(jié)構(gòu)。分子的內(nèi)部運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化所產(chǎn)生的吸收或發(fā)射光譜(從紫外到遠(yuǎn)紅外直至微波譜)。分子運(yùn)動(dòng)包括整個(gè)分子的轉(zhuǎn)動(dòng)...

分析儀原理：利用能量色散的方法，通過分析物料中各種元素所被激發(fā)出的復(fù)雜的X射線的混合能譜進(jìn)行分析，進(jìn)而求出被測(cè)量物料中的元素種類和含量。性能指標(biāo)：一臺(tái)儀表可較多分析12流道；可分析元素種類：原子序數(shù)20以上的各種元素；分析元素含量范圍：100%～0.001%；...

發(fā)射光譜儀：叫直讀的原因是相對(duì)于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以前還沒有計(jì)算機(jī)采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來的電流信號(hào)都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對(duì)數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計(jì)算機(jī)技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計(jì)算機(jī)完成，可以直接換算出含量，...

但當(dāng)原子受到能量(如熱能、電能等)的作用時(shí)，原子由于與高速運(yùn)動(dòng)的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量，使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級(jí)上，處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位，當(dāng)外加的能量足夠大時(shí)，原子中的電子脫離原子...

軸類鍛件的鍛造工藝主要是以拔長(zhǎng)為主，因而大部分缺陷的取向與軸線平行，此類缺陷的探測(cè)以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果較佳?？紤]到缺陷會(huì)有其它的分布及取向，因此軸類鍛件探傷，還應(yīng)輔以直探頭軸向探測(cè)和斜探頭周向探測(cè)及軸向探測(cè)。直探作徑向探測(cè)時(shí)將探頭置于軸的外緣，沿外緣作多...

軸類鍛件的鍛造工藝主要是以拔長(zhǎng)為主，因而大部分缺陷的取向與軸線平行，此類缺陷的探測(cè)以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果較佳?？紤]到缺陷會(huì)有其它的分布及取向，因此軸類鍛件探傷，還應(yīng)輔以直探頭軸向探測(cè)和斜探頭周向探測(cè)及軸向探測(cè)。直探作徑向探測(cè)時(shí)將探頭置于軸的外緣，沿外緣作多...

多元素分析：電腦精密多元素分析儀是國(guó)內(nèi)新型的一款多元素分析儀，在國(guó)內(nèi)自創(chuàng)采用元素分析儀可調(diào)波長(zhǎng)光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)自動(dòng)連續(xù)可調(diào)，從而使產(chǎn)品的應(yīng)用范圍達(dá)到全功能的水平，可以根據(jù)被測(cè)材料元素的要求，全自動(dòng)設(shè)定所需波長(zhǎng)，可用于各種材料及其合金的多種元素分析。產(chǎn)品不光波...

渦流探傷儀技術(shù)特點(diǎn)：可檢測(cè)絲、棒、管、板等形式的材料，也可檢測(cè)特定的機(jī)械零件如：銷、法蘭、軸承零件等。為客戶量身定制檢測(cè)方案。臺(tái)式、便攜式、落地式、機(jī)柜式、觸摸屏式等多種結(jié)構(gòu)形式。渦流探傷儀可檢出夾層、開裂、起皮、夾雜、金屬疲勞等缺陷，而對(duì)微彎等可接受情況不敏...

金屬分析儀性能：內(nèi)置X射線系統(tǒng)，安全可靠；內(nèi)置準(zhǔn)直器:可在3毫米直徑與標(biāo)準(zhǔn)10毫米直徑分析點(diǎn)之間切換；只需一按按鍵，即可快速改變分析點(diǎn)的大??；4 W X射線管，200 uA電流（較大），以及較優(yōu)化x光束設(shè)置確保儀器的準(zhǔn)確性；緊湊的機(jī)身設(shè)計(jì),267毫米*310毫...

探傷儀點(diǎn)狀缺陷：各個(gè)方向探測(cè)，缺陷回波差不多，無明顯變化，大多為氣孔、夾渣、夾砂等。缺陷密集程度：在熒光屏掃描線某一范圍內(nèi)連續(xù)出現(xiàn)一系列簇狀缺陷，在不同方向探測(cè)缺陷回波情況差不多。如大型鑄件（如大的汽輪發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子）在中心和端部鍛壓部位易出現(xiàn)裂紋。在焊縫中心有一...

探傷儀波聲的方向性好，頻率越高，方向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射，易于確定缺陷的位置。超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（1兆赫茲）的超聲波所傳播的能量，相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍。探傷儀檢測(cè)通常是對(duì)被測(cè)物體（比如工業(yè)材...

變頻器測(cè)試，通過變頻電量傳感器，能在現(xiàn)場(chǎng)簡(jiǎn)單地進(jìn)行變頻器輸入測(cè)和變頻器輸出測(cè)的功率測(cè)量，并進(jìn)行符合PWM波諧波分布特點(diǎn)的諧波分析。變頻器主電路結(jié)構(gòu)一般為“交—直—交”，在整流回路中接有大電容，輸入電流為脈沖式充電電流，在逆變輸出回路中輸出電壓信號(hào)是受PWM載波...

探傷儀主要用于工業(yè)檢測(cè)；M型顯示是將一條經(jīng)過輝度處理的探測(cè)信息按時(shí)間順序展開形成一維的"空間多點(diǎn)運(yùn)動(dòng)時(shí)序圖"，適于觀察內(nèi)部處于運(yùn)動(dòng)狀態(tài)的物體，探傷儀如運(yùn)動(dòng)的臟器、動(dòng)脈血管等；B型顯示是將并排很多條經(jīng)過輝度處理的探測(cè)信息組合成的二維的、反映出被測(cè)物體內(nèi)部斷層切面...

探傷儀B型掃描：采用定時(shí)掃描方式形成B型圖像。門內(nèi)展寬：放大回波細(xì)節(jié)，便于回波分析。動(dòng)態(tài)記錄：檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄、存儲(chǔ)、回放波形，每段記錄可達(dá)8分鐘。波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析。焊縫圖示：顯示焊縫坡口形式和聲束走向，直觀顯示缺陷位置。內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)：...

光譜分析儀的工作原理：正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量較低的軌道上運(yùn)動(dòng)。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級(jí)之間的能級(jí)差E時(shí)，該原子將吸收這一特征波長(zhǎng)的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)，...

探傷儀該設(shè)備操作簡(jiǎn)便，工作效率高，采用工業(yè)PLC控制，既可手動(dòng)單步操作，亦可自動(dòng)循環(huán)工作，周、縱向電流分別可調(diào)，具有斷電相位控制功能?？煞謩e進(jìn)行周向、縱向、復(fù)合磁化。工件可以轉(zhuǎn)動(dòng)，檢測(cè)時(shí)機(jī)器可按工藝要求設(shè)定的程序自動(dòng)完成除上下料及觀察外（如夾緊、噴液、磁化、退...

探傷儀缺陷定性：通過回波包絡(luò)波形，方便人工經(jīng)驗(yàn)判斷，探頭頻率檢測(cè)：通過抓取回波，準(zhǔn)確檢測(cè)出探頭的中心頻率，500mm范圍內(nèi)任意波幅回波，一鍵輕松完成檢測(cè)，曲面修正：修正斜探頭圓管檢測(cè)時(shí)的深度和水平距離，超聲波探傷儀修正模式：內(nèi)弧/外弧，DAC/AVG：曲線自動(dòng)...

光譜分析：光譜分析方法具有極高的靈敏度和準(zhǔn)確度．在地質(zhì)勘探中利用光譜分析就可以檢驗(yàn)礦石里所含微量的貴重金屬、稀有元素或放射性元素等．用光譜分析速度快，很大提高了工作效率．還可以用光譜分析研究天體的化學(xué)成分以及校定長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)原器等．復(fù)色光經(jīng)過色散系統(tǒng)（如棱鏡、光...

輔助電源電壓：額定輔助電源電壓是指裝置運(yùn)行時(shí)在其自身電源端口測(cè)得的電壓，如有必要，包括制造方提供的或要求裝入的串聯(lián)輔助電阻或附件，但不包括連接電源的導(dǎo)體。額定輔助電源電壓包括交流電源和直流電源。交流電源應(yīng)采用230/400V。注：230/400V將是未來的IE...

變頻功率分析儀是指以變頻電量為基本測(cè)量與分析對(duì)象的儀器/裝置。變頻電量是指用于傳輸功率的，并且滿足下述條件之一的交流電量：信號(hào)頻譜光包含一種頻率成分，而頻率不局限于工頻的交流電信號(hào)。信號(hào)頻譜包含兩種或更多的被關(guān)注的頻率成分的電信號(hào)。變頻電量包括：電壓、電流、有...

但當(dāng)原子受到能量(如熱能、電能等)的作用時(shí)，原子由于與高速運(yùn)動(dòng)的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量，使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級(jí)上，處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位，當(dāng)外加的能量足夠大時(shí)，原子中的電子脫離原子...

光譜分析原理：每一條所發(fā)射的譜線的波長(zhǎng)，取決于躍遷前后兩個(gè)能級(jí)之差。由于原子的能級(jí)很多，原子在被激發(fā)后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應(yīng)遵循一定的規(guī)則(即“光譜選律”)，因此對(duì)特定元素的原子可產(chǎn)生一系列不同波長(zhǎng)的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保...

探傷儀增加Ethernet網(wǎng)口，可接入以太網(wǎng)。增加了大量的操作提示信息，人機(jī)交互界面更加友好。用戶可根據(jù)自己喜好來選擇不同的屏幕顏色。內(nèi)置AWS、API5UE等多種標(biāo)準(zhǔn)。超聲波探傷儀主要性能指標(biāo)：探測(cè)范圍：(0~9999)mm，工作頻率：(0.25~20)MH...

探傷儀在每次探傷操作前都必須利用標(biāo)準(zhǔn)試塊（CSK-IA、CSK-ⅢA）校準(zhǔn)儀器的綜合性能，校準(zhǔn)面板曲線，以保證探傷結(jié)果的準(zhǔn)確性。對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行記錄，如發(fā)現(xiàn)內(nèi)部缺陷對(duì)其進(jìn)行評(píng)定分析。焊接對(duì)頭內(nèi)部缺陷分級(jí)應(yīng)符合現(xiàn)行國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB11345-89《鋼焊縫手工超聲波探傷...

X熒光光譜儀是真正意義上的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試?yán)?。流線型的外形，帶給您全新的視覺沖擊；高貴大方的色彩，盡顯尊貴與穩(wěn)重的獨(dú)特魅力；精巧的內(nèi)核，融匯科技的濃縮之美；嚴(yán)謹(jǐn)?shù)谋Ｗo(hù)裝置，構(gòu)造安全可靠的防火墻；小巧輕便，將人性化理念落實(shí)入微。采用小功率端窗一體化微型光管，功耗小、激...

電腦多元素分析儀是國(guó)內(nèi)較新型的一款多元素分析儀，共五個(gè)大通道，每個(gè)通道各有三十個(gè)小通道（可儲(chǔ)存30條工作曲線），原則上共可檢測(cè)150個(gè)元素，品牌電腦微機(jī)控制,全中文菜單式操作,臺(tái)式打印機(jī)打印結(jié)果。技術(shù)參數(shù)：測(cè)量范圍：(以Mn、P、Si、稀土、Mg等為例)；Mn...

熒光光譜儀指標(biāo)信息：發(fā)射源是Rh靶X光管，較大電流125mA，電壓60kV，較大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度

探傷儀常見缺陷的回波特征：鋼鍛件中的粗晶與疏松--多以雜波、叢狀波形式或底波高度損失增大、底波反射次數(shù)減少等形式出現(xiàn)。棒材的中心裂紋--在沿圓周面作360°徑向縱波掃查時(shí)，由于裂紋的輻射方向性，其反射波幅有高低變化并有不同程度的游動(dòng)，在沿軸向掃查時(shí)，反射波幅度...

但當(dāng)原子受到能量(如熱能、電能等)的作用時(shí)，原子由于與高速運(yùn)動(dòng)的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量，使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級(jí)上，處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位，當(dāng)外加的能量足夠大時(shí)，原子中的電子脫離原子...

變頻功率分析儀的通用框圖，依據(jù)所采用的技術(shù)，圖中列出的所有部件并非均不可缺少。如有需要，圖中的變送電路可以包含各種進(jìn)行電壓、電流變換的模擬量輸出的傳感器或變送器。圖中的傳輸系統(tǒng)用于傳輸數(shù)字信號(hào)，可以是儀器內(nèi)部的連線，也可以外部的連線，外部連線可以是電纜或光纖或...