海南本地PCBA整機(jī)測(cè)試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-10-15

PCBA測(cè)試的ICT針床測(cè)試在批量生產(chǎn)的工廠里沒有辦法讓你用電表慢慢去量測(cè)每一片板子上的每一顆電阻、電容、電感、甚至是IC的電路是否正確,所以ICT(In-Circuit-Test)自動(dòng)化測(cè)試機(jī)臺(tái)的出現(xiàn),它使用多根探針(一般稱之為「針床(Bed-Of-Nails)」治具)同時(shí)接觸板子上所有需要被量測(cè)的零件線路,然后經(jīng)由程控以序列為主,并列為輔的方式循序量測(cè)這些電子零件的特性。針床來做電路測(cè)試會(huì)有一些限制,比如說:探針的小直徑有一定極限,太小直徑的針容易折斷毀損。針間距離也有一定限制,因?yàn)槊恳桓樁家獜囊粋€(gè)孔出來,而且每根針的后端都還要再焊接一條扁平電纜,如果相鄰的孔太小,除了針與針之間會(huì)有接觸短路的問題,扁平電纜的干涉也是一大問題。此外,某些高零件的旁邊無法植針。如果探針距離高零件太近就會(huì)有碰撞高零件造成損傷的風(fēng)險(xiǎn),另外因?yàn)榱慵^高,通常還要在測(cè)試治具針床座上開孔避開,也間接造成無法植針。電路板上越來越難容納的下所有零件的測(cè)試點(diǎn)PCBA過程中,焊接是最常見的連接方式,它要求工人具備熟練的焊接技能和經(jīng)驗(yàn)。海南本地PCBA整機(jī)測(cè)試

PCBA

FCT測(cè)試英文全稱為:FunctionalCircuitTest,即功能測(cè)試。FCT功能測(cè)試的分類:依據(jù)控制模式的不同,可以分為:(1)手動(dòng)控制功能測(cè)試 (2)半自動(dòng)控制功能測(cè)試(3)全自動(dòng)控制功能測(cè)試早期的功能測(cè)試,主要以手動(dòng)和半自動(dòng)方式為主。即使現(xiàn)在,對(duì)于一些簡(jiǎn)單的被測(cè)板的功能測(cè)試,基于簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和減少制作成本考慮,有時(shí)還是會(huì)采用手動(dòng)或者半自動(dòng)的測(cè)試方案。隨著科技的高速發(fā)展,為了節(jié)約生產(chǎn)成本和提高生產(chǎn)效率,現(xiàn)在的功能測(cè)試絕大多數(shù)都是使用全自動(dòng)的測(cè)試方案。自動(dòng)化PCBA檢查PCBA中ICT測(cè)試的優(yōu)勢(shì)有哪些。

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PCBA測(cè)試常見ICT測(cè)試方法: 1、模擬器件測(cè)試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有:∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0,則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感,則Vs交流信號(hào)源,Rx為阻抗形式,同樣可求出C或L。 2、Vector(向量)測(cè)試對(duì)數(shù)字IC,采用Vector(向量)測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量,激勵(lì)輸入向量,測(cè)量輸出向量,通過實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試,可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流,測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出,當(dāng)作功能塊測(cè)試。 3、非向量測(cè)試隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展,超大規(guī)模集成電路的使用,編寫器件的向量測(cè)試程序常?;ㄙM(fèi)大量的時(shí)間,如80386的測(cè)試程序需花費(fèi)一位熟練編程人員近半年的時(shí)間。SMT器件的大量應(yīng)用,使器件引腳開路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù),Teradyne推出MultiScan;GenRad推出的Xpress非向量測(cè)試技術(shù)。

FCT測(cè)試英文全稱為:FunctionalCircuitTest,即功能測(cè)試,一般專指PCBA上電后的功能測(cè)試,包括:電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、位置測(cè)定、LED亮度與顏色識(shí)別、LCD字符和顏色識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量與控制、壓力測(cè)量與控制、精密微量運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM在線燒錄等功能參數(shù)的測(cè)量。它指的是針對(duì)測(cè)試目標(biāo)板(UUT:UnitUnderTest)提供模擬的運(yùn)行環(huán)境(激勵(lì)和負(fù)載),使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài),從而獲取各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來驗(yàn)證UUT的功能好壞的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地說,就是對(duì)UUT加載合適的激勵(lì)和負(fù)載,測(cè)量其輸出端響應(yīng)是否滿足了設(shè)計(jì)要求。消費(fèi)電子領(lǐng)域中的哪些產(chǎn)品通常使用PCBA技術(shù)?

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依據(jù)控制器類型來分,可以分為:(1)MCU控制方式MCU控制方式可以視作簡(jiǎn)單的嵌入式控制。MCU和嵌入式CPU控制方式的特點(diǎn)在于:a測(cè)試執(zhí)行速度快b測(cè)試操作簡(jiǎn)單明了c數(shù)據(jù)顯示和輸出需要電路和程序d測(cè)試方案針對(duì)性強(qiáng)e測(cè)試軟件修改方便(2)嵌入式CPU控制方式(3)PC控制方式PC的控制方式是目前使用的FCT測(cè)試方式,這主要是因?yàn)椋篴PC技術(shù)已成為現(xiàn)今社會(huì)的基礎(chǔ)通用技術(shù)bPC價(jià)格便宜c測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)輸出和文件處理在PC的操作系統(tǒng)上能非常方便的實(shí)現(xiàn)d測(cè)試軟件的操作更貼近于使用者操作習(xí)慣e有的測(cè)試程序開發(fā)軟件 (4)PLC控制方式PLC的控制方式也是目前常用的一種FCT開發(fā)方式,它的重點(diǎn)多在于控制感應(yīng)部分,而針對(duì)被測(cè)板的測(cè)量功能偏弱。這是由于PLC是專業(yè)用于工業(yè)控制而決定的。東莞藍(lán)牙PCBA測(cè)試公司。自動(dòng)化PCBA檢查

在不同的應(yīng)用領(lǐng)域中,PCBA對(duì)性能的要求有何不同?海南本地PCBA整機(jī)測(cè)試

PCBA測(cè)試的ICT測(cè)試主要是通過測(cè)試探針接觸PCBA板上的測(cè)試點(diǎn),可以檢測(cè)出線路的短路、開路以及元器件焊接等故障問題。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量,對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試,如所有74系列、Memory 類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等ICT。ICT測(cè)試處于PCBA生產(chǎn)環(huán)節(jié)的后端,PCBA測(cè)試的首道工序,可以及時(shí)的發(fā)現(xiàn)PCBA板生產(chǎn)過程的問題,有助于改善工藝,提高生產(chǎn)的效率。海南本地PCBA整機(jī)測(cè)試