南京智能音箱射頻測試儀

藍牙射頻測試系統(tǒng)特點中文界面，操作簡單易用支持BasicRate、EDR、BLE的所有測試項目測試快速穩(wěn)定，推薦配置（輸出功率、頻率偏置、靈敏度）8–12s即可完成測試可以配置不同產(chǎn)品模板，快速切換生產(chǎn)測試數(shù)據(jù)EXCEL表格保存，結(jié)果分析追溯簡便支持MES系統(tǒng)對接，生產(chǎn)質(zhì)量實時可追溯可控兼容N4010A、MT8852A/B、R&S®CMW500、R&S®CMW270、R&S®CMW100、IQXEL等，完全自主開發(fā)，提供定制化服務(wù)，如研發(fā)測試實際靈敏度，長時間誤碼率測試等研發(fā)測試只需更換治具即可快速切換PCBA、成品測試支持高通/CSR、瑞昱、絡(luò)達、恒玄BES、中星微、原相、博通、中科藍訊、杰理等方案。隨著新能源汽車、智能穿戴、物聯(lián)網(wǎng)等行業(yè)的蓬勃發(fā)展，未來射頻通信測試系統(tǒng)前景廣闊。南京智能音箱射頻測試儀

各種射頻測試和微波自動化測試系統(tǒng)發(fā)展迅速，從測量放大器、接收機和發(fā)射機的射頻性能指標，到更為復(fù)雜的電磁環(huán)境測試，人們更多地依賴集成化的測試系統(tǒng)和自動化測試軟件來完成：一方面，儀表廠商開始重視各種模塊化的測試儀器，系統(tǒng)集成商則采用這些模塊化的儀表來開發(fā)針對性極強的自動化測試系統(tǒng)；另一方面，終到了應(yīng)用環(huán)節(jié)，使用者只需輸入一些測試條件，然后輕點“開始測試”的按鈕，系統(tǒng)就會自動輸出測試結(jié)果。  隨之產(chǎn)生的一種現(xiàn)象是，年輕一代的從業(yè)者開始不重視傳統(tǒng)儀表（如頻譜分析儀）復(fù)雜煩瑣的操作而更加注重測試結(jié)果。這一點筆者也有所體會：在以往和用戶的交流中，經(jīng)常會討論如何設(shè)定頻譜儀的分辨率帶寬或者測量帶寬等參數(shù)，以保證獲得更加精確的測試值；而近年來用戶則更加關(guān)注如何更加快速、有效地獲得他們所關(guān)心的終測試結(jié)果。  南京智能音箱射頻測試儀耦合測試主要就是模擬整機的一個使用環(huán)境，測試手機在天線環(huán)境下的射頻性能。檢測天線與主板之間的匹配性。

一個傳統(tǒng)的射頻測試探針包括了以下幾個部分：測試儀器接口（同軸或是波導(dǎo)）從測試接口到微同軸電纜的轉(zhuǎn)接微同軸電纜到平面波導(dǎo)（CPW/MS等）轉(zhuǎn)接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關(guān)的概念Probepitch：指的是針尖(ProbeTips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。Probeskate:當你在Z軸方向往下“按壓”探針時，當探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標準的分立的夾具測試中。

射頻測試如何選擇合適的探針？由于待測設(shè)備（DUT）的性質(zhì)和構(gòu)成非常敏感且通常較為精細，因此射頻電路的測量往往是一項棘手任務(wù)。高可靠性射頻測量中困擾多的兩大問題是：頻率太高時，當前測試設(shè)備無法進行射頻能量的測量當待測電路對電氣環(huán)境中的微小變化敏感時，測量中要求頻率或幅度不發(fā)生擾動這些問題可通過采用對待測電路的能量擾動盡可能小的測量探針解決，其中，高阻抗探針中的放大器能夠平衡待測電路的受擾能量。?與測試射頻的阻抗匹配在射頻電路系統(tǒng)測試中，探針與測試設(shè)備的阻抗匹配對于能否實現(xiàn)有效的功率傳輸而言至關(guān)重要。然而，隨著測試頻率越來越高，以及對測試誤差的要求越來越嚴格，上述阻抗匹配變得越來越困難。?接觸測試點、頻率或數(shù)據(jù)速率、探針可用空間以及環(huán)境條件在射頻測試領(lǐng)域中，射頻測試探針分為多種不同類型，如何選擇合適的探針取決于對待接觸測試點、頻率或數(shù)據(jù)速率、探針可用空間以及環(huán)境條件的考量。將來，射頻探針需要具有測試更小焊盤及多個信道的設(shè)計能力，以及同時覆蓋多種毫米波、射頻、邏輯和功率信道測量范圍的能力。射頻(RF)又稱射頻電流，表示可以輻射到空間的電磁頻率，頻率范圍在300kHz～300GHz之間。

射頻探針重要探針參數(shù)，在射頻測試中的高頻測試里，高頻產(chǎn)品元器件的測試需要使用復(fù)雜的測試設(shè)備，該設(shè)備可包括矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）、晶片探測系統(tǒng)、高頻探針、半剛性或柔性同軸射頻線纜以及校準基板。其中，由于探針必須與待測設(shè)備實現(xiàn)物理連接，因此是這一測量系統(tǒng)中為關(guān)鍵的一環(huán)。高可靠性射頻探針應(yīng)該具有特征阻抗（通常為50歐姆）不發(fā)生退化的阻抗可重復(fù)性，在多次插拔后，相互配接的連接器上不允許出現(xiàn)肉眼可見的物理磨損。典型的手機射頻測試系統(tǒng)，由綜測儀、測試夾具、待測手機（DUT）組成。南京智能音箱射頻測試儀

射頻測試儀器的種類很多，應(yīng)用越來越多，包括從信號源和功率計，到頻譜和網(wǎng)絡(luò)分析儀等各種儀器。南京智能音箱射頻測試儀

人們早采用射頻測試探針技術(shù)與現(xiàn)在的工具是很不相同的，早期探針使用了由一個很短的線極尖(wire tip)而逐漸收斂的50-Ω微帶線，通過探針基片上一個小孔而與被測器件(DUT)的壓點（pad）相接觸。此時，其技術(shù)難度在于如何突破4GHz時實現(xiàn)可重復(fù)測量。雖然有可能通過校準過程來剔除一個接觸線極尖相對較大的串聯(lián)電感的影響，但當圓晶片的夾具被移動時，線極尖的輻射阻抗會有較大的變化。高頻測量使用的極尖設(shè)計與用于直流和低頻測量的極尖不同，而且必須使50-Ω環(huán)境盡可能地接近于DUT壓點。南京智能音箱射頻測試儀

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