奧林巴斯x射線熒光地質(zhì)勘探檢測儀

來源: 發(fā)布時間:2021-07-03

贏洲科技(上海)有限公司是奧林巴斯(Olympus)中國區(qū)授權(quán)一級代理商及奧林巴斯中國區(qū)指定售服中心。

奧林巴斯手持式地質(zhì)勘探光譜分析儀、奧林巴斯手持式海洋勘探光譜分析儀、奧林巴斯手持式石油地質(zhì)勘探光譜分析儀用于檢測用于地質(zhì)調(diào)查、礦產(chǎn)普查與勘探、工程地質(zhì)、巖土工程過程中巖石礦物元素分析。

物探化探勘查、地質(zhì)構(gòu)造勘查、鉆探勘查、航空磁力重力勘查。

主要有坑、槽探、鉆探、地球物理勘探等方法。

坑、槽探

就是用人工或機械方式進行挖掘坑、槽、井、洞。以便直接觀察巖土層的天然狀態(tài)以及各地層的地質(zhì)結(jié)構(gòu),并能取出接近實際的原狀結(jié)構(gòu)土樣。

鉆探

是指用鉆機在地層中鉆孔,以鑒別和劃分地表下地層,并可以沿孔深取樣的一種勘探方法。鉆探是工程地質(zhì)勘察中應(yīng)用為的一種勘探手段,它可以獲得深層的地質(zhì)資料。 贏洲科技主營產(chǎn)品包括:手持式文博考古光譜分析儀。奧林巴斯x射線熒光地質(zhì)勘探檢測儀

奧林巴斯x射線熒光地質(zhì)勘探檢測儀,勘探

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我們對投資回報(ROI)進行了詳細的分析,以計算出與常規(guī)實驗室分析方法相比,使用便攜式分析儀進行檢測所增加的價值。實驗室分析方法需要很長的周轉(zhuǎn)時間,而且如果要將樣本運送到俄羅斯的莫斯科,還會在樣本處理和物流方面花費很多資金。在這個項目中,我們選擇了1:5000的比例,相當于在10天內(nèi)采集2974個樣本。相比之下,使用便攜式分析儀所需的周轉(zhuǎn)時間比典型的實驗室分析所需的周轉(zhuǎn)時間倍,而所花費的成本少4倍。因此,計算得出的結(jié)果是:在這個單一項目中,一臺便攜式XRF分析儀本身的購買成本可以換來3倍到4倍的回報價值。 奧林巴斯x射線熒光地質(zhì)勘探檢測儀贏洲科技多年來公司主營行業(yè)包括:三元催化。

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影響鐵礦石品位的因素

鐵礦石的品位完全是由它所具有的利用價值來評定的。在工業(yè)上和商業(yè)上評定鐵礦石價值的因素有好幾項,分別說明如下:

(1)鐵含量(Iron content):礦石中鐵的含量當然是愈高愈好。含鐵量愈高,含有雜質(zhì)的脈石(Gangue)含量就少,于是,在運輸?shù)倪^程中浪費在無用雜質(zhì)的費用就可以降低,在冶煉的過程中浪費在熔融脈石的燃料費用就可以減少。所以,鐵礦石中鐵的含量對它的價值影響很大。一般說來,平均含鐵量在50%以上的礦石都可以稱為富礦(Richore),已經(jīng)可以有不必經(jīng)過處理就直接運輸?shù)膬r值。若低于此數(shù)值則必須在礦場附近加以富集處理(Concentration),再運輸至鋼廠當原料。礦石分析儀能輕松分析出鐵礦石中的鐵含量,和所含雜質(zhì),可以在挖掘鐵礦中的提高工作效率。

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E群中鐵鎳金屬含量比較高,形成在一個極端還原的環(huán)境中,其橄欖石和輝石中幾乎不含氧化鐵;C群中的鐵鎳金屬含量比較低(或不含鐵鎳金屬成分),形成在一個相當氧化的環(huán)境中,其橄欖石和輝石中的氧化鐵含量比值比較高;H、L、LL群的形成環(huán)境界于E群和C群之間,其特點也界于E群和C群之間。無球粒隕石根據(jù)其氧化鈣含量的高低分為:貧鈣無球粒隕石、富鈣無球粒隕石兩個大類。貧鈣無球粒隕石中的氧化鈣含量小于等于3%;富鈣無球粒隕石中氧化鈣含量大于等于5%。 贏洲科技主營產(chǎn)品包括:便攜式合金光譜分析儀。

奧林巴斯x射線熒光地質(zhì)勘探檢測儀,勘探

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“地質(zhì)”,準確的應(yīng)叫地質(zhì)學(xué),習(xí)慣了就叫地質(zhì)。地質(zhì)學(xué)是七大自然科學(xué)之一,主要是研究地球及其成因和演化發(fā)展。實際應(yīng)用是非常的:地震的預(yù)測、各類礦產(chǎn)的尋找、勘探,災(zāi)害性的滑坡,古生物的演化。凡是建筑在地面上的物體,都要事先搞清楚地下的情況。 贏洲科技多年來公司主營行業(yè)包括:冶金。奧林巴斯x射線熒光地質(zhì)勘探檢測儀

贏洲科技產(chǎn)品行業(yè)應(yīng)用包括:冶金材料中心。奧林巴斯x射線熒光地質(zhì)勘探檢測儀

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手持式礦石分析儀,快速分析巖心和其他鉆探樣品,建立礦山三維圖,分析儲量,可提高鉆探現(xiàn)場即刻決策效率。

指的是對礦石中含有的元素及其含量分析的儀器,即時利用X射線輻射產(chǎn)生熒光來分析的一種儀器,在X射線熒光分析礦石中的元素及含量中。 國外儀器主要適用FP法(基本參數(shù)法)。 奧林巴斯x射線熒光地質(zhì)勘探檢測儀