東莞微納米工業(yè)CT測量

phoenix nanotom m

-----------特色

主要功能

源于獨特的溫度穩(wěn)定的數(shù)字GEDXR檢測器(3072x 2400像素)的極高的圖像質量用于高動態(tài)范圍>10,000:1；

新的開放的180千伏/15瓦高功率納米焦點X射線管具有高達200納米的細節(jié)探測能力和內部冷卻-對長期穩(wěn)定性來說是***佳的；

用于三維測量應用的測量束包括：    溫度穩(wěn)定的機柜；高***度直接測量系統(tǒng)；操作器的防振；菱形|窗口；2個校準目標；phoenixdatos|x2.0軟件包“點擊&測量CT”與三維“測量"。

檢測原理：射線透照材料后發(fā)生衰減，進行二維X-ray成像；通過對樣品進行360°掃描，獲得巖樣三維模型。東莞微納米工業(yè)CT測量

v|tome|x L 240

—— 應用：材料科學

高分辨率計算機斷層掃描(micro

ct 與 nano ct)用于檢測材料、復合材料、燒結材料和陶瓷，但也用來對地質或生物樣品進行分析。

材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

鑄件與焊接

射線無損檢測用于檢測鑄件和焊縫缺陷。 微焦點X射線技術和工業(yè)X射線計算機斷層掃描(mico

ct)的結合，使得微米范圍內的缺陷探測成為可能，并提供低對比度缺陷的三維圖像。

鑄鋁活塞的CT圖像顯示被檢測對象的隱藏的輪廓和內表面，包括一些空洞，可自動計算其尺寸和位置。

層析圖像是三維測量的基礎（表面重構和標準實際值比較）

玻璃纖維增強塑料制成的物體的nanoCT： 玻璃纖維和礦物填料（紫色）的凝聚體的方位和分布都清晰可見。 纖維寬度大約為 10 μm.

華東工業(yè)級工業(yè)CT設備CT技術之 - 三維表面提取。

無使用壽命限制160kV/20W高功率X射線管, 易于穿透高吸收性工件

可選高對比度CMOS平板探測器, 有更好的實時檢測能力

功能***的CT軟件模塊, 操作簡單快速

設計人性化和操作簡便易用

可實時CAD數(shù)據匹配

自動實時導航圖功能, 易于對樣品的上下表面和內部進

    行快速***

激光防碰撞設計以保護工件

占地面積小

應用：

安裝好的印刷電路板

μBGA的二維X射線圖像

將功率半導體元器件的表面焊接到陶瓷基板上。在穿過3毫米厚的銅制散熱器后，基板上可見空洞，半導體的焊點無空洞。甚至連細鋁焊線也可看見。  

半導體與其他電子元件

在任何時間通過任何檢測角度通過實時CAD數(shù)據匹配得到實時影像

phoenix v|tome|x s

——傳感器和電氣工程

在傳感器和電子元件的檢測中，高分辨率X射線技術主要用于檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測半導體元件和電子設備（焊點），而無需拆卸設備。

1.4毫米壓接高度的微焦點計算機斷層掃描(micro ct) 壓接。為確定單線的數(shù)量和壓接密度，生成了入口區(qū)，出口區(qū)和壓接區(qū)本身（綠色）的3個層析層： 19股線進入，但只有17股線退出壓接區(qū)。

由于缺乏材料，壓接區(qū)內形成了小空洞。

phoenix v|tome|x s

-----------------特色

主要功能：

獨特的開放式納米聚焦-微米聚焦***組合是可能的（180千伏/；

    15 W高功率納米聚焦X射線管和240千伏/ 320瓦的微米聚焦管）；

高達10倍的增加的燈絲壽命，通過長壽命的|燈絲（可選）確保了長期穩(wěn)定性和***佳系統(tǒng)效率；

通過菱形|窗口（可選）以同樣的高圖像質量水平進行快達2倍的數(shù)據采集；

通過高動態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器獲取的30 FPS（幀每秒）（可選）的快速CT采集和清晰的活動影像。

測量功能：可直接在CT數(shù)據對試件進行測量。 尤其是密閉空間內尺寸，傳統(tǒng)的三坐標測量方法根本無法實現(xiàn)。西北強穿透工業(yè)CT測量

陶瓷纖維的CT圖像顯示了纖維損傷情況。東莞微納米工業(yè)CT測量

v|tome|x L 450

—— 多功能高分辨率微焦點系統(tǒng)，用于二維和三維計算機斷層掃描(micro ct)和二維無損X射線檢測

花崗巖底座，可以處理大樣本，并具有***高精度。該系統(tǒng)是用于無效和缺陷檢測和鑄件的三維測量（如首件檢測）的***佳解決方案。可選的第二種X射線管可使 v|tome|x L 450 適應任何種類的工業(yè)和科學CT應用。

射線無損檢測用于檢測鑄件和焊縫缺陷。微焦點X射線技術和工業(yè)X射線計算機斷層掃描(mico

ct)的結合，使得微米范圍內的缺陷探測成為可能，并提供低對比度缺陷的三維圖像。

鋁鑄件的三維微焦點計算機斷層掃描(micro ct)含有一些空隙率。 東莞微納米工業(yè)CT測量

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