華南微米級工業(yè)CT探傷

來源: 發(fā)布時(shí)間:2020-01-10

phoenix v|tome|x c


—— GE phoenix

v|tome|x c是一款緊湊型450 kV

CT系統(tǒng)


      專為無損檢測和質(zhì)量檢測實(shí)驗(yàn)室使用而設(shè)計(jì),應(yīng)用于鑄造與航空航天等領(lǐng)域。具有維護(hù)率低和以生產(chǎn)為導(dǎo)向的設(shè)計(jì)特點(diǎn),如簡便的裝載工具、掃描條碼等,以及新的一鍵式按鈕進(jìn)行自動(dòng)CT功能,使系統(tǒng)成為質(zhì)量檢測的一個(gè)非常高速有效的工具。 該系統(tǒng)提供檢測的樣品尺寸可以達(dá)到500×1000毫米,對于需要大功率穿透的高密度樣品可以配備450kV射線管,可配有高性能線陣列探測器,以減少扇束CT的散射輻射而造成的圖像偽影。而且,為滿足大批量檢測可配數(shù)字平板探測器與錐束CT相適應(yīng),或是配雙組合探測器組合使用。 陶瓷纖維的CT圖像顯示了纖維損傷情況。華南微米級工業(yè)CT探傷

seifert x-cube-----

CT性能下的******

組合的二維/三維(計(jì)算機(jī)斷層掃描)操作所用的新的可選升級包將X-cube轉(zhuǎn)換成一個(gè)多功能試驗(yàn)機(jī),使用三維錐形束CT進(jìn)行詳細(xì)的X射線檢測。 該采集,容積重建和可視化軟件運(yùn)行于集成計(jì)算機(jī)平臺(tái),并提供了依樣本大小而定的約0.1毫米的詳細(xì)分辨率。



應(yīng)用領(lǐng)域


X-cube可應(yīng)用于所有需要對鑄件、鋼構(gòu)件、塑料,陶瓷和特種合金進(jìn)行快速和有效的影像學(xué)檢測的工業(yè)領(lǐng)域。 其多功能性意味著它可以同樣出色地用于生產(chǎn)部門或研究和開發(fā)設(shè)施和來料檢驗(yàn)以及故障分析。

其強(qiáng)大的設(shè)計(jì)和堅(jiān)固的軟件籠使其適合用于繁忙的車間,且符合所有重要的國際安全標(biāo)準(zhǔn)。 華東工業(yè)CT測試CT技術(shù)之 – 三維尺寸測量。

seifert x-cube

高度多功能的160千伏***鏡檢測系統(tǒng),用于現(xiàn)場測試和各種小試樣的小系列檢測,包括輕金屬鑄件、鋼構(gòu)件、塑料、陶瓷和特種合金。 該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)在應(yīng)用中具有很大的靈活性,如生產(chǎn)、進(jìn)貨檢測、故障分析或研究和開發(fā)

。


憑借其集成的圖像增強(qiáng)系統(tǒng)-Seifert

VISTAPLUS-, 標(biāo)準(zhǔn)版的可編程系統(tǒng)可提供快速和***的檢測。 它可以處理重型及大型的測試樣品,且可以快速對其進(jìn)行裝卸。 易于對經(jīng)驗(yàn)證的圖像增強(qiáng)系統(tǒng)進(jìn)行操作與編程,有助于用戶準(zhǔn)確保存并做出正確的檢測決定。

phoenix v|tome|x s

——應(yīng)用案例展示 

 三維計(jì)算機(jī)斷層掃描

 工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。

 微焦點(diǎn)CT(micro

 ct)顯示一個(gè)表達(dá)式探針: 箱子的焊縫、壓接連接、探頭的幾何排列、和陶瓷傳感器的情況。

 通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)(取決于體積大小)完成更快的三維CT重建。

航空葉片二維X射線檢測,識(shí)別葉片孔隙缺陷。

v|tome|x L 300

——顧客利益:


廣泛應(yīng)用于不同樣本而無需改變X射線管

通過高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器獲取的30 FPS(幀每秒)和菱形|窗口(可選)的快速CT采集和清晰的影像

通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)(取決于體積大?。┩瓿筛斓娜SCT重建

用點(diǎn)擊&測量|CT進(jìn)行高精度且可重現(xiàn)的三維測量,使用datos | X 2.0 - 在少于1小時(shí)之內(nèi)自動(dòng)生成首件檢測記錄是可能的

高達(dá)10倍的增加的燈絲壽命,通過長壽命的|燈絲(可選)確保了長期穩(wěn)定性和***佳系統(tǒng)效率。 植入物關(guān)節(jié)尺寸測量,植入物關(guān)節(jié)缺陷檢測。北京納米級工業(yè)CT設(shè)備

CT檢測 – 軟包鋰電池。華南微米級工業(yè)CT探傷

phoenix nanotom m

------------適用于材料科學(xué)、傳感/電氣工程、測量技術(shù)、地質(zhì)/生物等領(lǐng)域


      phoenixnanotomm是一個(gè)nanoCT系統(tǒng)用于科學(xué)與工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描(microCT與nanoCT)與***樣品范圍的三維測量。憑借其專門設(shè)計(jì)的180千伏/15瓦的帶有內(nèi)部冷卻和溫度穩(wěn)定的數(shù)字檢測器的高功率納米焦點(diǎn)X射線管,系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了***的樣品和應(yīng)用范圍的獨(dú)特的空間和對比分辨率-從小的生物和地質(zhì)標(biāo)本,到中等大小的工業(yè)組件如***口或注塑成型的塑料零件-也具有金屬嵌體。CT掃描的全自動(dòng)執(zhí)行、再現(xiàn)和分析過程確保了其易用性以及快速和可靠的CT結(jié)果。一旦已掃描,全三維CT信息可使分析具 有許多可能,例如切片的無損可視化、任意剖視圖、或自動(dòng)孔隙分析。由于對物體的整個(gè)幾何形狀進(jìn)行掃描,對復(fù)雜物體進(jìn)行***且可再現(xiàn)的三維測量,以及在一個(gè)小時(shí)內(nèi)自動(dòng)生成首件檢測記錄是可能的。


華南微米級工業(yè)CT探傷

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