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v|tome|x L 450
—— 多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng),用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無(wú)損X射線檢測(cè)
花崗巖底座,可以處理大樣本,并具有***高精度。該系統(tǒng)是用于無(wú)效和缺陷檢測(cè)和鑄件的三維測(cè)量(如首件檢測(cè))的***佳解決方案。可選的第二種X射線管可使 v|tome|x L 450 適應(yīng)任何種類的工業(yè)和科學(xué)CT應(yīng)用。
鑄件與焊接射線無(wú)損檢測(cè)用于檢測(cè)鑄件和焊縫缺陷。微焦點(diǎn)X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(mico
ct)的結(jié)合,使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測(cè)成為可能,并提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像。
鋁鑄件的三維微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)含有一些空隙率。 線纜接觸效果清晰可見,納米情況下可以看到更細(xì)小的缺陷。華中原裝進(jìn)口工業(yè)CT銷售
phoenix nanome|x-------特色:
主要功能
通過(guò)***的雙向檢波器技術(shù)(數(shù)字圖像鏈與有效的溫度穩(wěn)定的30幀每秒的數(shù)字探測(cè)器)獲取的清晰的活動(dòng)影像
高放大倍率
***的操作
高度的可再現(xiàn)性
180千伏/ 15 W高功率開放納米焦點(diǎn)管具有高達(dá)200納米的細(xì)節(jié)探測(cè)能力
可升級(jí)到 nanoCTò
可選:
x|act 軟件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自動(dòng)X射線檢測(cè)(?AXI),以達(dá)到極高的缺陷覆蓋率,具有高放大倍率和可再現(xiàn)性
通過(guò)高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測(cè)器與主動(dòng)冷卻獲取的30 FPS(幀每秒)的清晰的活動(dòng)檢測(cè)影像
10秒內(nèi)的三維計(jì)算機(jī)斷層掃描
通過(guò)菱形|窗口以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集 華中強(qiáng)穿透工業(yè)CT銷售古生物頭骨經(jīng)過(guò)CT掃描之后的效果圖,對(duì)整體頭骨內(nèi)部不同結(jié)構(gòu)的密度差進(jìn)行區(qū)分。
Seifert x|blade-----工作流增強(qiáng)選件:
使用 GE 的
Flash!Filter(一種動(dòng)態(tài)調(diào)整算法,用于檢驗(yàn)影像表現(xiàn)的一致性),單擊一下即可優(yōu)化影像觀測(cè)
利用帶對(duì)比鎖定機(jī)制的軟件工具的數(shù)字參考圖像,用于根據(jù) ASTM 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)分類
集成在檢測(cè)工作流中的、配有光掃描器和識(shí)別系統(tǒng)的自動(dòng)部件識(shí)別
超快的GE
Jupiter 線陣列探測(cè)器能在每秒快速生成100幅圖像以生成二維射線圖像。通過(guò)分析這些重要的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息CT截面數(shù)據(jù),可以很容易地對(duì)特定的感興趣區(qū)域進(jìn)行**識(shí)別。
phoenix v|tome|x s
—— 多功能的高分辨率系統(tǒng),用于二維X射線檢測(cè)和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與nano ct))以及三維測(cè)量
為達(dá)到高度的靈活性,phoenix v|tome|x s可從二者中選擇裝備:180千伏/ 15 W高功率nanofocus
X射線管和240千伏/ 320瓦的微焦點(diǎn)管. 由于這種獨(dú)特的組合,該系統(tǒng)是一個(gè)非常有效且可靠的工具,廣泛應(yīng)用于對(duì)低吸收材料的極高分辨率掃描以及對(duì)高吸收物體的三維分析。
通過(guò)高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測(cè)器獲取的30 FPS(幀每秒)(可選)的快速CT采集和清晰的活動(dòng)影像
計(jì)算孔喉網(wǎng)絡(luò)模型、球棍孔隙模型,將連通不不連通孔隙、喉道予以展示,自動(dòng)計(jì)算量化數(shù)據(jù)表。phoenix microme|x
—— 主要功能
高放大倍率
***的操作
高度的可再現(xiàn)性
180千伏/ 20瓦的高功率微焦點(diǎn)管,可進(jìn)行達(dá)0.5微米的細(xì)節(jié)探測(cè)
可選:
x|act 軟件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自動(dòng)X射線檢測(cè)(?AXI),以達(dá)到極高的缺陷覆蓋率,具有高放大倍率和可再現(xiàn)性;
通過(guò)高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測(cè)器與主動(dòng)冷卻獲取的30 FPS(幀每秒)的清晰的活動(dòng)影像;
10秒內(nèi)的三維計(jì)算機(jī)斷層掃描;
通過(guò)菱形|窗口以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集。
球墨鑄鐵CT圖像觀測(cè)球化率 低球化率樣品。北京強(qiáng)穿透工業(yè)CT探傷
我們可以實(shí)現(xiàn)工業(yè) CT 和 醫(yī)用 CT 互相補(bǔ)充,促進(jìn)醫(yī)療器械的發(fā)展。華中原裝進(jìn)口工業(yè)CT銷售
v|tome|x L 450
—— 實(shí)際應(yīng)用
多功能傳感器和電氣工程
在傳感器和電子元件的檢測(cè)中,高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測(cè)和評(píng)估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測(cè)半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備(焊點(diǎn)),而無(wú)需拆卸設(shè)備。
1.4毫米壓接高度的微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro
ct) 壓接。為確定單線的數(shù)量和壓接密度,生成了入口區(qū),出口區(qū)和壓接區(qū)本身(綠色)的3個(gè)層析層:19股線進(jìn)入,但只有17股線退出壓接區(qū)。 由于缺乏材料,壓接區(qū)內(nèi)形成了小空洞。
華中原裝進(jìn)口工業(yè)CT銷售
英華檢測(cè)(上海)有限公司致力于儀器儀表,是一家貿(mào)易型公司。公司業(yè)務(wù)分為工業(yè)CT,工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)等,目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn),為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司注重以質(zhì)量為中心,以服務(wù)為理念,秉持誠(chéng)信為本的理念,打造儀器儀表良好品牌。英華檢測(cè)秉承“客戶為尊、服務(wù)為榮、創(chuàng)意為先、技術(shù)為實(shí)”的經(jīng)營(yíng)理念,全力打造公司的重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力。