顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用：1、掃描電鏡觀察生物試樣：由于電子照射面發(fā)生試樣的損傷和污染程度很小，這一點(diǎn)對觀察一些生物試樣特別重要。2、掃描電鏡進(jìn)行動態(tài)觀察：在樣品室內(nèi)裝有加熱、冷卻、彎曲、拉伸和離子刻蝕等附件，則可以通過電視裝置，觀察相變、斷烈等動態(tài)的變化過程。3、掃描電鏡觀察試樣表面形貌：掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析，以及通過電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。原位加載設(shè)備對載物臺無特殊要求，適合研究的樣品非常廣。顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：基于新的顯微觀測技術(shù)的原位加載技術(shù)在材料力學(xué)性能研究中也有采用，并且體現(xiàn)出克服原位加載體視學(xué)顯微鏡缺陷的趨勢。環(huán)境掃描電鏡所特有的低真空和環(huán)境模式，使其可以對含水試樣在自然狀態(tài)下進(jìn)行觀察，不需對試樣進(jìn)行干燥和涂層處理，避免了在觀察前使試樣產(chǎn)生的一些人為改變。因此，環(huán)境掃描電鏡對觀測含水樣品在原位加載下的細(xì)觀損傷過程有其獨(dú)特的優(yōu)勢。在環(huán)境掃描電子顯微鏡樣品艙內(nèi)低真空模式下，對魚鱗云杉微切片試樣進(jìn)行原位縱向拉伸試驗，并對原位監(jiān)測裂紋的產(chǎn)生、開裂及擴(kuò)展的全過程進(jìn)行研究，同時記錄了載荷-時間曲線。分析了徑向面裂紋擴(kuò)展系統(tǒng)的斷裂路徑和機(jī)理。顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商基于原位加載掃描電鏡研究的結(jié)果進(jìn)行深人的定量分析，可獲得更有價值的研究成果。

臺式掃描電鏡的工作原理：從原理上講，掃描電子顯微鏡是利用非常精細(xì)聚焦的高能電子束在樣品上掃描，激發(fā)各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，可以獲得對試樣表面形貌的觀察。掃描電子顯微鏡（SEM）——一種電子光學(xué)儀器，它利用很細(xì)的電子束掃描被觀察樣品的表面，收集電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的一系列電子信息，并對圖像進(jìn)行變換和放大。它是研究三維表面結(jié)構(gòu)的有用工具。在高真空鏡筒中，電子設(shè)備產(chǎn)生的電子束通過電子會聚透鏡聚焦成細(xì)束，然后逐點(diǎn)掃描轟擊樣品表面。

原位加載試驗機(jī)：配合光學(xué)顯微鏡、X射線衍射儀等微觀觀測設(shè)備，實現(xiàn)材料在加載過程中微觀組織演化規(guī)律的在線表征；可實現(xiàn)單軸單獨(dú)測試，也可以實現(xiàn)雙軸比例、非比例加載測試；可增加水浴環(huán)境，可測試材料（如水浴、腐蝕環(huán)境）下的雙軸力學(xué)性能測試；選配視頻引伸計，實現(xiàn)雙軸應(yīng)變的非接觸測量；配合自主開發(fā)的專業(yè)軟件，實現(xiàn)雙軸同步拉伸、循環(huán)、異步加載等其他試驗方案。原位加載，確保試樣中心位置不變。搭配顯微觀測設(shè)備，實現(xiàn)微觀組織在線觀測。雙軸單獨(dú)控制，可實現(xiàn)雙軸比例加載、雙軸非比例加載、單軸單獨(dú)加載。進(jìn)口高精度載荷傳感器、位移傳感器。商業(yè)化的完全自主知識產(chǎn)權(quán)的控制器、驅(qū)動器，可擴(kuò)展性。CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有實時繪制多種曲線，助力試驗研究。

原位加載微CT系統(tǒng)：在力學(xué)試驗機(jī)上設(shè)置實驗環(huán)境箱體,一對夾具的末端固定在力學(xué)試驗機(jī)的橫梁上,頭端伸入至實驗環(huán)境箱體內(nèi)夾持試樣,并通過制冷裝置和加熱裝置控制實驗環(huán)境箱體內(nèi)的環(huán)境溫度,通過測溫元件實時反饋,并配合導(dǎo)流結(jié)構(gòu)加速實驗環(huán)境箱體內(nèi)熱量的傳遞,實現(xiàn)溫度快速精確的負(fù)反饋控制,力學(xué)試驗機(jī)通過夾具對試樣進(jìn)行力學(xué)加載,同時微焦點(diǎn)X射線源通過防霧霜射線窗口對試樣進(jìn)行微CT掃描,重構(gòu)很低溫環(huán)境下試樣原位受載時內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和損傷形貌,為很低溫環(huán)境下材料失效機(jī)理和損傷演化規(guī)律的研究奠定基礎(chǔ);通過防霧霜射線窗口,避免外側(cè)窗口薄片出現(xiàn)起霧和結(jié)霜的現(xiàn)象。環(huán)境掃描電鏡對觀測含水樣品在原位加載下的細(xì)觀損傷過程有其獨(dú)特的優(yōu)勢。河南xTS原位加載系統(tǒng)多少錢

原位加載掃描電鏡技術(shù)逐漸成為材料性能研究中的一種重要技術(shù)。顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商

uTS原位加載系統(tǒng)：光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級精度測量需求。光學(xué)顯微鏡受可見光波長限制分辨率只能達(dá)到250nm，由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實現(xiàn)0.1像素位移測量，因此uTS顯微測試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。在光學(xué)顯微鏡下材料的原位加載實驗中，較大挑戰(zhàn)在于加載過程產(chǎn)生的離面位移，高分辨率位移場需要高放大倍數(shù)顯微鏡，意味著景深很小，幾微米的離面位移就會造成顯微鏡失焦。uTS顯微測試系統(tǒng)針對離面位移有特殊的設(shè)計，有效地控制了離面位移對實驗結(jié)果影響。顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商

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