北京ICT自動(dòng)化測(cè)試儀器哪里有賣

ICT測(cè)試治具檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：1.電源配線是否按+5V為2號(hào)針,+12V為15號(hào)針,+3.3V為10號(hào)針,GND為5號(hào)針；2.FIN零件,防呆針是否制成OPEN狀態(tài)；3.TJ大小是否和IC一樣大,是否壓到其他零件(大小誤差為+/-1mm；4.貼圖正看A1是否在左上方；5.彈簧是否全部為16L,彈簧深7mm；6.TestJet牛角是否70mm,鎖右上一格,缺口朝下；7.天板(厚5mm):平頭螺絲4Φ*10mm長,天板銑沉頭；8.壓棒平頭是否Φ6.3(6.0)*20mm尖頭Φ2.0mm*20mm螺絲用圓頭3Φ*15mm壓棒與零件須距2mm以上距離；9.載板是否銑凹槽提把,60*30*4(mm)；10.天板刮傷目視,例:周邊鋁柱內(nèi)不可刮傷；11.周邊是否刮除利角,需專門雙邊例角工具；12.綜合檢查外觀,包裝及標(biāo)示是否到位,是否正確,明顯。ICT治具驗(yàn)收審核標(biāo)準(zhǔn)：天板同底版結(jié)合是否穩(wěn)定壓棒分布是否合理，是否有可能壓到PCBA上零件線材。北京ICT自動(dòng)化測(cè)試儀器哪里有賣

ICT測(cè)試不良及常見故障的分析方法：A、如果測(cè)試值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了較大的偏移，而不是量測(cè)值為無窮大的情況，則可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）錯(cuò)件；（2）有內(nèi)阻的被動(dòng)組件的影響；（3）測(cè)試點(diǎn)有問題。B、如果量測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了很小的偏移，這種情況多為零件誤差引起的，但是為了準(zhǔn)確起見，較好是通過比較的方法看是否真的是由于誤差的原因而造成的量測(cè)值偏移，如果由于誤差的原因造成的話，需由工程人員作相應(yīng)的程序調(diào)整。鄭州壓床式治具直銷廠家ICT測(cè)驗(yàn)治具中所選用的板材一般有壓克力(有機(jī)玻璃)、環(huán)氧樹脂板等。

ICT測(cè)試治具中的探針如何選用？通常ICT測(cè)試治具的探針有很多的規(guī)格，針主要是由三個(gè)部份組成：一是針管，主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧，主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭，主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金，以上三個(gè)部分組裝成一種探針。選用ICT測(cè)試治具探針主要是根據(jù)線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)的開關(guān)而定，PCB板上所要測(cè)試的點(diǎn)與點(diǎn)之間越近，選用探針的外徑也就越細(xì)，國產(chǎn)的探針質(zhì)量普通還可以的。一般超過0.31含0.31毫米的國產(chǎn)探針都過關(guān)，測(cè)試次數(shù)都可以保證在20萬次到15萬次左右，雖然盡快產(chǎn)品說是100萬次，實(shí)際使用的效果也就在這個(gè)水平稍高一些而已，國產(chǎn)和進(jìn)口產(chǎn)品很大的區(qū)別是在電鍍層的耐磨性，因?yàn)獒樀牟牧隙际沁M(jìn)口原料，所以進(jìn)口和國產(chǎn)差別不大。

ICT測(cè)試治具的板材有那些呢？這對(duì)于想購買ICT測(cè)試治具的朋友來說，必須知道一些什么樣的材料可以用來制作測(cè)試治具，什么樣的板材具有一些什么樣的特殊的功能等，那么什么是ICT測(cè)試治具呢？測(cè)試治具屬于一種治具，測(cè)試治具專門用來對(duì)電子產(chǎn)品pcba產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。使用測(cè)試治具的優(yōu)點(diǎn)是如果是相同的制品，就算工人沒有非常純熟的技術(shù)，也可以迅速地借由治具生產(chǎn)大量瑕疵少、變異性低的良品。但是測(cè)試治具如果是對(duì)于多樣少量的生產(chǎn)模式，使用測(cè)試治具，反而造成生產(chǎn)成本提高的缺點(diǎn)。ict設(shè)備的功能有能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣夹畔⒁源蛴』驁?bào)表的形式提供給維修人員。

ICT測(cè)試治具的應(yīng)用：從目前應(yīng)用情況來看，采用兩種或以上技術(shù)相結(jié)合的測(cè)試策略正成為發(fā)展趨勢(shì)。因?yàn)槊恳环N技術(shù)都補(bǔ)償另一技術(shù)的缺點(diǎn)：從將AXI技術(shù)和ICT技術(shù)結(jié)合起來測(cè)試的情況來看，一方面，X射線主要集中在焊點(diǎn)的質(zhì)量。它可確認(rèn)元件是否存在，但不能確認(rèn)元件是否正確，方向和數(shù)值是否正確。另一方面，測(cè)試治具可決定元件的方向和數(shù)值但不能決定焊接點(diǎn)是否可接受，特別是焊點(diǎn)在封裝體底部的元件，如BGA、CSP等。隨著AXI技術(shù)的發(fā)展，目前AXI系統(tǒng)和ICT系統(tǒng)可以“互相對(duì)話”，這種被稱為“AwareTest”的技術(shù)能消除兩者之間的重復(fù)測(cè)試部分。通過減小ICT/AXI多余的測(cè)試覆蓋面可有效減小ICT的接點(diǎn)數(shù)量。這種簡化的測(cè)試治具只需原來測(cè)試接點(diǎn)數(shù)的30%就可以保持目前的高測(cè)試覆蓋范圍，而減少ICT測(cè)試接點(diǎn)數(shù)可縮短ICT測(cè)試時(shí)間、加快ICT編程并降低ICT夾具和編程費(fèi)用。ICT測(cè)試治具能夠?qū)χ行∫?guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試。鄭州ICT測(cè)試治具直銷廠家

ICT測(cè)試pcba電路板的優(yōu)點(diǎn)有優(yōu)良的重測(cè)性。北京ICT自動(dòng)化測(cè)試儀器哪里有賣

ICT測(cè)試治具的應(yīng)力測(cè)試為什么很重要？ICT測(cè)試治具應(yīng)力測(cè)試關(guān)系到把PCB板子固定在ICT測(cè)試治具上并進(jìn)行某項(xiàng)任務(wù)的FVT（終校核測(cè)試）。如果信息和通信技術(shù)測(cè)試夾具沒有很好的設(shè)計(jì)，它很可能有超過允許的范圍內(nèi)的應(yīng)力對(duì)印刷電路板。即使是一個(gè)很好的夾具的設(shè)計(jì)也會(huì)在印刷電路板上太長時(shí)間產(chǎn)生很大的壓力。為了找出問題，避免犯錯(cuò)誤，你可以在印刷電路板上做一個(gè)應(yīng)變測(cè)試，并測(cè)量了大應(yīng)力在產(chǎn)生高壓時(shí)的大應(yīng)力，而應(yīng)力是在允許的范圍內(nèi)。如果測(cè)得的應(yīng)力值，電路板上的允許水平力大值，您可以重新制造或ICT測(cè)試治具的設(shè)計(jì)，或根據(jù)變化過程的要求（一般是調(diào)節(jié)頂針，減少測(cè)試時(shí)，頂壓的電路板），應(yīng)變值降低到允許范圍內(nèi)。IPC/jedec-9704標(biāo)準(zhǔn)識(shí)別有缺陷的組件和ICT測(cè)試程序，并提供PCB應(yīng)變測(cè)試程序進(jìn)行了系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)。北京ICT自動(dòng)化測(cè)試儀器哪里有賣