進(jìn)行發(fā)射率測量1.將探頭放到高放射率標(biāo)定塊的位置,然后等RD1顯示的發(fā)射率數(shù)值穩(wěn)定下來;并確保RD1在“變量variable”模式下2.把探頭移動(dòng)到被測樣品上然后等待RD1的顯示數(shù)值趨于穩(wěn)定。此時(shí)顯示的數(shù)值就是該樣品發(fā)射率,不需要進(jìn)行任何計(jì)算3.當(dāng)測量未知樣品時(shí),一般我們都是采用高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)塊來校驗(yàn)下RD1,然后再測樣品的發(fā)射率;當(dāng)然設(shè)計(jì)其他一些特殊樣品,我們有其他的一些對應(yīng)方法,詳情敬請咨詢上海明策。進(jìn)行發(fā)射率測量1.將探頭放到高放射率標(biāo)定塊的位置,然后等RD1顯示的發(fā)射率數(shù)值穩(wěn)定下來;并確保RD1在“變量variable”模式下2.把探頭移動(dòng)到被測樣品上然后等待RD1的顯示數(shù)值趨于穩(wěn)定。此時(shí)顯示的數(shù)值就是該樣品發(fā)射率,不需要進(jìn)行任何計(jì)算3.當(dāng)測量未知樣品時(shí),一般我們都是采用高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)塊來校驗(yàn)下RD1,然后再測樣品的發(fā)射率;當(dāng)然設(shè)計(jì)其他一些特殊樣品,我們有其他的一些對應(yīng)方法。 便攜式反射率測定儀常溫下材料半球發(fā)射率的測定。光譜反射率發(fā)射率測量儀檢修
把該儀器放在高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體(黑體)上,設(shè)定RD1來表示發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)參數(shù);然后儀器就會(huì)根據(jù)這個(gè)標(biāo)準(zhǔn),計(jì)算并直接讀出RD1上該被測目標(biāo)的發(fā)射率。AE1測量樣品**小直徑為2.25英寸(5.7cm)??蛇x附件AE-AD1和AE-AD3探測頭能使測量樣品**小直徑為1.0英寸(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量,可以測量平行放置的多個(gè)樣品。AE1/RD1發(fā)射率測量儀精確度高,操作簡單可以快速測量,更關(guān)鍵的是性價(jià)比高。同時(shí)滿足國家規(guī)程AE1發(fā)射率測量儀服務(wù)價(jià)格電池包-為方便客戶便攜式操作,我們還提供錘電池電池版本。
3.把探頭放在高發(fā)射率標(biāo)定塊上,然后等60~90s直至RD1上的讀數(shù)穩(wěn)定。然后調(diào)節(jié)RD1上的旋鈕直至該顯示的數(shù)值和我們提供給您的高發(fā)射率標(biāo)定塊的具體發(fā)射率數(shù)值相同,我們的標(biāo)定塊的具體發(fā)射率數(shù)值有寫在它的反面同時(shí)在其校準(zhǔn)證書中也有。4.把探頭放在低發(fā)射率標(biāo)定塊上(下圖)然后等60~90s直至RD1上的讀數(shù)穩(wěn)定。然后用我們提供給您的小螺絲到調(diào)節(jié)探頭上的微調(diào)螺絲,使RD1表頭上顯示的數(shù)值直至我們提供給您的低發(fā)射率標(biāo)定塊數(shù)值相同,我們的標(biāo)定塊的具體發(fā)射率數(shù)值有寫在它的反面同時(shí)在其校準(zhǔn)證書中也有。請謹(jǐn)記需要重復(fù)循環(huán)調(diào)節(jié)高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)塊(步驟3)和低發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)(步驟4)。重復(fù)補(bǔ)償兩個(gè)調(diào)試過程,直到重復(fù)兩個(gè)標(biāo)定過程都不需要改變顯示數(shù)值時(shí),我們才能說RD1和Emissometer現(xiàn)在測出來的發(fā)射率和表頭顯示的數(shù)值才是**準(zhǔn)確的。
AE1/RD1半球發(fā)射率,測量儀*對輻射熱傳輸響應(yīng),并且輸出電壓和發(fā)射率成線性關(guān)系。D&S的標(biāo)度數(shù)字電壓表RD1是AE1輻射率儀讀數(shù)器,RD1通過可調(diào)旋鈕來設(shè)定電壓讀數(shù)和發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體的電壓一致,當(dāng)AE1測量待測樣品上時(shí),RD1就能直接讀出發(fā)射率。操作簡單,如果你想知道具體是如何操作的,可以隨時(shí)咨詢上海明策。AE1/RD1包含:AE1測量頭、兩個(gè)高發(fā)射率標(biāo)定塊、兩個(gè)低發(fā)射率標(biāo)定塊、熱沉裝置、小目標(biāo)適配器(含鋁配件)、大曲率測量適配器、通用100/240v50~60Hz電纜和電源、標(biāo)準(zhǔn)模塊化電源線、數(shù)字顯示儀表RD1、手提箱、CD、校準(zhǔn)證書、操作手冊、技術(shù)筆記、DVD教學(xué)視頻。對于小直徑圓柱形面樣品的測量,可以測量平行放置的多個(gè)樣品。如需定制測量頭,請來電垂詢價(jià)格!
發(fā)射率通過兩個(gè)步驟獲取:1.把輻射計(jì)放在高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體上,設(shè)定RD1來表示發(fā)射率;2.把輻射計(jì)放在待測樣品上并直接讀出RD1上的發(fā)射率。讀數(shù)器:D&S微型數(shù)字伏特計(jì),型號(hào)RD1.輸出:2.4毫伏→在材料發(fā)射率為0.9,材料溫度為25℃時(shí)線性關(guān)系:該測量儀輸出和發(fā)射率成線性關(guān)系,小于±0.01測量時(shí)間:10s加熱裝置:用來加熱使標(biāo)準(zhǔn)體和待測樣品溫度一致。樣品溫度:比較大130F。樣品溫度和標(biāo)準(zhǔn)體溫度必須一致。.漂移:輸出值可能隨著外界環(huán)境的變化而改變,但是這些影響在本儀器這么短的檢測時(shí)間內(nèi)可以忽略。標(biāo)準(zhǔn)體:隨機(jī)提供兩個(gè)高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體和兩個(gè)低發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體。其中一套標(biāo)準(zhǔn)體可以用來測量時(shí)使用,另一套標(biāo)準(zhǔn)體備用并作為參比。操作簡單:探測器采用電加熱設(shè)計(jì),無須加熱樣品,也不需要測量溫度?,F(xiàn)貨發(fā)射率測量儀特點(diǎn)
JG/T 235-2014 建筑反射隔熱涂料(半球發(fā)射率的測定-輻射計(jì)法)。光譜反射率發(fā)射率測量儀檢修
AE1/RD1可選配件(用于AE1型發(fā)射率計(jì))發(fā)射率測量儀適配器—型號(hào)AE-AD3。AE1和AE-AD3適配器的發(fā)射率測量可以在直徑約為1.0英寸(2.54厘米)的平坦區(qū)域進(jìn)行。典型應(yīng)用包括對材料的小樣品試樣進(jìn)行測量,并在一個(gè)較大的樣本上測量一個(gè)小的可用的平面區(qū)域。適配器可以在要測量的區(qū)域上有效阻隔1英寸高度的垂直障礙物影響。發(fā)射率測量儀適配器—型號(hào)AE-AD1。AE1和AE-AD1適配器的發(fā)射率測量儀可以實(shí)現(xiàn)在直徑為1.5英寸(3.8厘米)的平坦區(qū)域小目標(biāo)測量。典型的應(yīng)用是在太陽能吸收板上的管子進(jìn)行測量,或者測量小于直徑2.25英寸(5.7cm)的區(qū)域。發(fā)射率測量儀端口適配器—型號(hào)ADP。AE-ADP端口內(nèi)徑為1.5英寸。該模型用于測量較小的樣品尺寸,具有低導(dǎo)熱性的材料,大曲率圓柱形表面(>2英寸)粗糙或紋理表面。光譜反射率發(fā)射率測量儀檢修
上海明策電子科技有限公司致力于儀器儀表,以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)***管理的追求。明策科技擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團(tuán)隊(duì),以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供黑體校準(zhǔn)源,紅外測溫儀,高速攝像機(jī),發(fā)射率測量儀。明策科技繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路,既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長,又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。明策科技創(chuàng)始人譚廣,始終關(guān)注客戶,創(chuàng)新科技,竭誠為客戶提供良好的服務(wù)。