多端口矩陣測試信號完整性分析一致性測試

5、技術選擇

不同的驅(qū)動技術適于不同的任務。

信號是點對點的還是一點對多抽頭的？信號是從電路板輸出還是留在相同的電路板上？允許的時滯和噪聲裕量是多少？作為信號完整性設計的通用準則，轉(zhuǎn)換速度越慢，信號完整性越好。50MHZ時鐘采用500PS上升時間是沒有理由的。一個2-3NS的擺率控制器件速度要足夠快，才能保證SI的品質(zhì)，并有助于解決象輸出同步交換（SSO）和電磁兼容（EMC）等問題。在新型FPGA可編程技術或者用戶定義ASIC中，可以找到驅(qū)動技術的優(yōu)越性。采用這些定制（或者半定制）器件，你就有很大的余地選定驅(qū)動幅度和速度。設計初期，要滿足FPGA（或ASIC）設計時間的要求并確定恰當?shù)妮敵鲞x擇，如果可能的話，還要包括引腳選擇。 如何了解信號完整性分析？多端口矩陣測試信號完整性分析一致性測試

信號完整性測試方法：

-時域測試：觀察信號在時間軸上的波形，分析信號的上升時間、下降時間、瞬態(tài)響應等參數(shù)，評估信號是否存在失真。

-頻域測試：通過對信號進行傅里葉變換，將信號從時域轉(zhuǎn)換到頻域，分析信號的功率譜密度、帶寬等參數(shù)，評估信號在傳輸路徑中存在的濾波和截止頻率等問題。

-時鐘測試：通過觀察時鐘信號在傳輸路徑中的形狀和時間差異，分析時鐘信號的完整性，評估時鐘信號是否存在抖動和時鐘漂移等問題。

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室 多端口矩陣測試信號完整性分析一致性測試探索和設計信號完整性解決方案；

   信號完整性是對于電子信號質(zhì)量的一系列度量標準。在數(shù)字電路中，一串二進制的信號流是通過電壓（或電流）的波形來表示。然而，自然界的信號實際上都是模擬的，而非數(shù)字的，所有的信號都受噪音、扭曲和損失影響。在短距離、低比特率的情況里，一個簡單的導體可以忠實地傳輸信號。而長距離、高比特率的信號如果通過幾種不同的導體，多種效應可以降低信號的可信度，這樣系統(tǒng)或設備不能正常工作。信號完整性工程是分析和緩解上述負面效應的一項任務，在所有水平的電子封裝和組裝，例如集成電路的內(nèi)部連接、集成電路封裝、印制電路板等工藝過程中，都是一項十分重要的活動。信號完整性考慮的問題主要有振鈴（ringing）、串擾（crosstalk）、接地反彈、扭曲(skew)、信號損失和電源供應中的噪音。

根據(jù)上述數(shù)據(jù)，你就可以選擇層疊了。注意，幾乎每一個插入其它電路板或者背板的PCB都有厚度要求，而且多數(shù)電路板制造商對其可制造的不同類型的層有固定的厚度要求，這將會極大地約束終層疊的數(shù)目。你可能很想與制造商緊密合作來定義層疊的數(shù)目。應該采用阻抗控制工具為不同層生成目標阻抗范圍，務必要考慮到制造商提供的制造允許誤差和鄰近布線的影響。在信號完整的理想情況下，所有高速節(jié)點應該布線在阻抗控制內(nèi)層（例如帶狀線）。要使SI比較好并保持電路板去耦，就應該盡可能將接地層/電源層成對布放。如果只能有一對接地層/電源層，你就只有將就了。如果根本就沒有電源層，根據(jù)定義你可能會遇到SI問題。你還可能遇到這樣的情況，即在未定義信號的返回通路之前很難仿真或者仿真電路板的性能。常見的信號完整性測試問題；

1、設計前的準備工作在設計開始之前，必須先行思考并確定設計策略，這樣才能指導諸如元器件的選擇、工藝選擇和電路板生產(chǎn)成本控制等工作。就SI而言，要預先進行調(diào)研以形成規(guī)劃或者設計準則，從而確保設計結(jié)果不出現(xiàn)明顯的SI問題、串擾或者時序問題。（微信：EDA設計智匯館）

2、電路板的層疊某些項目組對PCB層數(shù)的確定有很大的自，而另外一些項目組卻沒有這種自，因此，了解你所處的位置很重要。其它的重要問題包括：預期的制造公差是多少？在電路板上預期的絕緣常數(shù)是多少？線寬和間距的允許誤差是多少？接地層和信號層的厚度和間距的允許誤差是多少？所有這些信息可以在預布線階段使用。 克勞德信號完整性測試理論研究；測量信號完整性分析檢修

信號完整性分析近端串擾與遠端串擾問題?多端口矩陣測試信號完整性分析一致性測試

振鈴通常是由于信號傳輸路徑過長并且阻抗不連續(xù)所引起的多次反射造成的，或者是由 于信號之間的干擾（串擾）、信號跳變所引起的電源/地波動（同步開關噪聲）造成的。

（4）邊沿單調(diào)性（Monotonicity）指信號上升或下降沿的回溝。對于邊沿判決的時鐘信號， 波形邊沿在翻轉(zhuǎn)門限電平處的非單調(diào)可能造成邏輯判斷錯誤。

邊沿單調(diào)性通常是由于信號傳輸路徑過長并且阻抗不連續(xù)所引起的反射、多負載的反射 或者驅(qū)動輸出阻抗較大（驅(qū)動過?。┧鶎е碌慕邮招盘栠^緩等引起的。 多端口矩陣測試信號完整性分析一致性測試