在進(jìn)行接收容限測(cè)試時(shí),需要用到多通道的誤碼儀產(chǎn)生帶壓力的DQ、DQS等信號(hào)。測(cè) 試 中 被 測(cè) 件 工 作 在 環(huán) 回 模 式 , D Q 引 腳 接 收 的 數(shù) 據(jù) 經(jīng) 被 測(cè) 件 轉(zhuǎn) 發(fā) 并 通 過 L B D 引 腳 輸 出 到 誤碼儀的誤碼檢測(cè)端口。在測(cè)試前需要用示波器對(duì)誤碼儀輸出的信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn),如DQS與 DQ的時(shí)延校準(zhǔn)、信號(hào)幅度校準(zhǔn)、DCD與RJ抖動(dòng)校準(zhǔn)、壓力眼校準(zhǔn)、均衡校準(zhǔn)等。圖5.21 展示了一整套DDR5接收端容限測(cè)試的環(huán)境。
DDR4/5的協(xié)議測(cè)試
除了信號(hào)質(zhì)量測(cè)試以外,有些用戶還會(huì)關(guān)心DDR總線上真實(shí)讀/寫的數(shù)據(jù)是否正確, 以及總線上是否有協(xié)議的違規(guī)等,這時(shí)就需要進(jìn)行相關(guān)的協(xié)議測(cè)試。DDR的總線寬度很 寬,即使數(shù)據(jù)線只有16位,加上地址、時(shí)鐘、控制信號(hào)等也有30多根線,更寬位數(shù)的總線甚 至?xí)玫缴习俑€。為了能夠?qū)@么多根線上的數(shù)據(jù)進(jìn)行同時(shí)捕獲并進(jìn)行協(xié)議分析,適 合的工具就是邏輯分析儀。DDR協(xié)議測(cè)試的基本方法是通過相應(yīng)的探頭把被測(cè)信號(hào)引到 邏輯分析儀,在邏輯分析儀中運(yùn)行解碼軟件進(jìn)行協(xié)議驗(yàn)證和分析。 DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的協(xié)議一致性測(cè)試和分析工具箱。吉林信號(hào)完整性測(cè)試DDR一致性測(cè)試
為了進(jìn)行更簡(jiǎn)單的讀寫分離,Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能,可以通過區(qū)域(Zone)定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開。
根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時(shí)間不同,Agilent獨(dú)有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個(gè)信號(hào)必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù),并進(jìn)一步進(jìn)行眼圖的測(cè)試。
信號(hào)的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號(hào)的眼圖分離出來。
除了形成眼圖外,我們還可以利用示波器的模板測(cè)量功能對(duì)眼圖進(jìn)行定量分析,
用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個(gè)模板對(duì)讀、寫信號(hào)進(jìn)行模板測(cè)試,如 果模板測(cè)試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 吉林信號(hào)完整性測(cè)試DDR一致性測(cè)試用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗(yàn)證的總線解碼器。
DDR簡(jiǎn)介與信號(hào)和協(xié)議測(cè)試
DDR/LPDDR簡(jiǎn)介
目前在計(jì)算機(jī)主板和各種嵌入式的應(yīng)用中,存儲(chǔ)器是必不可少的。常用的存儲(chǔ)器有兩 種: 一種是非易失性的,即掉電不會(huì)丟失數(shù)據(jù),常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-Only Memory),這種存儲(chǔ)器速度較慢,主要用于存儲(chǔ)程序代碼、文件以及長(zhǎng)久的數(shù)據(jù)信息等;另 一種是易失性的,即掉電會(huì)丟失數(shù)據(jù),常用的有RAM(Random Access Memory,隨機(jī)存儲(chǔ) 器),這種存儲(chǔ)器運(yùn)行速度較快,主要用于程序運(yùn)行時(shí)的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市 面上一些主流存儲(chǔ)器類型的劃分。
克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
一個(gè)實(shí)際的DDR4總線上的讀時(shí)序和寫時(shí)序。從兩張圖我們可 以看到,在實(shí)際的DDR總線上,讀時(shí)序、寫時(shí)序是同時(shí)存在的。而且對(duì)于讀或者寫時(shí)序來 說,DQS(數(shù)據(jù)鎖存信號(hào))相對(duì)于DQ(數(shù)據(jù)信號(hào))的位置也是不一樣的。對(duì)于測(cè)試來說,如果 沒有軟件的輔助,就需要人為分別捕獲不同位置的波形,并自己判斷每組Burst是讀操作還 是寫操作,再依據(jù)不同的讀/寫規(guī)范進(jìn)行相應(yīng)參數(shù)的測(cè)試,因此測(cè)量效率很低,而且無法進(jìn)行 大量的測(cè)量統(tǒng)計(jì)。 D9050DDRC DDR5 發(fā)射機(jī)合規(guī)性測(cè)試軟件.
為了針對(duì)復(fù)雜信號(hào)進(jìn)行更有效的讀/寫信號(hào)分離,現(xiàn)代的示波器還提供了很多高級(jí)的信號(hào) 分離功能,在DDR測(cè)試中常用的有圖形區(qū)域觸發(fā)的方法和基于建立/保持時(shí)間的觸發(fā)方法。
圖形區(qū)域觸發(fā)是指可以用屏幕上的特定區(qū)域(Zone)定義信號(hào)觸發(fā)條件。用 區(qū)域觸發(fā)功能對(duì)DDR的讀/寫信號(hào)分離的 一 個(gè)例子。用鎖存信號(hào)DQS信號(hào)觸發(fā)可以看到 兩種明顯不同的DQS波形, 一 種是讀時(shí)序的DQS波形,另 一 種是寫信號(hào)的DQS波形。打 開區(qū)域觸發(fā)功能后,通過在屏幕上的不同區(qū)域畫不同的方框,就可以把感興趣區(qū)域的DQS 波形保留下來,與之對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線DQ上的波形也就保留下來了。 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗(yàn)證的總線解碼器。吉林信號(hào)完整性測(cè)試DDR一致性測(cè)試
DDR4 一致性測(cè)試平臺(tái)插件。吉林信號(hào)完整性測(cè)試DDR一致性測(cè)試
DDR總線概覽
從測(cè)試角度看,因?yàn)镈QS和DQ都是三態(tài)信 號(hào),在PCB走線上雙向傳輸。在讀操作時(shí),DQS信號(hào)的邊沿在時(shí)序上與DQ的信號(hào)邊沿處對(duì) 齊,而在寫操作時(shí),DQS信號(hào)的邊沿在時(shí)序上與DQ信號(hào)的中心處對(duì)齊,參考圖7-132,這給 測(cè)試驗(yàn)證帶來了巨大的挑戰(zhàn):把讀信號(hào)與寫信號(hào)分開是非常困難的!
址/命令總線是時(shí)鐘的上升沿有效,其中,命令由/CS (片選)、/RAS、 /CAS、/WE (寫使能)決定,比如讀命令為L(zhǎng)HLH,寫命令為L(zhǎng)HLL等。操作命令有很多, 主要是 NOP (空操作)、Active ()、Write> Read^ Precharge (Bank 關(guān)閉)、Auto Refresh 或Self Refresh (自動(dòng)刷新或自刷新)等(詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)參考《Jedec規(guī)范JESD79)))。數(shù)據(jù)總 線由DQS的上升沿和下降沿判斷數(shù)據(jù)DQ的0與1。
DDR總線PCB走線多,速度快,時(shí)序和操作命令復(fù)雜,很容易出現(xiàn)失效問題,為此我 們經(jīng)常用示波器進(jìn)行DDR總線的信號(hào)完整性測(cè)試和分析。通常的測(cè)試內(nèi)容包括:時(shí)鐘總線的 信號(hào)完整性測(cè)試分析;地址、命令總線的信號(hào)完整性測(cè)試分析;數(shù)據(jù)總線的信號(hào)完整性測(cè)試 分析。下面從這三個(gè)方面分別討論DDR總線的信號(hào)完整性測(cè)試和分析技術(shù)。 吉林信號(hào)完整性測(cè)試DDR一致性測(cè)試