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數(shù)字信號眼圖分析

波形參數(shù)測試室數(shù)字信號測試常用的測量方法，但是隨著數(shù)字信號速率的提高，波形參數(shù)的測量方法越來越不適用，5G的信號來說，由于受到傳輸通道的損耗的影響，不同位置的信號的幅度、上升時間，脈沖寬度等都是不一樣的。不同的操作人員的波形的不同位置測量得到的結(jié)果也是不一樣的，這就使用我們必須采用別的方法對于信號的質(zhì)量進行評估，對于高速數(shù)字信號來說常用的就是眼圖的測量方法。

所謂眼圖，實際上就是高速數(shù)字信號不同位置的數(shù)據(jù)比特按照時鐘的間隔疊加在一起自然形成的一個統(tǒng)計分布圖，顯示了眼圖的形成過程。我們可以看到，隨著疊加的波形數(shù)量的增加，數(shù)字信號逐漸形成一個個類似眼睛一樣的形狀，我們把這種圖形叫作眼圖。 一種眼圖測試方法和眼圖測試系統(tǒng)？USB測試眼圖測試商家

    克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室眼圖測試其他概念編輯播報消光比消光比（ExtinctionRatio）定義為眼圖中“1”電平與“0”電平的統(tǒng)計平均的比值，其計算公式可以是如下的三種：消光比在光通信發(fā)射源的量測上是相當重要的參數(shù)，它的大小決定了通信信號的品質(zhì)。消光比越大，象征在接收機端會有越好的邏輯鑒別率；消光比越小，表示信號較易受到干擾，系統(tǒng)誤碼率會上升。消光比直接影響光接收機的靈敏度，從提高接收機靈敏度的角度希望消光比盡可能大，有利于減少功率代價。但是，消光比也不是越大越好，如果消光比太大會使激光器的圖案相關(guān)抖動增加。因此，一般的對于FP/DFB直調(diào)激光器要求消光比不小于，EML電吸收激光器消光比不小于10dB。一般建議實際消光比與比較低要求消光比大。這不是一個完全的數(shù)值，之所以給出這么一個數(shù)值是害怕消光比太高了，傳輸以后信號劣化太厲害，導(dǎo)致誤碼產(chǎn)生或通道代價超標。USB測試眼圖測試商家克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室，什么是眼圖 “眼圖就是象眼睛一樣形狀的圖形。

高速的數(shù)字信號經(jīng)過傳輸線傳輸后，信號的高頻分量會丟失，信號的邊沿會變形。如果信號的變形比較嚴重，就會影響后續(xù)信號邊沿通過閾值點的時刻，這就是碼間干擾造成的抖動。碼間干擾造成信號抖動的一個例子。在碼間干擾比較嚴重的情況下，當前比特跳沿過閾值點的時刻會和前幾個比特有關(guān)，比如前面是連續(xù)的5個連0和只有一個0對于當前比特的影響是不一樣的。

碼間干擾抖動主要是由于阻抗不匹配或者傳輸線帶寬不夠等因素引起的。由于傳輸線對于信號中不同頻率成分的損耗不一樣，所以不同碼型的變形程度可能不一樣，因而造成的碼間干擾抖動的大小也不一樣。正因為碼間干擾抖動的大小和發(fā)出的數(shù)據(jù)碼型有關(guān)，所以碼間干擾抖動屬于一種數(shù)據(jù)相關(guān)的抖動。

眼圖測量方法（傳統(tǒng)眼圖測量方法），眼圖測量方法有兩種：傳統(tǒng)眼圖測量方法用中文來理解是八個字：“同步觸發(fā)+疊加顯示”，現(xiàn)代眼圖測量方法用中文來理解也是八個字：“同步切割+疊加顯示”。兩種方法的差別就四個字：傳統(tǒng)的是用觸發(fā)的方法，現(xiàn)代的是用切割的方法?！巴健笔菧蚀_測量眼圖的關(guān)鍵，傳統(tǒng)方法和現(xiàn)代方法同步的方法是不一樣的。“疊加顯示”就是用模擬余輝的方法不斷累積顯示。傳統(tǒng)的眼圖方法就是同步觸發(fā)一次，然后疊加一次。每觸發(fā)一次，眼圖上增加了一個UI，每個UI的數(shù)據(jù)是相對于觸發(fā)點排列的，因此是每觸發(fā)一次眼圖上只增加了一個比特位。圖一形象表示了這種方法形成眼圖的過程。DDR測試USB眼圖測試設(shè)備？

新的眼圖生成方法解決了觸發(fā)抖動問題，處理UI多，因此速度也快。2.1.2.1.數(shù)據(jù)邊沿的提取數(shù)據(jù)邊沿的提取獲取捕獲數(shù)據(jù)的最大值為Max，最小值為Min，設(shè)置Threshold=0.5*(Max+Min)，當采樣點電壓值穿過Threshold時，記錄下時間為Edgetime_initial[i]，這將是后面進行理想時鐘恢復(fù)的依據(jù)。在進行數(shù)據(jù)邊沿的提取時，需要注意的是，由于采樣率有限制當碼元速率較高時，單個碼元對應(yīng)的采樣點個數(shù)較少會使得求出的Edgetime_initial值誤差較大，這時候就需要在Threshold附近進行插值。數(shù)據(jù)邊沿的提取與邊沿觸發(fā)的原理較為相似，對于Threshold附近噪聲干擾的處理方法可以參照觸發(fā)的實現(xiàn)方式。觸發(fā)粘滯比較處理如下圖所示，將比較器輸出高低電平比較信號，經(jīng)過運算處理為1個比較信號。粘滯比較器的總的規(guī)則是信號大于高電平比較為高，小于低電平比較為低，否則保持不變。

2.1.2.2.時鐘恢復(fù)時鐘恢復(fù)是眼圖抖動生成的關(guān)鍵。下圖為一個簡單的時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)CDR（ClockDataRecovery）電路示意圖。時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)電路主要完成兩個工作，一個是時鐘恢復(fù)，一個是數(shù)據(jù)重定時，也就是數(shù)據(jù)恢復(fù)。 克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室八種狀態(tài)形成的眼圖。USB測試眼圖測試商家

眼圖測試分析系統(tǒng)參數(shù)？USB測試眼圖測試商家

    對于DDR源同步操作，必然要求DQS選通信號與DQ數(shù)據(jù)信號有一定建立時間tDS和保持時間tDH要求，否則會導(dǎo)致接收鎖存信號錯誤，DDR4信號速率達到了，單一比特位寬為，時序裕度也變得越來越小，傳統(tǒng)的測量時序的方式在短時間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值，無法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動帶來的對時序惡化的貢獻，也很難準確反映隨機抖動Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動因素，基于雙狄拉克模型分解抖動和噪聲的隨機性和確定性成分，外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會在規(guī)范中明確了在DDR4中測試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓，確保滿足在Vcent周圍Tdivw時間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 USB測試眼圖測試商家