黑龍江PCI-E測試安裝

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預算在實際的測試中，為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設計了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號質量測試需要用到對應位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號質量測試需要用到CBB板；而在接收容限測試中，由于要進行全鏈路的校準，整套夾具都可能會使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。pcie物理層面檢測,pcie時序測試；黑龍江PCI-E測試安裝

測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬：41.25ps+0/—2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：46mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬：45ps+0/-2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：50mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV 校準時，信號的參數分析和調整需要反復進行，人工操作非常耗時耗力。為了解決這個 問題，接收端容限測試時也會使用自動測試軟件，這個軟件可以提供設置和連接向導、控制 誤碼儀和示波器完成自動校準、發(fā)出訓練碼型把被測件設置成環(huán)回狀態(tài)，并自動進行環(huán)回數 據的誤碼率統計。圖4 . 18是典型自動校準和接收容限測試軟件的界面，以及相應的測試遼寧PCI-E測試維修價格PCI-E 3.0測試發(fā)送端變化；

PCIe4.0標準在時鐘架構上除了支持傳統的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差，同時由于有一部分數據線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供，會對信號進行時鐘恢復、均衡以及眼圖、抖 動的分析。由于PCIe4.0的接收機支持多個不同幅度的CTLE均衡，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內調整，所以SigTest軟件會遍歷所有的CTLE值并進行DFE的優(yōu)化，并 根據眼高、眼寬的結果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號質量測試 結果。SigTest需要用戶手動設置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數據及進行后分析，測試效率 比較低，而且對于不熟練的測試人員還可能由于設置疏忽造成測試結果的不一致，測試項目 也主要限于信號質量與Preset相關的項目。為了提高PCIe測試的效率和測試項目覆蓋 率，有些示波器廠商提供了相應的自動化測試軟件。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？

這么多的組合是不可能完全通過人工設置和調整  的，必須有一定的機制能夠根據實際鏈路的損耗、串擾、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進行  自動的參數設置和調整，這就是鏈路均衡的動態(tài)協商。動態(tài)的鏈路協商在PCIe3.0規(guī)范中  就有定義，但早期的芯片并沒有普遍采用；在PCIe4.0規(guī)范中，這個要求是強制的，而且很  多測試項目直接與鏈路協商功能相關，如果支持不好則無法通過一致性測試。圖4.7是  PCIe的鏈路狀態(tài)機，從設備上電開始，需要經過一系列過程才能進入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會進行簡單的速率和位寬協商，而在Recovery階段則會進行更  加復雜的發(fā)送端預加重和接收端均衡的調整和協商。為什么PCI-E3.0開始重視接收端的容限測試？山東設備PCI-E測試

pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？黑龍江PCI-E測試安裝

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數據鏈路層(Data Link Layer)根據高速串行通信的  特點進行了重新設計，上層的事務層(Transaction)和總線拓撲都與早期的PCI類似，典型  的設備有根設備(Root Complex) 、終端設備(Endpoint), 以及可選的交換設備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設備在北橋芯片內部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe  總線協議層的結構以及相關規(guī)范涉及的主要內容。黑龍江PCI-E測試安裝