校準(zhǔn)眼圖測(cè)試檢修

一種眼圖測(cè)試方法,裝置,電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),該方法包括:獲取目標(biāo)數(shù)據(jù),并將目標(biāo)數(shù)據(jù)寫入目標(biāo)文件;將目標(biāo)文件中的寄存器數(shù)據(jù)讀取至寄存器;將寄存器中的寄存器數(shù)據(jù)刷新至內(nèi)存中,并在刷新完成后進(jìn)行眼圖測(cè)試;該方法可以將目標(biāo)文件中的寄存器數(shù)據(jù)讀取到寄存器中.通過目標(biāo)文件對(duì)目標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行中轉(zhuǎn),即數(shù)據(jù)先寫入目標(biāo)文件,再讀取至寄存器,可以實(shí)現(xiàn)在設(shè)備工作時(shí)對(duì)寄存器中的數(shù)據(jù)進(jìn)行更新,減少了對(duì)軟件的修改編譯次數(shù)和設(shè)備的重啟次數(shù),在設(shè)備不關(guān)機(jī)的情況下實(shí)時(shí)更新參數(shù),減少了眼圖測(cè)試所需的時(shí)間,提高了測(cè)試效率.基于眼圖的高速信號(hào)頻率測(cè)試方法？校準(zhǔn)眼圖測(cè)試檢修

當(dāng)數(shù)字信號(hào)疊加形成眼圖以后，為了方便地區(qū)分信號(hào)在不同位置出現(xiàn)的概率大小，更多的時(shí)候會(huì)用彩色余暉的模式進(jìn)行信號(hào)的觀察。彩色余暉就是把信號(hào)在屏幕上不同位置出現(xiàn)的概率大小用相應(yīng)的顏色表示出來，這樣可以直觀地看出信號(hào)噪聲、抖動(dòng)等的分布情況。

對(duì)于眼圖的概念，有以下幾點(diǎn)比較重要：

（1）眼圖的波形的疊加：眼圖的測(cè)量方法不是對(duì)單一波形或特定比特位置的波形參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，而是把盡可能多的波形或比特疊加在一起，這樣可以看到信號(hào)的統(tǒng)計(jì)分布情況。只有差的信號(hào)都滿足我們對(duì)于信號(hào)的基本要求，才說明信號(hào)質(zhì)量是可以接受的。 通信眼圖測(cè)試調(diào)試一種統(tǒng)計(jì)眼圖的測(cè)算方法及眼圖分析裝置？

（3）真正意義的眼圖是一時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行疊加的：眼圖測(cè)量的根本目的是判斷該數(shù)據(jù)信號(hào)相對(duì)于其時(shí)鐘信號(hào)（可能是專門的時(shí)鐘通道也可能是內(nèi)嵌的時(shí)鐘信息）的建立/保持時(shí)間窗口、采樣時(shí)的信號(hào)幅度等參數(shù)滿足標(biāo)志要求，所以眼圖測(cè)量一定要以其參考時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行信號(hào)疊加才有意義。有時(shí)用數(shù)據(jù)信號(hào)自身的邊沿觸發(fā)進(jìn)行自然疊加也能形成類似眼圖的形狀，但這不是真正意義上的眼圖。

（4）低速信號(hào)眼圖：很多速率不大太高總線也可以做眼圖測(cè)量，但由于數(shù)據(jù)比特較寬，上升時(shí)間相對(duì)于數(shù)據(jù)比特寬度占的比例很小，所以一些低速數(shù)字信號(hào)的眼圖可能比較方正或者比較規(guī)整，看起來不太像眼睛，但從物理含義上說這仍然是一種眼圖。

由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號(hào)的比特位信息，所以成為了衡量信號(hào)質(zhì)量的重要工具，眼圖測(cè)量有時(shí)侯就叫“信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”。此外，眼圖測(cè)量的結(jié)果是合格還是不合格，其判斷依據(jù)通常是相對(duì)于“模板（Mask）”而言的。模板規(guī)定了串行信號(hào)“1”電平的容限，“0”電平的容限，上升時(shí)間、下降時(shí)間的容限。所以眼圖測(cè)量有時(shí)侯又被稱為“模板測(cè)試（MaskTest）”。模板的形狀也各種各樣，通常的NRZ信號(hào)的模板如圖五和圖八藍(lán)色部分所示。在串行數(shù)據(jù)傳輸?shù)牟煌?jié)點(diǎn),眼圖的模板是不一樣的，所以在選擇模板時(shí)要注意具體的子模板類型。如果用發(fā)送端的模板來作為接收端眼圖模板，可能會(huì)一直碰模板。但象以太網(wǎng)信號(hào)、E1/T1的信號(hào)，不是NRZ碼形，其模板比較特別。當(dāng)有比特位碰到模板時(shí)，我們就認(rèn)為信號(hào)質(zhì)量不好，需要調(diào)試電路。有的產(chǎn)品要求100%不能碰模板，有的產(chǎn)品是允許碰模板的次數(shù)在一定的概率以內(nèi)。示波器中有測(cè)量參數(shù)可自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出碰到模板的次數(shù)。此外，根據(jù)“侵犯”模板的位置就能知道信號(hào)的哪方面有問題從而指導(dǎo)調(diào)試。如圖九表明信號(hào)的問題主要是下降沿太緩，圖十表明1電平和0電平有“塌陷”，可能是ISI問題導(dǎo)致的。USB2.0接口眼圖測(cè)試設(shè)備步驟？

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室眼圖測(cè)試測(cè)量方法編輯 播報(bào)眼圖測(cè)試是高速串行信號(hào)物理層測(cè)試的一個(gè)重要項(xiàng)目。眼圖是由多個(gè)比特的波形疊加后的圖形，從眼圖中可以看到:數(shù)字信號(hào)1電平、0電平，信號(hào)是否存在過沖、振鈴，抖動(dòng)是否很大，眼圖的信噪比，上升/下降時(shí)間是否對(duì)稱(占空比)。眼圖反映了大數(shù)據(jù)量時(shí)的信號(hào)質(zhì)量，可以直觀地描述高速數(shù)字信號(hào)的質(zhì)量與性能。傳統(tǒng)眼圖測(cè)量方法用中文來理解是8個(gè)字:“同步觸發(fā)+疊加顯示”，現(xiàn)代眼圖測(cè)量方法用中文來理解也是8個(gè)字:“同步切割+疊加顯示”。兩種方法的差別就4個(gè)字:觸發(fā)、切割，傳統(tǒng)的是用觸發(fā)的方法，現(xiàn)代的是用切割的方法?！巴健笔菧?zhǔn)確測(cè)量眼圖的關(guān)鍵，傳統(tǒng)方法和現(xiàn)代方法同步的方法是不一樣的?！隘B加顯示”就是用模擬余輝的方法不斷累積顯示。傳統(tǒng)的眼圖方法就是同步觸發(fā)一次，然后疊加一次。每觸發(fā)一次，眼圖上增加了一個(gè)UI，每個(gè)UI的數(shù)據(jù)是相對(duì)于觸發(fā)點(diǎn)排列的，每觸發(fā)一次眼圖上只增加了一個(gè)比特位。  深入剖析眼圖及高速串行設(shè)計(jì)中的眼圖測(cè)試？通信眼圖測(cè)試調(diào)試

眼圖是什么?通過示波器如何測(cè)量眼圖?校準(zhǔn)眼圖測(cè)試檢修

    對(duì)于DDR源同步操作，必然要求DQS選通信號(hào)與DQ數(shù)據(jù)信號(hào)有一定建立時(shí)間tDS和保持時(shí)間tDH要求，否則會(huì)導(dǎo)致接收鎖存信號(hào)錯(cuò)誤，DDR4信號(hào)速率達(dá)到了，單一比特位寬為，時(shí)序裕度也變得越來越小，傳統(tǒng)的測(cè)量時(shí)序的方式在短時(shí)間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值，無法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動(dòng)帶來的對(duì)時(shí)序惡化的貢獻(xiàn)，也很難準(zhǔn)確反映隨機(jī)抖動(dòng)Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動(dòng)因素，基于雙狄拉克模型分解抖動(dòng)和噪聲的隨機(jī)性和確定性成分，外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會(huì)在規(guī)范中明確了在DDR4中測(cè)試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓，確保滿足在Vcent周圍Tdivw時(shí)間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 校準(zhǔn)眼圖測(cè)試檢修