山西USB物理層測(cè)試聯(lián)系人

Type-C的接口是雙面的，也就是同一時(shí)刻只有TX1+/TX1一或者TX2+/TX2-引腳上會(huì)有USB3.1信號(hào)輸出，至于哪一面有信號(hào)輸出，取決于插入的方向。如圖3.18所示，默認(rèn)情況下DFP設(shè)備在CC引腳上有上拉電阻Rp,UFP設(shè)備在CC引腳上有下拉電阻Ra,根據(jù)插入的電纜方向不同，只有CCl或者CC2會(huì)有連接，通過檢測(cè)CCl或者CC2上的電壓變化，DFP和UFP設(shè)備就能感知到對(duì)端的插入從而啟動(dòng)協(xié)商過程。信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試過程中，由于被測(cè)件連接的是測(cè)試夾具，并沒有真實(shí)地對(duì)端設(shè)備插入，這就需要人為在測(cè)試夾具上模擬電阻的上下拉來(lái)欺騙被測(cè)件輸出信號(hào)USB物理層測(cè)試是否需要特定的測(cè)試環(huán)境？山西USB物理層測(cè)試聯(lián)系人

USB2.0是一種通用串行總線接口標(biāo)準(zhǔn)，被廣泛應(yīng)用于計(jì)算機(jī)和外部設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸和供電。為了確保USB2.0設(shè)備的性能和功能正常，需要進(jìn)行USB2.0測(cè)試。下面將介紹USB2.0測(cè)試的主要內(nèi)容和方法。傳輸速率測(cè)試：USB2.0的比較高傳輸速率為480Mbps，可以使用USB2.0測(cè)試儀連接計(jì)算機(jī)和USB設(shè)備，在不同數(shù)據(jù)傳輸場(chǎng)景下測(cè)試傳輸速率是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求?？梢酝ㄟ^記錄傳輸所需的時(shí)間并計(jì)算出傳輸速率來(lái)進(jìn)行測(cè)試。信號(hào)完整性測(cè)試：USB2.0設(shè)備的信號(hào)完整性對(duì)數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性至關(guān)重要。可以使用USB2.0測(cè)試儀對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試，檢查信號(hào)的幅度、波形和噪音等參數(shù)，以確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃?。?nèi)蒙古機(jī)械USB物理層測(cè)試如何測(cè)試USB 3.0接口的超級(jí)速度線纜的性能？

另外，由于5Gbps或10Gbps的信號(hào)經(jīng)過長(zhǎng)電纜和PCB傳輸以后有可能眼圖就無(wú)法張開了，所以在芯片接收端內(nèi)部會(huì)提供CTLE(連續(xù)時(shí)間線性均衡)功能以補(bǔ)償高頻損耗，因此測(cè)試時(shí)示波器的測(cè)試軟件也要能支持CTLE才能模擬出接收端對(duì)信號(hào)均衡以后的真實(shí)的結(jié)果。圖3.6是在USB3.2的規(guī)范中，分別對(duì)于Genl的5Gbps信號(hào)和Gen2的10Gbps信號(hào)CTLE的均衡器的定義。以下是USB3.x的信號(hào)測(cè)試方法相對(duì)于USB2.0的區(qū)別：(1)示波器的測(cè)試點(diǎn)在一致性電纜(compliancecable)和一致性電路板(complianceboard)之后。而以前的測(cè)試是在發(fā)送端的連接器處(如USB2.0)。(2)后處理需要使用CTLE均衡器，在均衡器后觀察和分析眼圖及其參數(shù)。(3)需要連續(xù)測(cè)量1M個(gè)UI(比特間隔)。(4)需要計(jì)算基于1.0×10-12誤碼率的DJ、RJ和TJ。

USB電纜/連接器測(cè)試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號(hào)帶寬高出很多，電纜、連接器和信號(hào)傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對(duì)支持10Gbps信號(hào)的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對(duì)于電纜來(lái)說還有一些時(shí)域參數(shù)，如差分阻抗和不對(duì)稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來(lái)測(cè)量。目前很多VNA已經(jīng)可以通過增加時(shí)域TDR選件(對(duì)頻域測(cè)試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USBType-C電纜上要測(cè)試的線對(duì)數(shù)量很多，通過模塊化的設(shè)計(jì)，VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口，因此所有差分電纜/連接器的測(cè)試項(xiàng)目都可以通過一臺(tái)多端口的VNA來(lái)完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測(cè)試夾具進(jìn)行Type-C的USB電纜測(cè)試的例子。如何測(cè)試USB 3.0接口的超速模式？

USB2.0信號(hào)完整性測(cè)試是一項(xiàng)關(guān)鍵的測(cè)試任務(wù)，用于評(píng)估USB2.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸過程中信號(hào)的質(zhì)量和穩(wěn)定性。以下是進(jìn)行USB2.0信號(hào)完整性測(cè)試的一般步驟：準(zhǔn)備測(cè)試環(huán)境：確保測(cè)試環(huán)境符合USB2.0標(biāo)準(zhǔn)要求，包括合適的計(jì)算機(jī)和USB2.0測(cè)試設(shè)備。連接USB2.0設(shè)備：將要測(cè)試的USB2.0設(shè)備連接到計(jì)算機(jī)上，并插入到USB2.0接口。選擇信號(hào)發(fā)生器：選擇合適的信號(hào)發(fā)生器，可以產(chǎn)生不同頻率和幅度的信號(hào)。設(shè)置信號(hào)參數(shù)：根據(jù)測(cè)試要求，設(shè)置所需的信號(hào)參數(shù)，包括信號(hào)頻率、幅度和波形等。連接信號(hào)發(fā)生器：將信號(hào)發(fā)生器的輸出端與待測(cè)USB2.0設(shè)備的對(duì)應(yīng)端口連接起來(lái)。測(cè)量信號(hào)質(zhì)量：使用示波器或信號(hào)分析儀等儀器，對(duì)從USB2.0設(shè)備接收到的信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。USB3.0眼圖測(cè)試方法 USB3.0物理層測(cè)試 USB3.0眼圖測(cè)試。山西USB物理層測(cè)試聯(lián)系人

USB物理層測(cè)試是否包括對(duì)引腳功能的測(cè)試？山西USB物理層測(cè)試聯(lián)系人

測(cè)試過程Tektronix示波器對(duì)于USB2.0這類接口的測(cè)試都有非常完善的測(cè)試解決方案，這些方案都是標(biāo)準(zhǔn)流程化的，只要進(jìn)入到軟件測(cè)試界面即可按照流程圖一步一步的往下進(jìn)行測(cè)試。下面是測(cè)試時(shí)的相關(guān)設(shè)置和注意事項(xiàng)：在測(cè)試前，首先要預(yù)熱、校準(zhǔn)示波器（大約20分鐘）、線纜需要做de-skew。這一步非常的關(guān)鍵，特別是線纜做de-skew，因?yàn)楹芏鄷r(shí)候線纜與線纜之間有一些偏差，如果不做de-skew就會(huì)導(dǎo)致在差分信號(hào)的正端和負(fù)端引入系統(tǒng)誤差。然后就開啟測(cè)試USB2.0軟件TDSUSB2TestApp，山西USB物理層測(cè)試聯(lián)系人