江蘇DDR一致性測(cè)試多端口矩陣測(cè)試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-07-14

DDR 規(guī)范的 DC 和 AC 特性

對(duì)于任何一種接口規(guī)范的設(shè)計(jì),首先要搞清楚系統(tǒng)中傳輸?shù)氖鞘裁礃拥男盘?hào),也就是驅(qū)動(dòng)器能發(fā)出什么樣的信號(hào),接收器能接受和判別什么樣的信號(hào),用術(shù)語講,就是信號(hào)的DC和AC特性要求。

在DDR規(guī)范文件JEDEC79R的第51頁[TABLE6:ELECTRICALCHARACTERISTICSANDDCOPERATINGCONDITIONS]中對(duì)DDR的DC有明確要求:VCC=+2.5V+0.2V,Vref=+1.25V±0.05V,VTT=Vref±0.04V.

在我們的實(shí)際設(shè)計(jì)中,除了要精確設(shè)計(jì)供電電源模塊之外,還需要對(duì)整個(gè)電源系統(tǒng)進(jìn)行PI仿真,而這是高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)中另一個(gè)需要考慮的問題,在這里我們先不討論它,暫時(shí)認(rèn)為系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的供電電源。

除DC特性外,我們還應(yīng)該注意規(guī)范中提到的AC特性,所謂AC特性,就是信號(hào)在高速利轉(zhuǎn)狀態(tài)下所表現(xiàn)出的動(dòng)態(tài)變化特性。DDR規(guī)范中第60頁,對(duì)外于云態(tài)變化的地址信號(hào)、控制信號(hào)及數(shù)據(jù)信號(hào)分別給出了交流特性的要求。為方便讀者,現(xiàn)把規(guī)范中對(duì)干信號(hào)交流特性的要求復(fù)制到這里,作為高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)的一部分,要確保在我們的系統(tǒng)中,所有處于高速工作狀態(tài)下的DDR信號(hào)要符合這個(gè)AC特性規(guī)范。 DDR5 一致性測(cè)試應(yīng)用軟件。江蘇DDR一致性測(cè)試多端口矩陣測(cè)試

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DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種: 一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒,另一 種是做成DIMM條(Dual In - line Memory Module,雙列直插內(nèi)存模塊,主要用于服務(wù)器和 PC)或SO - DIMM(Small Outline DIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存,主要用于筆記本) 的形式插  在主板上使用。

在服務(wù)器領(lǐng)域,使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒有額外驅(qū)動(dòng)電路,延時(shí)較小,但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個(gè)內(nèi)存顆粒時(shí),UDIMM需要保證CPU到每個(gè)內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等,設(shè)計(jì)難度較大,因此UDIMM在容量和頻率上都較低,通常應(yīng)用在性能/容量要求不高的場(chǎng)合。 貴州DDR一致性測(cè)試高速信號(hào)傳輸DDR原理及物理層一致性測(cè)試;

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DDR5的接收端容限測(cè)試

前面我們?cè)诮榻BUSB3 . 0、PCIe等高速串行總線的測(cè)試時(shí)提到過很多高速的串行總線 由于接收端放置有均衡器,因此需要進(jìn)行接收容限的測(cè)試以驗(yàn)證接收均衡器和CDR在惡劣 信 號(hào) 下 的 表 現(xiàn) 。 對(duì) 于 D D R 來 說 , D D R 4 及 之 前 的 總 線 接 收 端 還 相 對(duì) 比 較 簡(jiǎn) 單 , 只 是 做 一 些 匹配、時(shí)延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時(shí)代(圖5 . 19),由于信號(hào)速率更高,因此接收端也 開 始 采 用 很 多 高 速 串 行 總 線 中 使 用 的 可 變 增 益 調(diào) 整 以 及 均 衡 器 技 術(shù) , 這 也 使 得 D D R 5 測(cè) 試 中必須關(guān)注接收均衡器的影響,這是之前的DDR測(cè)試中不曾涉及的。

DDR-致性測(cè)試探測(cè)和夾具

DDR的信號(hào)速率都比較高,要進(jìn)行可靠的測(cè)量,通常推薦的探頭連接方式是使用焊接式 探頭。還有許多很難在PCB板上找到相應(yīng)的測(cè)試焊盤的情況(比如釆用盲埋孔或雙面BGA 焊接的情況),所以Agilent還提供了不同種類的BGA探頭,通過對(duì)板子做重新焊接將BGA 的Adapter焊接在DDR的memory chip和PCB板中間,并將信號(hào)引出。DDR3的 BGA探頭的焊接例子。

DDR是需要進(jìn)行信號(hào)完整性測(cè)試的總線中復(fù)雜的總線,不僅走線多、探測(cè)困難,而且 時(shí)序復(fù)雜,各種操作交織在一起。本文分別從時(shí)鐘、地址、命令、數(shù)據(jù)總線方面介紹信號(hào)完 整性一致性測(cè)試的一些要點(diǎn)和方法,也介紹了自動(dòng)化測(cè)試軟件和測(cè)試夾具,但是真正測(cè)試DDR 總線仍然是一件比較有挑戰(zhàn)的事情。 DDR、DDR2、DDR3、DDR4都有什么區(qū)別?

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測(cè)試軟件運(yùn)行后,示波器會(huì)自動(dòng)設(shè)置時(shí)基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量并匯總成一 個(gè)測(cè)試報(bào)告,測(cè)試報(bào)告中列出了測(cè)試的項(xiàng)目、是否通過、spec的要求、實(shí)測(cè)值、margin等。 自動(dòng)測(cè)試軟件進(jìn)行DDR4眼圖睜開度測(cè)量的一個(gè)例子。信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試還可以  輔 助 用 戶 進(jìn) 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 , 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對(duì)信號(hào)質(zhì) 量的影響。

除了一致性測(cè)試以外,DDR測(cè)試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個(gè)關(guān)鍵參數(shù)測(cè)試 失敗后,可以針對(duì)這個(gè)參數(shù)進(jìn)行Debug。此時(shí),測(cè)試軟件會(huì)捕獲、存儲(chǔ)一段時(shí)間的波形并進(jìn) 行參數(shù)統(tǒng)計(jì),根據(jù)統(tǒng)計(jì)結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時(shí)對(duì)應(yīng)的波形位置, 擴(kuò)展 DDR5 發(fā)射機(jī)合規(guī)性測(cè)試軟件的功能。USB測(cè)試DDR一致性測(cè)試維保

DDR 設(shè)計(jì)、測(cè)試、驗(yàn)證和一致性測(cè)試。江蘇DDR一致性測(cè)試多端口矩陣測(cè)試

為了進(jìn)行更簡(jiǎn)單的讀寫分離,Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能,可以通過區(qū)域(Zone)定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開。

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時(shí)間不同,Agilent獨(dú)有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個(gè)信號(hào)必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù),并進(jìn)一步進(jìn)行眼圖的測(cè)試。

信號(hào)的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號(hào)的眼圖分離出來。

除了形成眼圖外,我們還可以利用示波器的模板測(cè)量功能對(duì)眼圖進(jìn)行定量分析,

用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個(gè)模板對(duì)讀、寫信號(hào)進(jìn)行模板測(cè)試,如 果模板測(cè)試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 江蘇DDR一致性測(cè)試多端口矩陣測(cè)試

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