DDR測試信號完整性測試產(chǎn)品介紹

2.2TDR/TDT介紹當(dāng)?shù)诙€(gè)端口與同一傳輸線的遠(yuǎn)端相連并且是接收機(jī)時(shí)，我們稱其為時(shí)域傳輸，或TDT。圖7所示為這種結(jié)構(gòu)的示意圖。組合測量互連的TDR響應(yīng)和TDT響應(yīng)能對互連的阻抗曲線、信號的速度、信號的衰減、介電常數(shù)、疊層材料的損耗因數(shù)和互連的帶寬進(jìn)行精確表征。TDR/TDT測量結(jié)構(gòu)圖。TDR可設(shè)置用于TDR/TDT操作，其步驟是選擇TDR設(shè)置，選擇單端激勵模式，選擇更改被測件類型，然后選擇一個(gè)2-端口被測件。您可以將任何可用的通道指定給端口2或點(diǎn)擊自動連接，一種是已經(jīng)遇到了信號完整性問題，一種是將要遇到信號完整性問題。DDR測試信號完整性測試產(chǎn)品介紹

二、連續(xù)時(shí)間系統(tǒng)的時(shí)域分析1.系統(tǒng)數(shù)學(xué)模型的建立構(gòu)件的方程式的基本依據(jù)是電網(wǎng)絡(luò)的兩個(gè)約束特性。其一是元件因素特性。即表徒電路元件模型關(guān)系。其二是網(wǎng)絡(luò)拓?fù)浼s束，也即由網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)決定的各電壓電流之間的約束關(guān)系。2.零輸入響應(yīng)與零狀態(tài)響應(yīng)零輸入響應(yīng)指的是沒有外加激勵信號的作用，只有起始狀態(tài)所產(chǎn)生的響應(yīng)。以表示.零狀態(tài)響應(yīng)指的是不考慮起始狀態(tài)為零的作用，由系統(tǒng)外加激勵信號所產(chǎn)生的響應(yīng)。以表示，由公式：r（t）=+=++B（t）=+B（t）可以推出以下結(jié)論：a.自由響應(yīng)和零輸入響應(yīng)都滿足齊次方程的解。零輸入響應(yīng)的由起始儲能情況決定，而自由響應(yīng)的要同時(shí)依從始起狀態(tài)和激勵信號。b.自由響應(yīng)由兩部分組成，其中一部分由起始狀態(tài)決定，另一部分由激勵信號決定，二者都與系統(tǒng)自身參數(shù)密切關(guān)聯(lián)。c.由系統(tǒng)起始狀態(tài)無儲能，即狀態(tài)為零，則零輸入響應(yīng)為零，但自由響應(yīng)可以不為零，由激勵信號與系統(tǒng)參數(shù)共同決定。d.零輸入響應(yīng)由時(shí)刻到時(shí)刻不跳變，此時(shí)此刻若發(fā)生跳變，可能出現(xiàn)在零狀態(tài)響應(yīng)分量之中設(shè)備信號完整性測試信號完整性測試信號完整性測試所需工具說明；

第二條傳輸線中沒有過孔，這條傳輸線是一條均勻微帶。SMA加載與排前條傳輸線相同。巧合的是，盡管這是一個(gè)單端測量，但這條被測的傳輸線外還有另一條平行的傳輸線與其物理相鄰，間距約等于線寬。但是，相鄰的傳輸線上也端接了50歐姆的電阻。是否有可能另外一條跡線的逼近在某種程度上導(dǎo)致了這個(gè)波谷？如果是這樣，另一條線的哪些特征影響了波谷頻率？要回答這個(gè)問題，方法之一是為兩條耦合線的物理結(jié)構(gòu)建立一個(gè)參數(shù)化的模型，驗(yàn)證模擬的插入損耗與測得的插入損耗匹配，然后調(diào)整方面的模型，探索設(shè)計(jì)空間。

我們現(xiàn)在看一個(gè)具體示例:圖3中，兩款示波器都已設(shè)置為800mV全屏顯示。8位ADC示波器的分辨率是3.125mV，即，800mV除以28(256個(gè)量化電平)。10位ADC示波器的分辨率是0.781mV，即，800mV除以210(1024個(gè)量化電平)。計(jì)算出來的分辨率又被稱作小量化電平，在正常采集模式下，是示波器能識別的信號小變化范圍。示波器通常支持高分辨率采集模式，在該模式下，要得到正確的信號，示波器的模擬前端要能夠防混疊，且采樣率遠(yuǎn)大于實(shí)際需要的采樣率。也有的廠家采用過采樣技術(shù)配合DSP濾波器來提高示波器的垂直分辨率，然后給出一個(gè)指標(biāo)，說高分辨率模式下，其位數(shù)是多少。以In?niiumS系列示波器為例，其ADC固有分辨率是10位，高分辨率模式下是12位。高分辨率模式要求ADC實(shí)際支持的采樣率遠(yuǎn)高于被測信號測量所需的硬件帶寬。提升分辨率，可以選擇更高位數(shù)的ADC，同時(shí)示波器的垂直刻度選擇范圍要更寬?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室信號完整性使用示波器進(jìn)行波形測試；

信號完整性分析系列-第1部分：端口TDR/TDT如前文-單端口TDR所述，TDR生成與互連交互的激勵源。我們能通過一個(gè)端口測量互連上一個(gè)連接的響應(yīng)。這限制了我們只關(guān)注反射回源頭的信號。通過這類測量，我們能獲得阻抗曲線和互連屬性信息，并能提取具有離散不連續(xù)的均勻傳輸線的參數(shù)值。在TDR上添加第二個(gè)端口后，我們就能極大地?cái)U(kuò)展測量類型以及能提取的互連信息。額外的端口可用來執(zhí)行三種重要的新測量：發(fā)射的信號、耦合噪聲和差分對的差分信號或共模信號響應(yīng)。采用這些技術(shù)實(shí)現(xiàn)的重要應(yīng)用及其實(shí)例，都在本章中進(jìn)行了描述。克勞德高速數(shù)字信號的測試,主要目的是對其進(jìn)行信號完整性分析；上海信號完整性測試價(jià)格多少

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一般討論的信號完整性基本上以研究數(shù)字電路為基礎(chǔ)，研究數(shù)字電路的模擬特性。主要包含兩個(gè)方面：信號的幅度(電壓)和信號時(shí)序。

與信號完整性噪聲問題有關(guān)的四類噪聲源：1、單一網(wǎng)絡(luò)的信號質(zhì)量2、多網(wǎng)絡(luò)間的串?dāng)_3、電源與地分配中的軌道塌陷4、來自整個(gè)系統(tǒng)的電磁干擾和輻射

當(dāng)電路中信號能以要求的時(shí)序、持續(xù)時(shí)間和電壓幅度到達(dá)接收芯片管腳時(shí)，該電路就有很好的信號完整性。當(dāng)信號不能正常響應(yīng)或者信號質(zhì)量不能使系統(tǒng)長期穩(wěn)定工作時(shí)，就出現(xiàn)了信號完整性問題。信號完整性主要表現(xiàn)在延遲、反射、串?dāng)_、時(shí)序、振蕩等幾個(gè)方面。一般認(rèn)為，當(dāng)系統(tǒng)工作在50MHz時(shí)，就會產(chǎn)生信號完整性問題，而隨著系統(tǒng)和器件頻率的不斷攀升，信號完整性的問題也就愈發(fā)突出。元器件和PCB板的參數(shù)、元器件在PCB板上的布局、高速信號的布線等這些問題都會引起信號完整性問題，導(dǎo)致系統(tǒng)工作不穩(wěn)定，甚至完全不能正常工作。 DDR測試信號完整性測試產(chǎn)品介紹

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