設(shè)備眼圖測試調(diào)試

來源: 發(fā)布時間:2023-05-18

眼圖與性能的關(guān)系眼圖的"眼睛"張開的大小反映著碼間串?dāng)_的強(qiáng)弱。"眼睛"張的越大且眼圖越端正表示碼間串?dāng)_越小;反之表示碼間串?dāng)_越大。當(dāng)存在噪聲時噪聲將疊加在信號上觀察到的眼圖的線跡會變得模糊不清。若同時存在碼間串?dāng)_"眼睛"將張開得更小。與間串?dāng)_時的眼圖相比原來清晰端正的細(xì)線跡變成了比較模糊的帶狀線而且不很端正。噪聲越大線跡越寬越模糊;碼間串?dāng)_越大眼圖越不端正。理論分析得到如下幾條結(jié)論在實(shí)際應(yīng)用中要以此為參考從眼圖中對系統(tǒng)性能作一論述:(1)抽樣時刻應(yīng)在"眼睛"張開的時刻。(2)對定時誤差的靈敏度可由眼圖斜邊的斜率決定。斜率越大對定時誤差就越靈敏。(3)在抽樣時刻上眼圖上下兩分支陰影區(qū)的垂直高度表示信號畸變。(4)眼圖的橫軸位置應(yīng)對應(yīng)判決門限電平。(5)在抽樣時刻上下兩分支離門限近的一根線跡至門限的距離表示各相應(yīng)電平的噪聲容限噪聲瞬時值超過它就可能發(fā)生錯誤判決。(6)對于利用信號過零點(diǎn)取平均來得到定時信息的接收系統(tǒng)眼圖傾斜分支與橫軸相交的區(qū)域的大小表示零點(diǎn)位置的變動范圍這個變動范圍的大小對提取定時信息有重要的影響。一種眼圖測試方法,裝置,電子設(shè)備系統(tǒng)測試。設(shè)備眼圖測試調(diào)試

設(shè)備眼圖測試調(diào)試,眼圖測試

    原理描述1.眼圖的形成對于數(shù)字信號,其高電平與低電平的變化可以有多種序列組合。以3個bit為例,有000~111共8種組合。在時域上將足夠多的上述序列按某一個基準(zhǔn)點(diǎn)對齊,然后將其波形疊加起來,就形成了眼圖。2.傳統(tǒng)眼圖生成方法傳統(tǒng)眼圖生成方法原理簡單,很適合理解眼圖生成機(jī)制傳統(tǒng)的眼圖生成方法簡單描述就是“每次觸發(fā)疊加一個UI”。方法簡單,但效果并不理想。由于屏幕上的每個UI信號波形通過觸發(fā)點(diǎn)對齊,眼圖通過對信號多次觸發(fā)采集后疊加生成。這樣會導(dǎo)致儀器觸發(fā)電路的抖動成分將被引入到眼圖測量中。導(dǎo)致了測量不精確。3新的眼圖生成方法新的眼圖方法描述為“同步切割+疊加顯示”。示波器首先捕獲一組連續(xù)比特位的信號,然后用軟件PLL方法恢復(fù)出時鐘,利用恢復(fù)出的時鐘和捕獲到的信號按比特位切割,切割一次,疊加一次,將捕獲到的一組數(shù)據(jù)的每個比特位都疊加到了眼圖上。 廣東測量眼圖測試銷售電話克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室眼高意味噪聲;眼寬意味抖動。

設(shè)備眼圖測試調(diào)試,眼圖測試

產(chǎn)生抖動的原因有很多,常見的一種由于噪聲引起的。

一個帶噪聲的數(shù)字信號及其判決。一般我們把數(shù)字信號超過閾值的狀態(tài)判決為“1”,把低于閾值的狀態(tài)判決為"0",由于信號的上升沿不是無限陡的,所以噪聲會引起信號過閾值點(diǎn)時刻的左右變化,這就是由噪聲引起的信號抖動。由于噪聲是隨機(jī)的、無界的,因此造成的隨機(jī)抖動也是隨機(jī)的、無界的、也就是說理論上隨著樣本數(shù)的增加隨機(jī)抖動的峰峰值是無窮大,所以通常用隨機(jī)抖動的RMS值而不是峰峰值來衡量隨機(jī)抖動的大小。理想的隨機(jī)抖動應(yīng)該是一個高斯分布,所以有時候也會根據(jù)系統(tǒng)誤碼率的要求,對隨機(jī)抖動的RMS值乘以一個系數(shù),再和確定性抖動一起計算系統(tǒng)的總體抖動。隨機(jī)抖動的大小取決于系統(tǒng)的噪聲,和發(fā)送的碼型無關(guān),因此早期在沒有專門的抖動分解軟件時,是讓被測件產(chǎn)生一個周期性的0101的碼型來進(jìn)行隨機(jī)抖動的測試。

由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號的比特位信息,所以成為了衡量信號質(zhì)量的重要工具,眼圖測量有時侯就叫“信號質(zhì)量測試”。此外,眼圖測量的結(jié)果是合格還是不合格,其判斷依據(jù)通常是相對于“模板(Mask)”而言的。模板規(guī)定了串行信號“1”電平的容限,“0”電平的容限,上升時間、下降時間的容限。所以眼圖測量有時侯又被稱為“模板測試(MaskTest)”。模板的形狀也各種各樣,通常的NRZ信號的模板如圖五和圖八藍(lán)色部分所示。在串行數(shù)據(jù)傳輸?shù)牟煌?jié)點(diǎn),眼圖的模板是不一樣的,所以在選擇模板時要注意具體的子模板類型。如果用發(fā)送端的模板來作為接收端眼圖模板,可能會一直碰模板。但象以太網(wǎng)信號、E1/T1的信號,不是NRZ碼形,其模板比較特別。當(dāng)有比特位碰到模板時,我們就認(rèn)為信號質(zhì)量不好,需要調(diào)試電路。有的產(chǎn)品要求100%不能碰模板,有的產(chǎn)品是允許碰模板的次數(shù)在一定的概率以內(nèi)。示波器中有測量參數(shù)可自動統(tǒng)計出碰到模板的次數(shù)。此外,根據(jù)“侵犯”模板的位置就能知道信號的哪方面有問題從而指導(dǎo)調(diào)試。如圖九表明信號的問題主要是下降沿太緩,圖十表明1電平和0電平有“塌陷”,可能是ISI問題導(dǎo)致的。如何幫自己的產(chǎn)品測試眼圖。

設(shè)備眼圖測試調(diào)試,眼圖測試

 DDR眼圖測試1-3

在早期設(shè)計階段,如何完整評價DDR信號質(zhì)量和時序等參數(shù)呢,這里為大家介紹一個設(shè)計到驗(yàn)證的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具,在ADS仿真后,生成波形可以直接導(dǎo)入到運(yùn)行于電腦里的示波器離線分析軟件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性測試套件,這個軟件可以分析前面所說的JEDEC對DDR4信號要求的電氣和時序等參數(shù),判斷是否符合規(guī)范要求,以測試報告形式呈現(xiàn),這種方式可以在設(shè)計階段發(fā)現(xiàn)違規(guī)問題,及時改進(jìn)設(shè)計,縮短研發(fā)周期,降低硬件開發(fā)成本。另一方面,在硬件已經(jīng)打板回來,可以通過V系列等示波器測試信號,通過實(shí)際的信號檢查存在的問題,將仿真的結(jié)果和實(shí)際測試的結(jié)果做相關(guān)對比,進(jìn)一步迭代優(yōu)化仿真模型和測量方法,使仿真和測試結(jié)果逐漸逼近。 眼圖參數(shù)有很多,如眼高、眼寬、眼幅度、眼交叉比、“1”電平,“0”電平,消光比,Q因子,平均功率等。山西機(jī)械眼圖測試

眼圖測試系統(tǒng)的參數(shù)和含義?設(shè)備眼圖測試調(diào)試

DDR眼圖測試1-4

DDR4 做測試時,由于 BGA 信號難以探測,是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer,將 BGA 下方的信號引到 Interposer ,方便探頭焊接,為了減少 Interposer 對信號帶來影響,在 interposer 內(nèi)專門有埋阻設(shè)計,減少由于分支和走線帶來的阻抗不連續(xù)和對信號的負(fù)載效應(yīng);但為了精確測量,我們需要對 BGA Interposer 帶來的誤差進(jìn)行修正。可以通過 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性測試軟件N6462A 內(nèi)進(jìn)行去嵌,在軟件內(nèi)使用多端口拓?fù)淠P?,載入 Interposer 的S 參數(shù),生成從探頭測試點(diǎn)到 BGA 焊球位置的去嵌傳遞函數(shù),在示波器中測得去嵌后的波形,下圖可以看到去嵌后信號眼圖的改善。 設(shè)備眼圖測試調(diào)試

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