浙江DDR一致性測試配件

DDR總線上需要測試的參數(shù)高達(dá)上百個(gè)，而且還需要根據(jù)信號(hào)斜率進(jìn)行復(fù)雜的查表修 正。為了提高DDR信號(hào)質(zhì)量測試的效率，比較好使用御用的測試軟件進(jìn)行測試。使用自動(dòng) 測試軟件的優(yōu)點(diǎn)是：自動(dòng)化的設(shè)置向?qū)П苊膺B接和設(shè)置錯(cuò)誤；優(yōu)化的算法可以減少測試時(shí) 間；可以測試JEDEC規(guī)定的速率，也可以測試用戶自定義的數(shù)據(jù)速率；自動(dòng)讀/寫分離技 術(shù)簡化了測試操作；能夠多次測量并給出一個(gè)統(tǒng)計(jì)的結(jié)果；能夠根據(jù)信號(hào)斜率自動(dòng)計(jì)算建 立/保持時(shí)間的修正值。DDR4 和 LPDDR4 一致性測試軟件。浙江DDR一致性測試配件

制定DDR 內(nèi)存規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)化組織是JEDEC(Joint Electron Device Engineering  Council,)。按照J(rèn)EDEC組織的定義， DDR4 的比較高數(shù)據(jù)速率已經(jīng) 達(dá)到了3200MT/s以上，DDR5的比較高數(shù)據(jù)速率則達(dá)到了6400MT/s以上。在2016年之 前，LPDDR的速率發(fā)展一直比同一代的DDR要慢一點(diǎn)。但是從LPDDR4開始，由于高性 能移動(dòng)終端的發(fā)展，LPDDR4的速率開始趕超DDR4。LPDDR5更是比DDR5搶先一步在 2019年完成標(biāo)準(zhǔn)制定，并于2020年在的移動(dòng)終端上開始使用。DDR5的規(guī)范 (JESD79-5)于2020年發(fā)布，并在2021年開始配合Intel等公司的新一代服務(wù)器平臺(tái)走向商 用。圖5.2展示了DRAM技術(shù)速率的發(fā)展。浙江DDR一致性測試配件DDR總線一致性測試對(duì)示波器帶寬的要求；

在實(shí)際探測時(shí)，對(duì)于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(hào)(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號(hào)，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測試。DQ信 號(hào)是單端信號(hào)，所以用差分或者單端探頭測試都可以。另外，DQ信號(hào)的數(shù)量很多，雖然逐 個(gè)測試是嚴(yán)格的方法，但花費(fèi)時(shí)間較多，所以有時(shí)用戶會(huì)選擇一些有代表性的信號(hào)進(jìn)行測 試，比如選擇走線長度長、短、中間長度的DQ信號(hào)進(jìn)行測試。

還有些用戶想在溫箱里對(duì)DDR信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行測試，比如希望的環(huán)境溫度變化范圍為-40～85℃,這對(duì)于使用的示波器探頭也是個(gè)挑戰(zhàn)。 一般示波器的探頭都只能在室溫下工 作，在極端的溫度條件下探頭可能會(huì)被損壞。如果要在溫箱里對(duì)信號(hào)進(jìn)行測試，需要選擇一 些特殊的能承受高溫的探頭。比如一些特殊的差分探頭通過延長電纜可以在-55～150℃ 的溫度范圍提供12GHz的測量帶寬；還有一些寬溫度范圍的單端有源探頭，可以在-40~ 85℃的溫度范圍內(nèi)提供1.5GHz的測量帶寬。

以上只是 一 些進(jìn)行DDR讀/寫信號(hào)分離的常用方法，根據(jù)不同的信號(hào)情況可以做選 擇。對(duì)于DDR信號(hào)的 一 致性測試來說，用戶還可以選擇另外的方法，比如根據(jù)建立/保持 時(shí)間的不同進(jìn)行分離或者基于CA信號(hào)突發(fā)時(shí)延的方法(CA高接下來對(duì)應(yīng)讀操作，CA低 接下來對(duì)應(yīng)寫操作)等，甚至未來有可能采用一些機(jī)器學(xué)習(xí)(Machine Learning)的方法對(duì) 讀/寫信號(hào)進(jìn)行判別。讀時(shí)序和寫時(shí)序波形分離出來以后，就可以方便地進(jìn)行波形參數(shù)或者 眼圖模板的測量。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室 DDR3和 DDR4設(shè)計(jì)分成幾個(gè)方面：仿真、有源信號(hào)驗(yàn)證和功能測試。用于電氣物理層、協(xié)議層和功能測試解決方案。

大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時(shí)鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時(shí)鐘的上升和下降 沿都會(huì)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對(duì)于時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)是一樣的。DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗(yàn)證的總線解碼器。浙江DDR一致性測試配件

DDR時(shí)鐘總線的一致性測試。浙江DDR一致性測試配件

軟件運(yùn)行后，示波器會(huì)自動(dòng)設(shè)置時(shí)基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)并進(jìn)行測量，測量結(jié)果會(huì) 匯總成一個(gè)html格式的測試報(bào)告，報(bào)告中列出了測試的項(xiàng)目、是否通過、spec的要求、實(shí)測 值、margin等。

使用自動(dòng)測試軟件的優(yōu)點(diǎn)如下所述：

?自動(dòng)化的設(shè)置向?qū)П苊膺B接和設(shè)置錯(cuò)誤；

?快速的測量和優(yōu)化的算法減少測試時(shí)間；

?可以測試JEDEC規(guī)定的速率也可以測試用戶自定義的數(shù)據(jù)速率;

?獨(dú)有的自動(dòng)讀寫分離技術(shù)簡化了測試操作；

?能夠多次測量并給出一個(gè)統(tǒng)計(jì)的結(jié)果；

?能夠根據(jù)信號(hào)斜率自動(dòng)計(jì)算建立/保持時(shí)間的修正值。 浙江DDR一致性測試配件

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