河南DDR一致性測(cè)試維保

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-04-18

DDR時(shí)鐘總線的一致性測(cè)試

DDR總線參考時(shí)鐘或時(shí)鐘總線的測(cè)試變得越來越復(fù)雜,主要測(cè)試內(nèi)容可以分為兩方面:波形參數(shù)和抖動(dòng)。波形參數(shù)主要包括:Overshoot(過沖);Undershoot(下沖);SlewRate(斜率);RiseTime(上升時(shí)間)和FallTime(下降時(shí)間);高低時(shí)間;DutyCycle(占空比失真)等,測(cè)試較簡單,在此不再贅述。抖動(dòng)測(cè)試則越來越復(fù)雜,以前一般只是測(cè)試Cycle-CycleJitter(周期到周期抖動(dòng)),但是當(dāng)速率超過533MT/S的DDR2&3時(shí),測(cè)試內(nèi)容相當(dāng)多,不可忽略。表7-15是DDR2667的規(guī)范參數(shù)。對(duì)這些抖動(dòng)參數(shù)的測(cè)試需要用軟件實(shí)現(xiàn),比如Agilent的N5413ADDR2時(shí)鐘表征工具。測(cè)試建議用系統(tǒng)帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器,測(cè)試點(diǎn)在DIMM上靠近DRAM芯片的位置,被測(cè)系統(tǒng)建議運(yùn)行MemoryTest類的總線加壓軟件。 DDR2 和 LPDDR2 一致性測(cè)試軟件。河南DDR一致性測(cè)試維保

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DDR總線一致性測(cè)試

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線一致性測(cè)量概述

高速數(shù)字系統(tǒng)使用了各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線,對(duì)這些工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線進(jìn)行規(guī)范一致性測(cè)量是確 保系統(tǒng)工作穩(wěn)定和可靠的關(guān)鍵點(diǎn)之一。“一致性”是對(duì)英文單詞“Compliance”的中文解釋, 美國把按工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范進(jìn)行的電氣參數(shù)測(cè)量叫作一致性測(cè)量。

測(cè)試這些工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線,完整和可靠的測(cè)試方案是非常重要的。完整的測(cè)試方案不僅保證測(cè)試準(zhǔn)確度,還可以大量節(jié)省測(cè)試時(shí)間,提高工作效率。

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線完整的測(cè)試方案一般包括幾部分:測(cè)試夾具;探頭和附件;自動(dòng)測(cè)試軟件;測(cè)試儀器。 河南DDR一致性測(cè)試維保DDR眼圖測(cè)試及分析DDR穩(wěn)定性測(cè)試\DDR2一致性測(cè)試;

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相關(guān)器件的應(yīng)用手冊(cè),ApplicationNote:在這個(gè)文檔中,廠家一般會(huì)提出一些設(shè)計(jì)建議,甚至參考設(shè)計(jì),有時(shí)該文檔也會(huì)作為器件手冊(cè)的一部分出現(xiàn)在器件手冊(cè)文檔中。但是在資料的搜集和準(zhǔn)備中,要注意這些信息是否齊備。

參考設(shè)計(jì),ReferenceDesiqn:對(duì)于比較復(fù)雜的器件,廠商一般會(huì)提供一些參考設(shè)計(jì),以幫助使用者盡快實(shí)現(xiàn)解決方案。有些廠商甚至?xí)苯犹峁┰韴D,用戶可以根據(jù)自己的需求進(jìn)行更改。

IBIS 文件:這個(gè)對(duì)高速設(shè)計(jì)而言是必需的,獲得的方法前面已經(jīng)講過。

大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫,即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同,又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時(shí)鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣,而DDR SDRAM在時(shí)鐘的上升和下降 沿都會(huì)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)的跳變速率是一樣的,因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對(duì)于時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)是一樣的。DDR5 接收機(jī)一致性和表征測(cè)試應(yīng)用軟件。

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DDR規(guī)范沒有定義模板,這給用眼圖方式分析信號(hào)時(shí)判斷信號(hào)是否滿足規(guī)范要求帶來挑戰(zhàn)。有基于JEDEC規(guī)范定義的,ds、,dh、-H(ac)min和rIL(ac)max參數(shù),得出的DDR2533寫眼圖的模板,中間的區(qū)域就是模板,中間的線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿。嚴(yán)格按規(guī)范來說的話,中間的模板應(yīng)該定義為橫著的梯形,因?yàn)楸3謺r(shí)間是相對(duì)于DC參數(shù)的,不過用長方形可以定義一個(gè)更嚴(yán)格的參數(shù)要求。

DDR總線一致性測(cè)試對(duì)示波器帶寬的要求

因?yàn)镴edec規(guī)范沒有給岀DDR具體的快的上升、下降時(shí)間,通過預(yù)估的方式可以得岀 快的邊沿時(shí)間,但是往往比實(shí)際要快,是基于實(shí)際PCB板材的情況得出的結(jié)果,有 了這個(gè)結(jié)果可計(jì)算出需要的示波器帶寬。 DDR 設(shè)計(jì)和測(cè)試解決方案;湖北DDR一致性測(cè)試故障

DDR2 和 LPDDR2 電氣一致性測(cè)試應(yīng)用軟件。河南DDR一致性測(cè)試維保

DDR地址、命令總線的一致性測(cè)試

DDR的地址、命令總線的信號(hào)完整性測(cè)試主要測(cè)試其波形和時(shí)序參數(shù)。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測(cè)試的信號(hào)品質(zhì)主要包括:Vmax (最大電壓值);Vmin (小電壓值);Overshoot (過沖)和Undershoot (下沖)的持續(xù)時(shí)間的大值;Slew Rate (斜率);Ringback (回溝)等。還需要測(cè)試相對(duì)于時(shí)鐘邊沿的Setup Time (建立時(shí)間)和Hold Time (保持時(shí)間)。建立時(shí)間和保持時(shí)間的定義如圖7.134所示,其中加為建立時(shí)間,如為 保持時(shí)間,針對(duì)DDR400,加和如為0.7ns。


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