校準(zhǔn)MIPI測試PCI-E測試

移動產(chǎn)/處理器接口MIPI(mobileindustryprocessorinter-face)是為移動應(yīng)用處理器制定開放標(biāo)準(zhǔn)，旨在為移動設(shè)備內(nèi)部的攝像頭、顯示屏、射頻，基帶等提供標(biāo)準(zhǔn)化接口。它使這些設(shè)備的接口既能增加帶寬，提高性能，同時又能降低成本、復(fù)雜度、功耗以及電磁干擾。MIPI并不是一個單一的接口或協(xié)議，而是包含了一套協(xié)議和標(biāo)準(zhǔn)，以滿足各種子系統(tǒng)獨(dú)特的需求。D-PHY提供了主機(jī)和從機(jī)之間的同步物理連接。一個典型的DPHY配置包含一個時鐘通道模塊和一至四個數(shù)據(jù)通道模塊。D-PHY采用差分信號與另一端的D-PHY連通以高速傳輸圖像數(shù)據(jù)，低速傳輸控制與狀態(tài)信息則采用單端信號進(jìn)行。MIPI-DSI從機(jī)接口電路主要包括4個模塊:物理傳輸層模塊、通道管理層模塊、協(xié)議層模塊以及應(yīng)用層模塊;校準(zhǔn)MIPI測試PCI-E測試

MIPI是一個比較新的標(biāo)準(zhǔn)，其規(guī)范也在不斷修改和改進(jìn)，目前比較成熟的接口應(yīng)用有DSI(顯示接口)和CSI（攝像頭接口）。CSI/DSI分別是指其承載的是針對Camera或Display應(yīng)用，都有復(fù)雜的協(xié)議結(jié)構(gòu)。以DSI為例，其協(xié)議層結(jié)構(gòu)如下:

CSI/DSI的物理層（PhyLayer）由專門的WorkGroup負(fù)責(zé)制定，其目前的標(biāo)準(zhǔn)是D-PHY。D-PHY采用1對源同步的差分時鐘和1～4對差分?jǐn)?shù)據(jù)線來進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。數(shù)據(jù)傳輸采用DDR方式，即在時鐘的上下邊沿都有數(shù)據(jù)傳輸。

D-PHY的物理層支持HS(HighSpeed)和LP(LowPower)兩種工作模式。HS模式下采用低壓差分信號，功耗較大，但是可以傳輸很高的數(shù)據(jù)速率（數(shù)據(jù)速率為80M～1Gbps）；LP模式下采用單端信號，數(shù)據(jù)速率很低（<10Mbps），但是相應(yīng)的功耗也很低。兩種模式的結(jié)合保證了MIPI總線在需要傳輸大量數(shù)據(jù)（如圖像）時可以高速傳輸，而在不需要大數(shù)據(jù)量傳輸時又能夠減少功耗。

CSI接口

CSI-2是一個單或雙向差分串行界面，包含時鐘和數(shù)據(jù)信號。CSI-2的層次結(jié)構(gòu)：CSI-2由應(yīng)用層、協(xié)議層、物理層組成。

協(xié)議層包含三層：

像素/字節(jié)打包/解包層，

LLP(LowLevelProtocol)層， 上海MIPI測試安裝MIPI CSI/DSI的協(xié)議測試；

一般來說，比較器的失調(diào)電壓主要是由于輸入管不完全對稱引起的。當(dāng)比較器存在輸入失調(diào)時，流經(jīng)DPAIR2模塊中輸人對管的電流會不一致，從而造成流入NLOAD2模塊的電流大小也不一致。此時通過改變控制字，使itrimm電流與iconst電流大小不同，在NLOAD2模塊中通過電流鏡補(bǔ)償輸入對管引起的電流差異，使得vpp和vpn端口剩下的電流一致，從而實(shí)現(xiàn)offset補(bǔ)償。校準(zhǔn)時，將比較器差分輸入端連接到地，通過對五位控制字從00000到11111掃描，再從11111到00000掃描，觀察比較器的輸出，從而得到合適的控制字，實(shí)現(xiàn)offset校準(zhǔn)。經(jīng)仿真表明，該電路可實(shí)現(xiàn)+/-30mV的失調(diào)電壓校準(zhǔn)。

對于MIPI模組或芯片的測試可以根據(jù)MIPI協(xié)會推薦的方法設(shè)計(jì)評估板TVB(TesVehicleBoard)并結(jié)合協(xié)會提供的RTB(RefererTerminationBoard)進(jìn)行信號測試，TVB板的設(shè)計(jì)可以參考MIPI協(xié)會提供的PCB文件，根據(jù)用戶要測試的模組或芯片的具體布線要求稍作修改,目的是把被測的MIPI信號轉(zhuǎn)成標(biāo)準(zhǔn)SMA接口的輸出，并通過SMA電纜連接到RTB板上。RTB板可以從MIPI協(xié)會購買，上面除了可以引出信號到插針上方便測試以外，還可以根據(jù)HS和LP模式的不同切換負(fù)載的匹配,并根據(jù)需要模擬不同的容性負(fù)載，以方便進(jìn)行不同情況下的信號測試。而對于系統(tǒng)廠商(如手機(jī)廠商等)來說,由于系統(tǒng)設(shè)計(jì)已經(jīng)完成,要進(jìn)行MIPI的信號測試只能使用焊接或點(diǎn)測探頭連接PCB上的實(shí)際信號進(jìn)行測試，進(jìn)行系統(tǒng)間MIPD-PHY信號測試的典型連接圖。MIPI測試 D-PHY物理層自動一致性；

MIPI聯(lián)盟，即移動產(chǎn)業(yè)處理器接口(MobileIndustryProcessorInterface,簡稱MIPI)聯(lián)盟，是MIPI聯(lián)盟發(fā)起的為移動應(yīng)用處理器制定的開放標(biāo)準(zhǔn)和一個規(guī)范。

主要是手機(jī)內(nèi)部的接口（攝像頭、顯示屏接口、射頻/基帶接口）等標(biāo)準(zhǔn)化，從而減少手機(jī)內(nèi)部接口的復(fù)雜程度及增加設(shè)計(jì)的靈活性。MIPI聯(lián)盟下面有不同的工作組，分別定義的一系列手機(jī)內(nèi)部接口標(biāo)準(zhǔn)，比如攝像頭接口CSI、顯示器接口DSI、射頻接口DigRF、麥克風(fēng)/喇叭接口SLIMBUS等，優(yōu)點(diǎn)：更低功耗，更高數(shù)據(jù)傳輸數(shù)量和更小的PCB占位空間，并且專為移動設(shè)備進(jìn)行的優(yōu)化，因而更加適合移動設(shè)備的使用。工作組：MIPI聯(lián)盟下的工作組，負(fù)責(zé)具體事務(wù)；Camera工作組；DeviceDescriptorBlock工作組；DigRF工作組Display工作組高速同步接口工作組；接口管理框架工作組；低速多點(diǎn)鏈接工作組；NAND軟件工作組；軟件工作組；系統(tǒng)電源管理工作組；檢測與調(diào)試工作組；統(tǒng)一協(xié)議工作組； MIPI接口一致性測試 MIPI物理層測試 MIPI接口測試；陜西MIPI測試多端口矩陣測試

MIPI接口傳視頻速率；校準(zhǔn)MIPI測試PCI-E測試

2，MIPID-PHY測試項(xiàng)目

(1)DataLaneHS-TXDifferentialVoltages

(2)DataLaneHS-TXDifferentialVoltageMismatch

(3)DataLaneHS-TXSingle-EndedOutputHighVoltages(

4)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltages

(5)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltageMismatchΔV_CMTX(1,0)

(6)DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsBetween50-450MHz

(7)1.3.10DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsAbove450MHz

(8)DataLaneHS-TX20%-80%RiseTime

(9)DataLaneHS-TX80%-20%FallTime

(10)DataLaneHSEntry:T_LPXValue

(11)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPAREValue

(12)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPARE+T_HS-ZEROValue

(13)DataLaneHSExit:T_HS-TRAILValue

(14)DataLaneHSExit:30%-85%Post-EoTRiseTimeT_REOT

(15)DataLaneHSExit:T_EOTValue

(16)DataLaneHSExit:T_HS-EXITValue

(17)HSEntry:T_CLK-PREValue

(18)HSExit:T_CLK-POSTValue

(19)HSClockRisingEdgeAlignmenttoFirstPayloadBit

(ata-to-ClockSkew(T_SKEW[TX])

(21)ClockLaneHSClockInstantaneous:UI_INSTValue

(22)ClockLaneHSClockDeltaUI:(ΔUI)Value 校準(zhǔn)MIPI測試PCI-E測試

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