海南DDR測試PCI-E測試

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預算在實際的測試中，為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設計了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到對應位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到CBB板；而在接收容限測試中，由于要進行全鏈路的校準，整套夾具都可能會使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。PCI-E3.0設計還可以使用和PCI-E2.0一樣的PCB板材和連接器嗎？海南DDR測試PCI-E測試

按照測試規(guī)范的要求，在發(fā)送信號質(zhì)量的測試中，只要有1個Preset值下能夠通過信 號質(zhì)量測試就算過關(guān)；但是在Preset的測試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進行分析。對于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測試碼型要復雜，總共包含36個128b/130b的   編碼字。通過特殊的設計， 一致性測試碼型中包含了長“1”碼型、長“0”碼型以及重復的“01” 碼型，通過對這些碼型的計算和處理，測試軟件可以方便地進行預加重、眼圖、抖動、通道損   耗的計算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測試碼型。海南DDR測試PCI-E測試如何區(qū)分pci和pci-e(如何區(qū)分pci和pcie) ？

另外，在PCIe4 .0發(fā)送端的LinkEQ以及接收容限等相關(guān)項目測試中，都還需要用到能 與被測件進行動態(tài)鏈路協(xié)商的高性能誤碼儀。這些誤碼儀要能夠產(chǎn)生高質(zhì)量的16Gbps信  號、能夠支持外部100MHz參考時鐘的輸入、能夠產(chǎn)生PCIe測試需要的不同Preset的預加  重組合，同時還要能夠?qū)敵龅男盘栠M行抖動和噪聲的調(diào)制，并對接收回來的信號進行均 衡、時鐘恢復以及相應的誤碼判決，在進行測試之前還需要能夠支持完善的鏈路協(xié)商。17是 一 個典型的發(fā)射機LinkEQ測試環(huán)境。由于發(fā)送端與鏈路協(xié)商有關(guān)的測試項目  與下面要介紹的接收容限測試的連接和組網(wǎng)方式比較類似，所以細節(jié)也可以參考下面章節(jié)  內(nèi)容，其相關(guān)的測試軟件通常也和接收容限的測試軟件集成在一起。

在物理層方面，PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進行雙向高速傳輸，每對差分  線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的  16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電  纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如  果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù)，單Lane數(shù)據(jù)速率達到64Gbps的第6代標  準規(guī)范也在討論過程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。被測件發(fā)不出標準的PCI-E的一致性測試碼型，為什么？

當被測件進入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號后，被測件應該會把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被  正確接收，測試通過的標準是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進  行PCIe4.0的插卡接收的實際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時鐘恢復電路、預加重模塊、 參考時鐘倍頻、信號均衡電路等，非常適合速率高、要求復雜的場合。在接收端容限測試中， 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長的時  間進行Stress Eye的計算和鏈路調(diào)整，甚至無法完成校準和測試。 一般建議事先用VNA  標定和選擇好鏈路，這樣校準過程會快很多，測試結(jié)果也會更加準確。所以，在PCIe4.0的  測試中，無論是發(fā)送端測試還是接收端測試，都比較好有矢量網(wǎng)絡分析儀配合進行ISI通道  選擇。使用PCI-E協(xié)議分析儀能不能直接告訴我總線上的協(xié)議錯誤？山西PCI-E測試工廠直銷

PCI-e體系的拓撲結(jié)構(gòu);海南DDR測試PCI-E測試

雖然在編碼方式和芯片內(nèi)部做了很多工作，但是傳輸鏈路的損耗仍然是巨大的挑戰(zhàn)，特 別是當采用比較便宜的PCB板材時，就不得不適當減少傳輸距離和鏈路上的連接器數(shù)量。 在PCIe3.0的8Gbps速率下，還有可能用比較便宜的FR4板材在大約20英寸的傳輸距離 加2個連接器實現(xiàn)可靠信號傳輸。在PCle4.0的16Gbps速率下，整個16Gbps鏈路的損耗 需要控制在-28dB @8GHz以內(nèi)，其中主板上芯片封裝、PCB/過孔走線、連接器的損耗總 預算為-20dB@8GHz,而插卡上芯片封裝、PCB/過孔走線的損耗總預算為-8dB@8GHz。

整個鏈路的長度需要控制在12英寸以內(nèi)，并且鏈路上只能有一個連接器。如果需要支持更 長的傳輸距離或者鏈路上有更多的連接器，則需要在鏈路中插入Re-timer芯片對信號進行 重新整形和中繼。圖4.6展示了典型的PCle4.0的鏈路模型以及鏈路損耗的預算，圖中各 個部分的鏈路預算對于設計和測試都非常重要，對于測試部分的影響后面會具體介紹。 海南DDR測試PCI-E測試

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