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按照測試規(guī)范的要求，在發(fā)送信號質量的測試中，只要有1個Preset值下能夠通過信 號質量測試就算過關；但是在Preset的測試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進行分析。對于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測試碼型要復雜，總共包含36個128b/130b的   編碼字。通過特殊的設計， 一致性測試碼型中包含了長“1”碼型、長“0”碼型以及重復的“01” 碼型，通過對這些碼型的計算和處理，測試軟件可以方便地進行預加重、眼圖、抖動、通道損   耗的計算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測試碼型。PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？設備PCI-E測試推薦貨源

PCIe4.0標準在時鐘架構上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差，同時由于有一部分數據線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些自動化PCI-E測試價目表pcie 有幾種類型,哪個速度快?

PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進行PCIe的主板或者插卡信號的一致性測試(即信號電氣質量測試),首先需要使用PCIe協(xié)會提供的夾具把被測信號引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對于發(fā)送端信號質量測試來說，CBB用于插卡的測試，CLB用于主板的測試；但是在接收容限測試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號通過夾具連接示波器做校準，所以無論是主板還是插卡的測試，CBB和CLB都需要用到。

相應地，在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中，也會要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動傳遞函數的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時鐘，可以為一些特殊的不太方便進行參考 時鐘傳遞的應用場景(比如通過Cable連接時)提供便利，但由于收發(fā)端參考時鐘不同源，所 以對于收發(fā)端的設計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調整機制)。IR模式下 用戶可以根據需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機 抖動指標即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時鐘時的時鐘架構，以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。PCI-E測試信號質量測試；

PCIe4.0的物理層技術PCIe標準自從推出以來，1代和2代標準已經在PC和Server上使用10多年時間，正在逐漸退出市場。出于支持更高總線數據吞吐率的目的，PCI-SIG組織分別在2010年和2017年制定了PCIe3.0和PCIe4.0規(guī)范，數據速率分別達到8Gbps和16Gbps。目前，PCIe3.0和PCle4.0已經在Server及PC上使用，PCIe5.0也在商用過程中。每一代PCIe規(guī)范更新的目的，都是要盡可能在原有PCB板材和接插件的基礎上提供比前代高一倍的有效數據傳輸速率，同時保持和原有速率的兼容。別看這是一個簡單的目的，但實現起來并不容易。PCIE物理層鏈路一致性測試狀態(tài)設計；自動化PCI-E測試產品介紹

pcie4.0和pcie2.0區(qū)別？設備PCI-E測試推薦貨源

PCIe4.0的發(fā)射機質量測試發(fā)射機質量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對于PCIe的發(fā)射機質量測試來說，主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號并驗證其信號質量滿足規(guī)范要求。按照目前規(guī)范中的要求，PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對于PCIe4.0來說，由于數據速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應為25GHz或以上。如果要進行主板的測試，測試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式，即把被測的數據通道和參考時鐘同時接入示波器，這樣在進行抖動分析時就可以把一部分參考時鐘中的抖動抵消掉，對于參考時鐘Jitter的要求可以放松一些。設備PCI-E測試推薦貨源

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