在物理層方面,PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進行雙向高速傳輸,每對差分 線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的 16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電 纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求,其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如 果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率,理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外,2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù),單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo) 準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么?測量PCI-E測試代理商
在之前的PCIe規(guī)范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一個參考時鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個低抖動的時鐘源給被測件提供參考時鐘,并且只需要對 數(shù)據(jù)線進行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中,新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式,這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時鐘,但參考時鐘的 質(zhì)量不一定非常好,測試時需要把參考時鐘也引出,采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時鐘且參考時鐘也無法引出,則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式,需要另外的算法進行特殊處理。信號完整性測試PCI-E測試銷售PCI-E測試信號完整性測試解決方案;
(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時鐘模式,還提供了收發(fā)端采用參考時鐘模式的支持。通過各種信號處理技術(shù)的結(jié)合,PCIe組織總算實現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插 件的基礎(chǔ)上,每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時收/發(fā)芯片會變 得更加復(fù)雜,系統(tǒng)設(shè)計的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性, 就成為設(shè)計和測試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。
簡單總結(jié)一下,PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術(shù)上的相同點和不同點有:(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率;(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式;(3)發(fā)送端都采用3階預(yù)加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡;(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸,多1個連接器,更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應(yīng)對鏈路損耗以及不同鏈路的情況,新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都需要支持動態(tài)鏈路協(xié)商功能;我的被測件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口,怎么進行PCI-E的測試?
這么多的組合是不可能完全通過人工設(shè)置和調(diào)整 的,必須有一定的機制能夠根據(jù)實際鏈路的損耗、串?dāng)_、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進行 自動的參數(shù)設(shè)置和調(diào)整,這就是鏈路均衡的動態(tài)協(xié)商。動態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中 就有定義,但早期的芯片并沒有普遍采用;在PCIe4.0規(guī)范中,這個要求是強制的,而且很 多測試項目直接與鏈路協(xié)商功能相關(guān),如果支持不好則無法通過一致性測試。圖4.7是 PCIe的鏈路狀態(tài)機,從設(shè)備上電開始,需要經(jīng)過一系列過程才能進入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會進行簡單的速率和位寬協(xié)商,而在Recovery階段則會進行更 加復(fù)雜的發(fā)送端預(yù)加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。PCIE物理層鏈路一致性測試狀態(tài)設(shè)計;黑龍江PCI-E測試規(guī)格尺寸
PCI-E測試和協(xié)議調(diào)試;測量PCI-E測試代理商
PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似,都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號引出接入示波器進行發(fā)送信號質(zhì)量測試,并通過誤碼儀的配合進行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別,下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進行描述。
PCIe5.0發(fā)送端信號質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號測試,協(xié)會建議的測試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對于主板和插卡來說,由于測試點是在連接器的金手指處,信號經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會變緩一些,所以信號質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是,在接收端容限測試中,由于需要用示波器對誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn),所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會用到50GHz。 測量PCI-E測試代理商
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