對于做汽車電子硬件設計的工程師來說，ISO7627-2這個標準是***不會陌生，這個測試項目就是電源線瞬態(tài)傳導抗擾度，只因為電源線瞬態(tài)傳導抗擾度的這幾個測試波形太出名了，分別是波形1，2a，2b，3a，3b，4，5a，5b（如下截圖是從ISO7637-2 2004版中截取的，在2011版的ISO7637中波形1和2a這兩個的測試脈沖數(shù)已經改成500了）。對于從1到4的幾個波形，基本上都是一些時間極短的脈沖，雖然正負電壓的幅值很高，但是能量很小，基本上電路上不用做太多特殊的防護，單靠一般的電源芯片的電氣特性就能防護下來，而對5a，5b波形，就需要做專門的應對了，而應對方法就是增加一個防浪涌的TVS管了。TVS是一種過壓保護器件，一般用于低壓直流電源保護。3RTVS通流量
比較大箝拉電壓VC和比較大峰值脈沖電流IPP當持續(xù)時間為20微秒的脈沖峰值電流IPP流過TVS時，在其兩極間出現(xiàn)的比較大峰值電壓為VC。它是串聯(lián)電阻上和因溫度系數(shù)兩者電壓上升的組合。VC、IPP反映TVS器件的浪涌抑制能力。VC與VBR之比稱為箝位因子，一般在1.2~1.4之間。電容量C電容量C是TVS雪崩結截面決定的、在特定的1MHZ頻率下測得的。C的大小與TVS的電流承受能力成正比，C過大將使信號衰減。因此，C是數(shù)據(jù)接口電路選用TVS的重要參數(shù)。。。。江蘇盾形TVS選型來明電子可為客戶國產替代TVS產品。
TVS管在穩(wěn)壓管工藝基礎上發(fā)展起來的新產品，是一種新型的高效電路保護器件之一，具有P秒級的響應時間和高浪涌吸收能力；而穩(wěn)壓二極管，利用pn結反向擊穿狀態(tài)，在電流變化范圍內，保持電壓穩(wěn)定所研發(fā)出來穩(wěn)壓作用的二極管。共同點：在一定范圍內，能限制兩端的電壓；長時間運作耐流值幾乎一樣，均跟體積功耗相關聯(lián)。工作原理不同：tvs管：雪崩效應，在高能量的瞬時過壓脈沖時，阻抗能立馬降低到很低的導通值，允許較大電流通過，并將電壓箝制到預定水平，避免電路中的精密元器件免受損壞。 穩(wěn)壓管：齊納隧道效應，當反向電壓達到并超過穩(wěn)定電壓時，反向電流突然增大，而二極管兩端電壓恒定。
TVS 臺面缺陷造成的失效常常是批次性的。 TVS 制造工藝過程中造成芯片臺面損傷的原因主要有兩個:1)芯片在酸蝕成型時，由于氫氟酸、硝酸混合液配方過濃或溫度過高而反應劇烈。2、燒焊過后進行堿腐蝕清洗時，腐蝕液濃度過大、溫度過高而造成堿腐蝕清洗過重。臺面缺陷或損傷的TVS 器件經過溫度循環(huán)和箝位沖擊等篩選試驗后，進行電參數(shù)測試時通常表現(xiàn)為短路或擊穿特性異常，從而被剔除。但輕微臺面損傷的TVS 器件在篩選后電參數(shù)測試時不易被發(fā)現(xiàn)，可能被列為良品出廠。這些TVS 器件在使用過程中經受長時間熱、電、機械等應力的作用后，臺面缺陷加劇，在缺陷處形成載流子產生-復合中心，使表面反向漏電流**增加。大的表面反向漏電流使pn 結邊緣溫度升高，產生熱電綜合效應，**終導致pn結邊緣半導體材料溫度過高燒毀。TVS array是將小功率TVS與二極管通過電路設計包封在特定封裝內具有特定功能的器件.
實際產品中，**常用的浪涌測試波形為1.2/50us和10/700us，如何將TVS承受浪涌功率從10/1000us波形下?lián)Q算到其他波形呢，這就需要看Spec中的另一個曲線圖：通過上圖可以查出，1.2/50us波形所對應脈沖寬度50us，對應峰值功率為2200W左右。那么這種情況下，反算脈沖峰值電流為2200W/24.4V=90.16A。如果SMBJ15A放在電源端口，在共模時，浪涌發(fā)生器內阻為12歐姆，那么所能承受的電壓為：90.16A*12ohm=1082V;如果SMBJ15A放在電源端口，在差模時，浪涌發(fā)生器內阻為2歐姆，那么所能承受的電壓為：90.16A*2ohm=180.3V;如果SMBJ15A放在非對稱信號端口，無論差模共模，浪涌發(fā)生器內阻為42歐姆，那么所能承受的電壓為：90.16A*42ohm=3786.9V。從上面我們可以看出，一個TVS所能承受的比較大浪涌電壓，不僅與自身的參數(shù)相關(比較大承受功率、鉗位電壓等)，也和其在電路的位置息息相關(浪涌發(fā)生器的內阻值非常重要)。TVS的結電容與TVS的工作電壓成反比，工作電壓越低，結電容也越大。北京三端TVS電壓
來明電子可提供批量TVS產品，具有較高的性價比。3RTVS通流量
TVS長時間工作耗損對篩選合格的TVS器件進行浪涌壽命試驗，發(fā)現(xiàn)TVS器件經過成千上萬次標準指數(shù)脈沖(所能承受的浪涌脈沖次數(shù)與質量等級相關)沖擊后失效，失效模式通常為短路。對失效樣品進行解剖后，在掃描電鏡下觀察芯片，發(fā)現(xiàn)結邊緣發(fā)生熔融現(xiàn)象和結邊緣焊料結構發(fā)生了變化，且結**邊緣處**為嚴重。失效機理可能結邊緣焊料形成金屬化合物而脆化，使管芯與底座熱沉逐漸分離，結邊緣的散熱能力降低，長時間工作結溫持續(xù)增大導致過熱燒毀。3RTVS通流量
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