重慶400W瞬態(tài)抑制二極管

來源: 發(fā)布時間:2023-04-24

長時間工作耗損對篩選合格的TVS器件進行浪涌壽命試驗,發(fā)現(xiàn)TVS器件經(jīng)過成千上萬次標準指數(shù)脈沖(所能承受的浪涌脈沖次數(shù)與質(zhì)量等級相關(guān))沖擊后失效,失效模式通常為短路。對失效樣品進行解剖后,在掃描電鏡下觀察芯片,發(fā)現(xiàn)結(jié)邊緣發(fā)生熔融現(xiàn)象和結(jié)邊緣焊料結(jié)構(gòu)發(fā)生了變化,且結(jié)**邊緣處**為嚴重。失效機理可能結(jié)邊緣焊料形成金屬化合物而脆化,使管芯與底座熱沉逐漸分離,結(jié)邊緣的散熱能力降低,長時間工作結(jié)溫持續(xù)增大導(dǎo)致過熱燒毀。SMAJ、SMBJ、SMCJ、SMDJ表示貼片封裝,分別**400W、600W、1.5kW和3kW。重慶400W瞬態(tài)抑制二極管

單向TVS的V-I特性,單向TVS的正向特性與普通穩(wěn)壓二極管相同,反向擊穿拐點近似“直角”為硬擊穿,為典型的PN結(jié)雪崩器件。雙向TVS的V-I特性,具有雙向?qū)ΨQ性,雙向TVS的V-I特性曲線如同兩只單向TVS“背靠背”組合,其正反兩個方向都具有相同的雪崩擊穿特性和箝位特性,正反兩面擊穿電壓的對稱關(guān)系為:0.9≤V(BR)(正)/V(BR)(反)≤1.1,一旦加在它兩端的干擾電壓超過箝位電壓Vc就會立刻被抑制掉,雙向TVS在交流回路應(yīng)用十分方便。。重慶400W瞬態(tài)抑制二極管當瞬態(tài)脈沖能量超過 TVS 所能承受能量時會引起 TVS 器件過電應(yīng)力損傷。

TVS被廣泛應(yīng)用于各類電子電路中,包括計算機系統(tǒng)、通訊設(shè)備、交/直流電源、汽車、電子鎮(zhèn)流器、家用電器、儀器儀表(電度表),RS232/422/423/485、I/O、LAN、ISDN、ADSL、USB、MP3、PDAS、GPS、CDMA、GSM、數(shù)字照相機的保護、共模/差模保護、RF耦合/IC驅(qū)動接收保護、電機電磁波干擾抑制、聲頻/視頻輸入、傳感器/變速器、工控回路、繼電器、接觸器噪音的抑制等各個領(lǐng)域。當TVS管兩端經(jīng)受瞬間的高能量沖擊時,它能以極高的速度(比較高達1/(10^12)秒)使其阻抗驟然降低,同時吸收一個大電流,將其兩端間的電壓箝位在一個預(yù)定的數(shù)值上,從而確保后面的電路元件免受瞬態(tài)高能量的沖擊而損壞。如果是使用的話,TVS有二極管類,和壓敏電阻類。我個人認為壓敏電阻類更有優(yōu)勢,***用于手機,LCD模組,及一些比較精密的手持設(shè)備。特別是出口歐洲的產(chǎn)品一般都要加,來作為靜電防護的主要手段之一。

當PN結(jié)的反向偏壓較高時,會發(fā)生由于碰撞電離引發(fā)的電擊穿,即雪崩擊穿。存在于半導(dǎo)體晶體中的自由載流子在耗盡區(qū)內(nèi)建電場的作用下被加速其能量不斷增加,直到與半導(dǎo)體晶格發(fā)生碰撞,碰撞過程釋放的能量可能使價鍵斷開產(chǎn)生新的電子空穴對。新的電子空穴對又分別被加速與晶格發(fā)生碰撞,如果平均每個電子(或空穴)在經(jīng)過耗盡區(qū)的過程中可以產(chǎn)生大于1對的電子空穴對,那么該過程可以不斷被加強,**終達到耗盡區(qū)載流子數(shù)目激增,PN結(jié)發(fā)生雪崩擊穿。SMA/DO-214AC封裝的TVS一般有MAJ,P4SMA,TPSMAJ,SMA6J等系列。

對于接口電路來說,為了保護我們的內(nèi)部電路,都會在信號進入到電路板的連接器處增加TVS,而TVS是由二極管構(gòu)成的,是二極管就會有結(jié)電容,結(jié)電容的大小會對信號造成一定的影響,特別是高速信號,而這里給出了建議的結(jié)電容大小,以使對信號的影響盡可能的降低,保證能正常的通信。以下對各接口的結(jié)電容建議:GPIO接口結(jié)電容<30pF,pushbutton<30pF,Audio<10pF,USB2.0<2.5pF,USB3.0<0.5pF,USB3.1gen2<0.3pF,HDMI1.4<0.7pF,HDMI2.0<0.5pF,天線<0.2pF。瞬態(tài)電壓抑制二極管簡稱TVS,是一種二極管形式的高效能保護器件。四川5000W瞬態(tài)抑制二極管失效

做到 TVS 的正確選型與安裝,比較好對 TVS 進行降額使用,這樣可使 TVS 承受的功率較小。重慶400W瞬態(tài)抑制二極管

引發(fā)TVS短路的**典型的原因是管芯與內(nèi)引線組件、底座銅片燒結(jié)不良,在燒結(jié)界面出現(xiàn)大面積空洞,空洞可能是由于焊料不均勻或粘結(jié)界面各層材料玷污、氧化使焊料沾潤不良,造成燒焊時焊料與芯片或金屬電極沒有良好的熔合焊接引起的??斩疵娣e較大時,電流在燒結(jié)點附近匯聚,管芯散熱困難,造成熱電應(yīng)力集中,產(chǎn)生局部熱點,嚴重時引起熱奔,使器件燒毀。對這些燒毀的器件。進行解剖分析,可以看到有芯片局部較深的熔融:空洞面積較小時,可加速焊料熱疲勞,使焊料層會產(chǎn)生疲勞龜裂,引起器件熱阻增大,**終導(dǎo)致器件。過熱燒毀。重慶400W瞬態(tài)抑制二極管

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