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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2020-02-04

PCB設(shè)計(jì)的原件封裝:(1)焊盤間距。如果是新的器件,要自己畫元件封裝,保證間距合適。焊盤間距直接影響到元件的焊接。(2)過(guò)孔大?。ㄈ绻校?。對(duì)于插件式器件,過(guò)孔大小應(yīng)該保留足夠的余量,一般保留不小于0.2mm比較合適。(3)輪廓絲印。器件的輪廓絲印比較好比實(shí)際大小要大一點(diǎn),保證器件可以順利安裝。PCB設(shè)計(jì)的布局(1)IC不宜靠近板邊。(2)同一模塊電路的器件應(yīng)靠近擺放。比如去耦電容應(yīng)該靠近IC的電源腳,組成同一個(gè)功能電路的器件應(yīng)優(yōu)先擺放在同一個(gè)區(qū)域,層次分明,保證功能的實(shí)現(xiàn)。(3)根據(jù)實(shí)際安裝來(lái)安排插座位置。插座都是通過(guò)引線連接到其他模塊的,根據(jù)實(shí)際結(jié)構(gòu),為了安裝方便,一般采用就近原則安排插座位置,而且一般靠近板邊。(4)注意插座方向。插座都是有方向的,方向反了,線材就要重新定做。對(duì)于平插的插座,插口方向應(yīng)朝向板外。(5)KeepOut區(qū)域不能有器件。(6)干擾源要遠(yuǎn)離敏感電路。高速信號(hào)、高速時(shí)鐘或者大電流開(kāi)關(guān)信號(hào)都屬于干擾源,應(yīng)遠(yuǎn)離敏感電路(如復(fù)位電路、模擬電路)??梢杂娩伒貋?lái)隔開(kāi)它們。還在為PCB設(shè)計(jì)版圖而煩惱?幫您解決此困擾!出樣速度快,價(jià)格優(yōu)惠,歡迎各位老板電話咨詢!pcb價(jià)格咨詢

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能夠讓測(cè)試用的探針觸碰到這種小一點(diǎn),而無(wú)需直接接觸到這些被測(cè)量的電子零件。初期在電路板上面還全是傳統(tǒng)式軟件(DIP)的時(shí)代,確實(shí)會(huì)拿零件的焊孔來(lái)作為測(cè)試點(diǎn)來(lái)用,由于傳統(tǒng)式零件的焊孔夠健壯,不害怕針刺,但是常常會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的錯(cuò)判情況產(chǎn)生,由于一般的電子零件歷經(jīng)波峰焊機(jī)(wavesoldering)或者SMT吃錫以后,在其焊錫絲的表層一般都是會(huì)產(chǎn)生一層助焊膏助焊劑的殘余塑料薄膜,這層塑料薄膜的特性阻抗十分高,經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致探針的接觸不良現(xiàn)象,因此那時(shí)候常常由此可見(jiàn)生產(chǎn)線的測(cè)試操作工,常常拿著氣體噴漆拼了命的吹,或者拿酒精擦拭這種必須測(cè)試的地區(qū)。實(shí)際上歷經(jīng)波峰焊機(jī)的測(cè)試點(diǎn)也會(huì)出現(xiàn)探針接觸不良現(xiàn)象的難題。之后SMT風(fēng)靡以后,測(cè)試錯(cuò)判的情況就獲得了非常大的改進(jìn),測(cè)試點(diǎn)的運(yùn)用也被較高的地授予重?fù)?dān),由于SMT的零件一般很敏感,沒(méi)法承擔(dān)測(cè)試探針的立即接觸壓力,應(yīng)用測(cè)試點(diǎn)就可以無(wú)需讓探針直接接觸到零件以及焊孔,不只維護(hù)零件不受傷,也間接性較高的地提高測(cè)試的靠譜度,由于錯(cuò)判的情況越來(lái)越少了。但是伴隨著高新科技的演變,線路板的規(guī)格也愈來(lái)愈小,小小的地電路板上面光源要擠下這么多的電子零件都早已一些費(fèi)勁了。

隨著集成電路輸出開(kāi)關(guān)速度提高以及PCB板密度增加,信號(hào)完整性(SignalIntegrity)已經(jīng)成為高速數(shù)字PCB設(shè)計(jì)必須關(guān)心的問(wèn)題之一,元器件和PCB板的參數(shù)、元器件在PCB板上的布局、高速信號(hào)線的布線等因素,都會(huì)引起信號(hào)完整性的問(wèn)題。對(duì)于PCB布局來(lái)說(shuō),信號(hào)完整性需要提供不影響信號(hào)時(shí)序或電壓的電路板布局,而對(duì)電路布線來(lái)說(shuō),信號(hào)完整性則要求提供端接元件、布局策略和布線信息。PCB上信號(hào)速度高、端接元件的布局不正確或高速信號(hào)的錯(cuò)誤布線都會(huì)引起信號(hào)完整性問(wèn)題,從而可能使系統(tǒng)輸出不正確的數(shù)據(jù)、電路工作不正常甚至完全不工作,如何在PCB板的設(shè)計(jì)過(guò)程中充分考慮信號(hào)完整性的因素,并采取有效的控制措施,已經(jīng)成為當(dāng)今PCB設(shè)計(jì)業(yè)界中的一個(gè)熱門話題。良好的信號(hào)完整性,是指信號(hào)在需要的時(shí)候能以正確的時(shí)序和電壓電平數(shù)值做出響應(yīng)。反之,當(dāng)信號(hào)不能正常響應(yīng)時(shí),就出現(xiàn)了信號(hào)完整性問(wèn)題。信號(hào)完整性問(wèn)題能導(dǎo)致或直接帶來(lái)信號(hào)失真、定時(shí)錯(cuò)誤、不正確數(shù)據(jù)、地址和控制線以及系統(tǒng)誤工作,甚至系統(tǒng)崩潰,信號(hào)完整性問(wèn)題不是某單一因素導(dǎo)致的,而是板級(jí)設(shè)計(jì)中多種因素共同引起的。IC的開(kāi)關(guān)速度,端接元件的布局不正確或高速信號(hào)的錯(cuò)誤布線都會(huì)引起信號(hào)完整性問(wèn)題。專業(yè)PCB設(shè)計(jì)版圖多少錢??jī)?nèi)行告訴你,超過(guò)這個(gè)價(jià)你就被坑了!

傳輸線的端接通常采用2種策略:使負(fù)載阻抗與傳輸線阻抗匹配,即并行端接;使源阻抗與傳輸線阻抗匹配,即串行端接。(1)并行端接并行端接主要是在盡量靠近負(fù)載端的位置接上拉或下拉阻抗,以實(shí)現(xiàn)終端的阻抗匹配,根據(jù)不同的應(yīng)用環(huán)境,并行端接又可以分為如圖2所示的幾種類型。(2)串行端接串行端接是通過(guò)在盡量靠近源端的位置串行插入一個(gè)電阻到傳輸線中來(lái)實(shí)現(xiàn),串行端接是匹配信號(hào)源的阻抗,所插入的串行電阻阻值加上驅(qū)動(dòng)源的輸出阻抗應(yīng)大于等于傳輸線阻抗。這種策略通過(guò)使源端反射系數(shù)為零,從而壓制從負(fù)載反射回來(lái)的信號(hào)(負(fù)載端輸入高阻,不吸收能量)再?gòu)脑炊朔瓷浠刎?fù)載端。不同工藝器件的端接技術(shù)阻抗匹配與端接技術(shù)方案隨著互聯(lián)長(zhǎng)度、電路中邏輯器件系列的不同,也會(huì)有所不同。只有針對(duì)具體情況,使用正確、適當(dāng)?shù)亩私臃椒ú拍苡行У販p少信號(hào)反射。一般來(lái)說(shuō),對(duì)于一個(gè)CMOS工藝的驅(qū)動(dòng)源,其輸出阻抗值較穩(wěn)定且接近傳輸線的阻抗值,因此對(duì)于CMOS器件使用串行端接技術(shù)就會(huì)獲得較好的效果;而TTL工藝的驅(qū)動(dòng)源在輸出邏輯高電平和低電平時(shí)其輸出阻抗有所不同。這時(shí),使用并行戴維寧端接方案則是一個(gè)較好的策略;ECL器件一般都具有很低的輸出阻抗。專業(yè)中小批量線路板設(shè)計(jì)(PCB設(shè)計(jì))!價(jià)格優(yōu)惠,歡迎咨詢!山西4層pcb多少錢

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因此測(cè)試點(diǎn)占有線路板室內(nèi)空間的難題,常常在設(shè)計(jì)方案端與生產(chǎn)制造端中間拔河賽,但是這一議案等之后還有機(jī)會(huì)再說(shuō)談。測(cè)試點(diǎn)的外型一般是環(huán)形,由于探針也是環(huán)形,比較好生產(chǎn)制造,也較為非常容易讓鄰近探針靠得近一點(diǎn),那樣才能夠提升針床的植針相對(duì)密度。1.應(yīng)用針床來(lái)做電源電路測(cè)試會(huì)出現(xiàn)一些組織上的先天性上限定,例如:探針的較少直徑有一定極限,很小直徑的針?lè)浅H菀讛嗔褤p壞。2.針間間距也是有一定限定,由于每一根針必須從一個(gè)孔出去,并且每根針的后端開(kāi)發(fā)都也要再電焊焊接一條扁平電纜,假如鄰近的孔很小,除開(kāi)針與針中間會(huì)出現(xiàn)觸碰短路故障的難題,扁平電纜的干預(yù)也是一大難題。3.一些高零件的邊上沒(méi)法植針。假如探針間距高零件太近便會(huì)有撞擊高零件導(dǎo)致?lián)p害的風(fēng)險(xiǎn)性,此外由于零件較高,一般也要在測(cè)試夾具針床座上打孔繞開(kāi),也間接性導(dǎo)致沒(méi)法植針。電路板上愈來(lái)愈難容下的下全部零件的測(cè)試點(diǎn)。4.因?yàn)槟景逵鷣?lái)愈小,測(cè)試點(diǎn)多少的存廢屢次被拿出來(lái)探討,如今早已擁有一些降低測(cè)試點(diǎn)的方式出現(xiàn),如Nettest、TestJet、BoundaryScan、JTAG.。。等;也是有其他的測(cè)試方式要想替代本來(lái)的針床測(cè)試,如AOI、X-Ray,但現(xiàn)階段每一個(gè)測(cè)試好像都還沒(méi)法。pcb價(jià)格咨詢