SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因,SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)較為多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS纖維和復(fù)合材料FFP2口罩的三維渲染,根據(jù)局部取向?qū)w維進行彩色編碼通過將材料組合成復(fù)合材料,獲得的組件可以擁有更高的強度,同時大為減輕重量。而要想進一步優(yōu)化組件性能,就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。較為常用的組分之一是纖維,有混凝土中的鋼筋,電子元件中的玻璃纖維,還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測纖維和復(fù)合材料,而無需進行橫切,從而確保樣品狀態(tài)不會在制備樣品的過程中受到影響。1.嵌入對象的方向2.層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析3.采用原位樣品臺檢測溫度和物理性質(zhì)。SKYSCAN 1272 CMOS XRM可以無損地實現(xiàn)泡沫內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維可視化。合金微觀結(jié)構(gòu)
主要特點及技術(shù)指標(biāo):§很大程度上保護樣品:無需制備樣品,無損三維重現(xiàn)§對樣品的細節(jié)檢測能力(分辨率)比較高可達:450nm§比較大掃描樣品直徑:75mm;比較大掃描樣品長度:70mm§自動可變掃描幾何系統(tǒng):根據(jù)用戶設(shè)定的放大倍率,儀器可自動優(yōu)化掃描幾何,找到快的測試方案,用短時間,得到高質(zhì)量數(shù)據(jù)§全新的100kV度微焦斑X射線光源,提供更高的光通量和更好的光束穩(wěn)定性,完全免維護§全新的1100萬像素CCD探測器,4000x2670像素,大面積、高靈敏度,1:1偶合無束錐比§6位自動濾片轉(zhuǎn)換器,針對不同樣品,可自由選擇不同能量,以得到比較好化的實驗條件§集成的高精度微調(diào)樣品臺可方便系統(tǒng)獲得樣品,尤其是小樣品的比較好位置§樣品腔內(nèi)置500萬像素彩色光學(xué)相機可更方便地實時觀察樣品位置,并隨時保存圖像§16位自動進樣器(可選),可連續(xù)測量16個樣品。樣品會自動被轉(zhuǎn)移到樣品臺上進行逐個掃描,每個樣品可以按照相同的或者特定的策略進行掃描§二維/三維數(shù)據(jù)分析,面/體繪制軟件實現(xiàn)三維可視化,終結(jié)果可輸出到手機或者平板電腦上(iOSandAndroid),并導(dǎo)出STL文件用于3D打印安徽進口顯微CT調(diào)試多量程納米CTSkyScan 2214,完美的解決了從微米到分米尺寸樣品的高分辨率掃描。
無損顯微CT3D-XRM不需要進行切片,染色或噴金等樣品處理。顯微CT3D-XRM的樣品可重復(fù)測試,進行縱向比對。高襯度圖像聚丙烯這類主要由C,H等輕元素組成的物質(zhì),對X射線吸收非常弱,想獲得足夠高的對比度,①要求X射線探測器的靈敏程度高,可以識別出微小的信號差異,獲取吸收襯度信息。②設(shè)備整體精度高,探測器靈敏度高,在吸收襯度之外,還可以利用X射線相位的變化,獲得包含相位襯度的圖像。大工作距離條件下的高分辨率模式大工作距離條件下的高分辨率掃描,一般是通過透鏡或光錐對閃爍體產(chǎn)生的信號進行二次放大,布魯克SkyScan采用高分辨率CCD探測器(1100萬像素,普通探測器一般為400萬像素)+具有放大功能的光纖實現(xiàn)幾何放大和光錐二次放大,并且在進行二次放大的同時,可以保證成像速度,在合理的時間內(nèi)完成大工作距離下的高分辨率掃描。
Space-savingdesktopsystemwithminimuminstallationrequirementsdomesticpowerplug,nowaterorcompressedair,maintenance-freesealedX-raysourcePushbuttonoperationwithahighdegreeofautomationincludingautomaticsamplesizedetection,samplescanning,3Dreconstruction,andvolumerendering100kVx-raysourcewith3MPFlat-Paneldetector3-positionfilterchangerforselectingtheoptimumenergysettingPixelsize<4micron(forsmallsamples)Comprehensive3D.SUITEsoftware1)reconstruction,2)visualizationthroughsurface-andvolumerenderingand3)analysis歐拉數(shù)和連通性參數(shù)以前只在3D綜合分析中可用,現(xiàn)在它們也可用于單獨個體的3D對象分析。
SKYSCAN1275–QualityinspectionAdditiveManufacturingAdditiveManufacturedpartBedfusion,pureAlpowderCourtesyofIRTDuppigheimScanConditionsSKYSCAN1275Voxelsize:15μm1mmAlfilter80kV–10W4verticalconnectedsectionsAutomaticallyandseamlesslystitchedtogetherScantime:22minutespersectionFast,easytousepush-buttonCTwithSKYSCAN1275Packaging–sealqualityEvaluationofmanufacturingprocessofthesecomponentsReferenceandproducedpartscanbescannedandcomparedXRM根據(jù)密度不同來進行區(qū)域劃分,包括孔隙網(wǎng)絡(luò)??讖椒植?/p>
SKYSCAN 1273配備基于全新的6 MP大尺寸平板探測器,具有更大的動態(tài)范圍,實現(xiàn)更高的對比度。合金微觀結(jié)構(gòu)
SkyScan2214為油氣勘探,復(fù)合材料,鋰電池,燃料電池,電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體,并為小尺寸和中等尺寸(10cm范圍左右)樣品掃描提供亞微米級的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進行樣品掃描,并提供世界上快的分層重建(InstaRecon®)軟件,和獲得(許可)的精確的螺旋重建算法,為準(zhǔn)確測量提供高精度信息?!ら_放式納米焦點金剛石光源,降低使用成本··多探測器自動切換(多可選4個),可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測器··11軸高精度定位系統(tǒng),精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm,小像素尺寸優(yōu)于60nm·合金微觀結(jié)構(gòu)