BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,是分析誤差的重要來源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,將樣品制備問題可視化,如粒徑或擇優(yōu)取向。避免就統(tǒng)計而言沒有代表性的測量結果。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術,無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復使用的樣品支持器低功耗(650W)布魯克與水泥業(yè)密切合作,不斷改進其分析解決方案。在D2PHASER方面,我們針對水泥業(yè)提供了一個軟件包,其中包括針對10多種原材料、熟料和不同水泥類型制定的、供工廠應用的測量和數(shù)據(jù)評估方法,可有效控制窯爐以及工廠的礦物學。與水泥軟件包相結合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運營。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠,請參見D8ENDEAVOR。在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2 R 500K通過2D模式手機的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進行粒度分析。蘇州微區(qū)衍射檢測分析
對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術,它基于Bragg衍射以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結構信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結構的信息(即長程有序),通過漫散射,表征其局部結構(即短程有序)。就分析速度、數(shù)據(jù)質量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結構材料的分析結果而言,D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案:相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀。上海晶胞參數(shù)檢測分析憑借RapidRSM技術,能在 短的時間內,測量大面積倒易空間。在DIFFRAC.LEPTOS中,進行倒易點陣轉換和分析。
對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術,它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結構信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結構的信息(即長程有序),通過漫散射,表征其局部結構(即短程有序)。就分析速度、數(shù)據(jù)質量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結構材料的分析結果而言,D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案:相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜)。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。涉及高通量篩選(HTS)和大區(qū)域掃描分析時,D8 DISCOVER是較好解決方案。
X射線粉末衍射(XRPD)技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結構分析(微晶尺寸、微應變、無序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應力織構(擇優(yōu)取向)分析指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。樣品臺的卡口座允許在測角儀上快速準確地更換整個樣品臺,較大限度地提高實驗靈活性。蘇州透射檢測分析
在DIFFRAC.LEPTOS中,對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。蘇州微區(qū)衍射檢測分析
LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,著實出色,是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100%過濾,而且無需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無需用到會消除強度的二級單色器。布魯克提供獨有的LYNXEYEXE-T探測器保證:交貨時保證無壞道!LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有準確的計數(shù)率和角分辨率,是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇。蘇州微區(qū)衍射檢測分析