各向異性擴散濾波新版中增加的一些特性,其中之一就是強大高效的濾波工具“AnisotropicDiffusion,各向異性擴散”。”各項異性”,顧名思義,就是在進行平滑處理時各個方向并不相同,只就垂直于邊界的區(qū)域進行平滑處理,保持邊界不會變的模糊。“擴散”意味著強度沒有整體增加或減少,即沒有強度信號的產生或破壞:對密度測量有利。各向異性擴散濾波器在降噪和邊緣保持之間提供了較好的平衡。分水嶺算法在CTAn的形態(tài)學操作插件中,用戶現(xiàn)在可以為分水嶺算法定義容差,并采用H-minima變換以≤該容差值的動態(tài)強度抑制區(qū)域最小值,將“黏連”在一起的對象區(qū)分開。接下來利用Individualobjectanalysis插件,可以將采用不同顏色編碼的圖像保存到剪貼板,根據(jù)所選的特征,每個個體會被賦予一個灰度值。歐拉數(shù)和連通性參數(shù)以前只在3D綜合分析中可用,現(xiàn)在它們也可用于單獨個體的3D對象分析。此外,軟件調整了歐拉數(shù)的算法,解決負連接的問題。布魯克的材料試驗臺可以進行比較大4400 N的壓縮試驗和比較大440 N的拉伸試驗。天津購買顯微CT檢測
ROIShrink-wrap功能可以完美的解決復雜形態(tài)ROI的自動選取,并且可以與CTAn的另一個功能PrimitiveROI相結合,可以ROI包含我們感興趣的邊界。高分辨率X射線三維成像系統(tǒng)可以應用在多孔介質滲流特性的研究中,與入口和出口表面相連通的孔隙在其中起到關鍵作用,高精度三維成像系統(tǒng)如何在錯綜復雜的孔隙網(wǎng)絡中選取其中起關鍵作用的區(qū)域對于多孔介質滲流機理的研究就至關重要了。下圖展示了X射線三維納米顯微鏡中ROIShrink-wrap與PrimitiveROI相結合所獲取與上下表面相通的孔隙網(wǎng)絡。上海發(fā)展顯微CTCT-Analyser(即CTAn)可以針對顯微CT結果進行準確、詳細的形態(tài)學與密度學研究。
SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因,SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS泡沫材料重建數(shù)據(jù)的多體積圖像和彩色編碼結構分離同時顯示了泡沫泡孔的直徑以及開孔泡沫鎳支柱的中空特征。像素大小1.0μm泡沫材料在工業(yè)上有許多的應用。根據(jù)泡沫的材質和結構特性,可以用作隔熱或隔音材料,也可以用作保護或過濾裝置中的減震結構……XRM可以無損地實現(xiàn)泡沫內部結構的三維可視化。1.確定局部結構的厚度2.確定結構間隔以實現(xiàn)空隙網(wǎng)絡的可視化3.通過壓縮和拉伸臺進行原位力學試驗4.確定開孔孔隙度和閉孔孔隙度。
主要特點及技術指標:§很大程度上保護樣品:無需制備樣品,無損三維重現(xiàn)§對樣品的細節(jié)檢測能力(分辨率)比較高可達:450nm§比較大掃描樣品直徑:75mm;比較大掃描樣品長度:70mm§自動可變掃描幾何系統(tǒng):根據(jù)用戶設定的放大倍率,儀器可自動優(yōu)化掃描幾何,找到快的測試方案,用短時間,得到高質量數(shù)據(jù)§全新的100kV度微焦斑X射線光源,提供更高的光通量和更好的光束穩(wěn)定性,完全免維護§全新的1100萬像素CCD探測器,4000x2670像素,大面積、高靈敏度,1:1偶合無束錐比§6位自動濾片轉換器,針對不同樣品,可自由選擇不同能量,以得到比較好化的實驗條件§集成的高精度微調樣品臺可方便系統(tǒng)獲得樣品,尤其是小樣品的比較好位置§樣品腔內置500萬像素彩色光學相機可更方便地實時觀察樣品位置,并隨時保存圖像§16位自動進樣器(可選),可連續(xù)測量16個樣品。樣品會自動被轉移到樣品臺上進行逐個掃描,每個樣品可以按照相同的或者特定的策略進行掃描§二維/三維數(shù)據(jù)分析,面/體繪制軟件實現(xiàn)三維可視化,終結果可輸出到手機或者平板電腦上(iOSandAndroid),并導出STL文件用于3D打印對于催化劑和濾膜等多孔介質,XRM可以用于定量計算開、閉孔隙度,尺寸分布,并確定壁厚。
Space-savingbenchtopsystemwithminimuminstallationrequirementsdomesticpowerplug,nowaterorcompressedair,maintenance-freesealedX-raysourceLargesamplechambertofitthesamplesSpaceforobjectsupto?300mmand500mmheight,scanningvolumeupto?250mmand250mmheight130kVx-raysourcewith6MPFlat-Paneldetectortransmissionthroughlargerandhigherdensematerials8-positionfilterchangersupportingautomaticselectionoftheoptimumenergysettingAdvancescanalgorithmsforparticularsampleshapes(i.e.:helical,oversized,HARTplusscan)Comprehensive3D.SUITEsoftware1)reconstruction,2)visualizationthroughsurface-andvolumerenderingand3)analysisSKYSCAN 1272藥物:確定壓實密度、測量包衣厚度、評估API分布、檢測片劑中微型裂隙。水泥基材料微觀結構
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SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且,由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因,SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)較為多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS纖維和復合材料FFP2口罩的三維渲染,根據(jù)局部取向對纖維進行彩色編碼通過將材料組合成復合材料,獲得的組件可以擁有更高的強度,同時大為減輕重量。而要想進一步優(yōu)化組件性能,就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。較為常用的組分之一是纖維,有混凝土中的鋼筋,電子元件中的玻璃纖維,還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測纖維和復合材料,而無需進行橫切,從而確保樣品狀態(tài)不會在制備樣品的過程中受到影響。1.嵌入對象的方向2.層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析3.采用原位樣品臺檢測溫度和物理性質。天津購買顯微CT檢測