aoi外觀檢測

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-07-26

AOI光學(xué)檢測原理  AOI,即自動(dòng)光學(xué)檢查。它是自動(dòng)檢查經(jīng)過波峰焊以及回流焊后的印刷電路板的焊錫焊接狀況和實(shí)裝情況的裝置。首先,機(jī)器通過內(nèi)部的照明單元,將焊錫及元器件分解成不同的顏色。在制作檢查程序時(shí),首先取一塊標(biāo)準(zhǔn)板,對上面的各個(gè)元器件的不同部分分別設(shè)定合適的顏色參數(shù)。在進(jìn)行檢查時(shí),機(jī)器將拍攝到的標(biāo)準(zhǔn)板的圖像作為標(biāo)準(zhǔn)影像,以設(shè)定好的顏色參數(shù)作為標(biāo)準(zhǔn)。將被檢查的基板的圖像與標(biāo)準(zhǔn)影像進(jìn)行對比,以設(shè)定好的色參數(shù)為基準(zhǔn)進(jìn)行判別。在線型AOI檢測設(shè)備的作用有以下幾個(gè)方面。aoi外觀檢測

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為什么需要AOI?1.PCB的趨勢,電路結(jié)構(gòu)密度越來越高,線路越來越細(xì)。2.使用人工檢查缺點(diǎn)效率低,不符合精密印刷電路板檢查的需求。3.對于缺點(diǎn)能予以記錄、分析。能檢查電性測試所無法找出的缺點(diǎn):缺口(Nick)、凹陷(Dishdown)、突出(Protrusion)、銅渣(Island)AOI的原理1.銅板缺點(diǎn)如板面氧化或銅面污染異常板、短路、突出等,可加強(qiáng)三色光或減弱反射光。2.地板缺點(diǎn)如底板白點(diǎn)、孔巴里、銅顆粒等,可減弱散射光或加強(qiáng)反射光。3.通常做上述兩個(gè)動(dòng)作為減少假缺點(diǎn)的數(shù)目。外觀ccd檢測設(shè)備在線AOI與離線AOI的區(qū)別是什么呢?

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三、制造企業(yè)進(jìn)入到主動(dòng)地應(yīng)用AOI檢測階段從AOI開始發(fā)展至今,企業(yè)對于AOI檢測系統(tǒng)的應(yīng)用經(jīng)歷了三個(gè)大的階段:由開始的被動(dòng)應(yīng)用階段,到被迫應(yīng)用階段,再到現(xiàn)在主動(dòng)地要求應(yīng)用階段,過程中伴隨著PCB、FPD制造企業(yè)對AOI檢測設(shè)備的接受程度逐步加深,同時(shí)也說明了AOI檢測設(shè)備的滲透率在逐步提升。企業(yè)開始運(yùn)用AOI是因其神秘感購買,同時(shí)對AO檢測設(shè)備了解比較有限,管控和操作上存在難度,很少主動(dòng)地應(yīng)用;后來,由于客戶對產(chǎn)品的質(zhì)量要求提升,企業(yè)為了能夠獲得訂單,很多OEM制造廠商不得不購買AOI檢測設(shè)備對成品開展品質(zhì)檢測;再隨著技術(shù)的發(fā)展,SMT組裝逐步精細(xì)化和細(xì)小化,人眼檢測無法滿足產(chǎn)品質(zhì)量的要求,人工成本也在不斷提升,企業(yè)為了節(jié)約成本,提升產(chǎn)品質(zhì)量,終于主動(dòng)使用AOI檢測設(shè)備。隨著集成電路和PCB印制電路板行業(yè)的發(fā)展,外加我國人工成本越來越高,電子制造企業(yè)出于對產(chǎn)品質(zhì)量和成本控制的需求,加速了AOI檢測設(shè)備替代人工的進(jìn)程。因而,在這種環(huán)境下,全球及中國自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備在未來幾年將迎來快速發(fā)展。


AOI是一種自動(dòng)光學(xué)檢測,它根據(jù)光學(xué)原理來檢測焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷,雖然是近幾年才出現(xiàn)的一種新型檢測技術(shù),但其發(fā)展迅速,早在2016年,和田古德就推出了AOI檢測設(shè)備。自動(dòng)檢測時(shí),設(shè)備通過攝像頭自動(dòng)掃描PCB板來采集圖像,再自動(dòng)將檢到的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格參數(shù)進(jìn)行比較。經(jīng)圖像處理之后,檢查出PCB上的缺陷,并由顯示器自動(dòng)標(biāo)記顯示或者標(biāo)記缺陷,供維修人員維修。早前的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備主要用于檢測IC(即集成電路)封裝之后的表面印刷是否存在缺陷。后來慢慢隨著技術(shù)的發(fā)展,逐漸用于SMT組裝線上檢查電路板上零件的焊錫裝配質(zhì)量,或者檢查印刷之后的焊膏是否符合標(biāo)準(zhǔn)。AOI的發(fā)展需求集成電路。

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AOI可用于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置,在各個(gè)位置均可檢測特殊缺陷,但AOI檢查設(shè)備應(yīng)放到一個(gè)可以盡早識別和改正較多缺陷的位置。因此一般將AOI放置在以下三個(gè)比較重要的位置:(1)錫膏印刷之后。如果錫膏印刷過程滿足要求,那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷一般有焊盤上焊錫不足、焊盤上焊錫過多、焊錫對焊盤的重合不良、焊盤之間的焊錫橋。(2)回流焊前。檢查是在元件貼放在板上錫膏印刷之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是放置檢查機(jī)器的位置,因?yàn)檫@里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機(jī)器貼放的大多數(shù)缺陷。不過一般這個(gè)位置放置SPI比較多,因?yàn)檫@個(gè)位置的檢查滿足過程跟蹤的目標(biāo)。(3)回流焊后。在SMT工藝過程的***步驟進(jìn)行檢查,這是目前AOI當(dāng)下流行的選擇,因?yàn)檫@個(gè)位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯(cuò)誤?;亓骱负髾z查可以提供高度的安全性,因?yàn)樗R別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯(cuò)誤。關(guān)于AOI設(shè)備光學(xué)檢測的優(yōu)勢。外觀ccd檢測設(shè)備

早前的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備主要用于檢測IC(即集成電路)封裝之后的表面印刷是否存在缺陷。aoi外觀檢測

AOI檢測常見故障有哪些?1、字符檢測誤報(bào)較多AOI靠識別元件外形或文字等來判斷元件是否貼錯(cuò)等,字符檢測誤報(bào)主要是由于元器件字符印刷及不同生產(chǎn)批次、不同元器件廠家料品字符印刷方式不同以及字符印刷顏色深淺、模糊或者灰塵等引起的誤判,需要用戶不斷的更改完善元件庫參數(shù)以及減少檢測關(guān)鍵字符數(shù)量的方法來減少誤報(bào)的出現(xiàn)。2、存在屏蔽圈遮蔽點(diǎn)、斜角相機(jī)的檢測盲區(qū)等問題在實(shí)際生產(chǎn)檢測中,事實(shí)證明合理的PCB布局以及料品的選擇可以減少盲區(qū)的存在。在實(shí)際布局過程中盡量采取合理的布局將極大減少檢測盲區(qū)的存在,同時(shí)在有遮擋的元件布局中可以考慮將元件旋轉(zhuǎn)90度以改變斜角相機(jī)的照射角度去避免元件引腳遮擋。同時(shí)元器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm(0.12”)的工藝邊,并采用片式器件優(yōu)先于圓柱形器件的選型方式。3、多錫、少錫、偏移、歪斜等問題工藝要求標(biāo)準(zhǔn)界定不同容易導(dǎo)致的誤判焊點(diǎn)的形狀和接觸角是焊點(diǎn)反射的根源,焊點(diǎn)的形成依賴于焊盤的尺寸、器件的高度、焊錫的數(shù)量和回流工藝參數(shù)等因素。為了防止焊接反射,應(yīng)當(dāng)避免器件對稱排列,同時(shí)合理的焊盤設(shè)計(jì)也將極大減少誤判現(xiàn)象的發(fā)生。詳情歡迎來電咨詢aoi外觀檢測