AOI的工作原理2圖形識(shí)別方法是將存儲(chǔ)的數(shù)字圖像與實(shí)際圖像進(jìn)行比較。根據(jù)完整的印刷電路板或根據(jù)模型建立的檢驗(yàn)文件進(jìn)行檢驗(yàn),或根據(jù)計(jì)算機(jī)軸輔助設(shè)計(jì)中編制的檢驗(yàn)程序進(jìn)行檢驗(yàn)。其準(zhǔn)確性取決于所采用的發(fā)牌率和檢驗(yàn)程序,一般與電子測(cè)試系統(tǒng)相同,但采集的數(shù)據(jù)量大,對(duì)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)處理要求較高。模式識(shí)別方法利用實(shí)際設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)代替DRC中已建立的設(shè)計(jì)原則,具有明顯的優(yōu)勢(shì)。AOl具有元器件檢測(cè)、PCB板檢測(cè)、焊接元器件檢測(cè)等功能。AOI檢測(cè)系統(tǒng)用于零部件檢測(cè)的一般程序是對(duì)已安裝部件的印刷線路板進(jìn)行自動(dòng)計(jì)數(shù),并開(kāi)始檢查;檢查印刷線路板的引線側(cè),確保引線端對(duì)齊、彎曲正確;檢查是否有缺件、錯(cuò)件、損壞件、檢查安裝的IC和分立器件的類型、方向和位置,檢查IC器件上的標(biāo)記印刷質(zhì)量。如果AOI發(fā)現(xiàn)有缺陷的部件,系統(tǒng)將向操作員發(fā)送一個(gè)信號(hào),或觸發(fā)處理程序這機(jī)器能自動(dòng)除去有缺陷的零件。該系統(tǒng)對(duì)缺陷進(jìn)行分析,向主機(jī)提供缺陷的類型和頻率,并對(duì)制造過(guò)程進(jìn)行必要的調(diào)整。AOI檢測(cè)的效率和可靠性取決于所使用軟件的完整性。AO還具有易于使用、易于調(diào)整、不需要編寫(xiě)可視化系統(tǒng)算法的優(yōu)點(diǎn)。早前的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備主要用于檢測(cè)IC(即集成電路)封裝之后的表面印刷是否存在缺陷。陽(yáng)江AOI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)
AOI科普小知識(shí)AOI的含義-AOI(AutomatedOpticalInspection)的中文全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興的一種新型測(cè)試技術(shù),當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí),機(jī)器通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描PCB,采集圖像,測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過(guò)圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過(guò)顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)志出來(lái),供維修人員修整。-AOIsystem自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),以機(jī)械視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)為基礎(chǔ),利用攝影機(jī)或其他類型的光電感測(cè)器取代人眼獲取待測(cè)物體的圖像或者信息進(jìn)行產(chǎn)品的檢查,利用電腦編程演算法取代人腦進(jìn)行影像處理、分析以及質(zhì)量檢定,利用機(jī)械取代人力進(jìn)行產(chǎn)品搬運(yùn),大幅提高檢測(cè)的速度與精確度。AOI具有全自動(dòng)化、可靠度高、穩(wěn)定度高、可量化以及可整合等優(yōu)點(diǎn),但是需要明確的是,與任何大規(guī)模量產(chǎn)的生產(chǎn)方式相同,任何微小的錯(cuò)誤都會(huì)被巨大的數(shù)量基數(shù)放大很多倍,因此通常都是高度成熟、高度自動(dòng)化的制造業(yè)才會(huì)引入AOI量測(cè)技術(shù)。?珠海國(guó)內(nèi)AOI檢測(cè)設(shè)備維保AOI工作流程進(jìn)料→AOI檢驗(yàn)→VRS確認(rèn)→熒光幕監(jiān)視修補(bǔ)→出貨為什么需要AOI?
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備比較大的優(yōu)點(diǎn)就是可以取代以前SMT爐前、爐后的人工目檢作業(yè),而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點(diǎn)。但就如同人眼一般,AOI基本上也*能執(zhí)行物件的表面檢查,所以只要是物件表面上可以看得到的形狀,它都可以正確無(wú)誤的檢查出來(lái),但對(duì)于藏在零件底下或是零件邊緣的焊點(diǎn)可能能力有限,當(dāng)然現(xiàn)在有許多的AOI已經(jīng)可以作到多角度的攝影來(lái)增加其對(duì)IC腳翹的檢出能力,并增加某些被遮蔽元件的攝影角度,以提供更多的檢出率。AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備有個(gè)比較大的缺點(diǎn)是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,比較容易出現(xiàn)誤判的情況,這些或許可以使用不同顏色的燈光來(lái)加以判別,但**麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn),因?yàn)閭鹘y(tǒng)的AOI只能檢測(cè)直射光線所能到達(dá)的地方,像是屏蔽框肋條或是其邊緣底下的元件,往往就會(huì)因?yàn)锳OI檢測(cè)不到而漏掉。
光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線,光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號(hào)二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同,依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種,因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同,CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝,并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器,電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。而CMOS采用了無(wú)機(jī)半導(dǎo)體加工工藝,每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路,每個(gè)像素都可以被定位,無(wú)需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì),而且其對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片,因光暈和拖尾等過(guò)度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點(diǎn),作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多,靈敏度會(huì)有問(wèn)題,為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū),域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片。利用圖像的明暗關(guān)系形成目標(biāo)物的外形輪廓,比較該外形輪廓與標(biāo)準(zhǔn)輪廓的相像程度。
AOI也就是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀,包括自動(dòng)巡檢、自動(dòng)報(bào)警、異常顯示等功能,基本上能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)化操作。在PCBA代工代料的貼片加工過(guò)程中AOI檢測(cè)是一道必不可少的工序。PCBA加工中的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),是利用光學(xué)原理對(duì)焊接過(guò)程中生產(chǎn)的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。在進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)時(shí),機(jī)器通過(guò)攝像頭進(jìn)行自動(dòng)掃描PCB采集圖像,測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)進(jìn)行比對(duì)之后,經(jīng)過(guò)圖像處理檢查出PCB上的缺陷,同時(shí)通過(guò)顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示或標(biāo)示出來(lái),方便維修人員進(jìn)行修整。下面由深圳市和田古德自動(dòng)化設(shè)備有限公司給大家簡(jiǎn)單介紹一下AOI檢測(cè)的工序。AOI檢測(cè)原理:通過(guò)利用光學(xué)原理讓設(shè)備上的攝像頭自動(dòng)掃描PCB,采集圖像,然后將采集到的加工的焊點(diǎn)數(shù)據(jù)和機(jī)器數(shù)據(jù)庫(kù)的合格數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì),之后經(jīng)過(guò)圖像處理標(biāo)記出PCBA代工代料的焊接情況。AOI的種類由于設(shè)計(jì)思路及性能的不同,詳情了解分類。湛江國(guó)內(nèi)AOI檢測(cè)設(shè)備維保
AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù),但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。陽(yáng)江AOI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)
AOI的發(fā)展需求集成電路(IC)當(dāng)然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來(lái)結(jié)構(gòu)精細(xì)的人造物之一,而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè),AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測(cè)需求。①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測(cè),典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等,既需要高精度又需要高效率的大量檢測(cè)②精密零件與制程的精密加工與檢測(cè),典型應(yīng)用就是針對(duì)工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測(cè),具有高精度、量測(cè)條件多變等特點(diǎn)。③生物醫(yī)學(xué)檢測(cè)應(yīng)用,典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡,結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測(cè)。?陽(yáng)江AOI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)