掃描電鏡檢測(cè)塊狀試樣制備 導(dǎo)電性材料:主要是指金屬,一些礦物和半導(dǎo)體材料也具有一定的導(dǎo)電性。這類材料的試樣制備較為為簡(jiǎn)單。只要使試樣大小不得超過儀器規(guī)定(如試樣直徑較為大為φ25mm,較為厚不超過20mm等),然后用雙面膠帶粘在載物盤,再用導(dǎo)電銀漿連通試樣與載物盤(以確保導(dǎo)電良好),等銀漿干了(一般用臺(tái)燈近距離照射10分鐘,如果銀漿沒干透的話,在蒸金抽真空時(shí)將會(huì)不斷揮發(fā)出氣體,使得抽真空過程變慢)之后就可放到掃描電鏡中直接進(jìn)行觀察。 非導(dǎo)電性材料:試樣的制備也比較簡(jiǎn)單,基本可以像導(dǎo)電性塊狀材料試樣的制備一樣,但是要注意的是在涂導(dǎo)電銀漿的時(shí)候一定要從載物盤一直連到塊狀材料試樣的上表面,因?yàn)橛^察時(shí)候電子束是直接照射在試樣的上表面的。掃描電鏡的景深較光學(xué)顯微鏡大幾百倍,比透射電鏡大幾十倍。廣西推薦的掃描電鏡檢測(cè)
掃描電子顯微鏡中樣本必須在真空中觀察,因此無法觀察活樣本。在處理樣本時(shí)可能會(huì)產(chǎn)生樣本本來沒有的結(jié)構(gòu),這加劇了此后分析圖像的難度。由于透射電子顯微鏡只能觀察非常薄的樣本,而有可能物質(zhì)表面的結(jié)構(gòu)與物質(zhì)內(nèi)部的結(jié)構(gòu)不同。此外電子束可能通過碰撞和加熱破壞樣本。還有,電子顯微鏡觀察到的樣本都是沒有顏色的。 現(xiàn)在的比較新技術(shù)可以在電子顯微鏡中觀察濕的樣本和不涂導(dǎo)電層的樣本(環(huán)境掃描電子顯微鏡,Environmental Scanning Electron Microscopes,ESEM)。假如事先對(duì)樣本的情況比較清晰的話則可以基本上進(jìn)行不破壞的觀察。廣西整體掃描電鏡價(jià)格掃描電鏡視頻放大器放大的二次電子信號(hào)是一個(gè)交流信號(hào)。
掃描電鏡細(xì)胞內(nèi)部結(jié)構(gòu)冷凍割斷法 該方法簡(jiǎn)便,結(jié)構(gòu)清晰,已得到普遍應(yīng)用。其操作方法如下: 1) 取材和固定:為了使細(xì)胞結(jié)構(gòu)清晰,不被過多的血細(xì)胞污染,可在取材前用灌注法沖洗。即先將動(dòng)物麻醉,經(jīng)腹主動(dòng)脈注入生理鹽水或低分子量的右,切開下腔靜脈放血,至無血色為止。然后迅速取材,將樣品修成1mm×1mm×5mm大小,投入1%鋨酸溶液中固定1小時(shí),用1/15M磷酸緩沖液(pH7.4)清洗兩次,每次10分鐘。 2) 二甲基亞砜浸泡:將樣品依次放入25%、50%二甲基亞砜溶液中,各浸泡30分鐘。 3) 割斷:用TF—1型冷凍割斷裝置進(jìn)行割斷。然后將割斷后的樣品放到50%二甲基亞砜中,等融化后再用1/15M磷酸緩沖液浸洗,每次10分鐘,換液5次。 4) 軟化及后固定:將樣品放入0.1%鋨酸中軟化,溫度20℃,時(shí)間48~72小時(shí)。然后用1%鋨酸固定1小時(shí),雙蒸水浸洗1小時(shí),換液幾次,需徹底清洗干凈。 5) 導(dǎo)電染色:將樣品放入2%丹寧酸中2小時(shí)(或過夜),以雙蒸水清洗1小時(shí),換液幾次。雙蒸水清洗1小時(shí)。 6) 脫水、干燥及鍍膜:按常規(guī)方法進(jìn)行。
和透射電鏡相比,掃描電鏡試樣制備比較簡(jiǎn)單。在保持材料原始形狀情況下,可以直接觀察和研究試樣表面形貌及其它物理效應(yīng)(特征),這是掃描電鏡的一個(gè)突出優(yōu)點(diǎn)。掃描電鏡的有關(guān)制樣技術(shù)是以透射電鏡、光學(xué)顯微鏡及電子探針X射線顯微分析制樣技術(shù)為基礎(chǔ)發(fā)展起來的,有些方面還兼具透射電鏡制樣技術(shù),所用設(shè)備也基本相同。但因掃描電鏡有其本身的特點(diǎn)和觀察條件,只簡(jiǎn)單地引用已有的制樣方法是不夠的。在進(jìn)行掃描電鏡觀察時(shí),如試樣表面不導(dǎo)電或?qū)щ娦圆缓茫瑢a(chǎn)生電荷積累和放電,使得入射電子束偏離正常路徑,較為終造成圖像不清晰乃至無法觀察和照相。掃描電鏡就找英瀚斯!
掃描電鏡成像系統(tǒng)。電子經(jīng)過一系列電磁透鏡成束后,打到樣品上與樣品相互作用,會(huì)產(chǎn)生次級(jí)電子、背散射電子、俄歇電子以及X射線等一系列信號(hào)。所以需要不同的探測(cè)器譬如次級(jí)電子探測(cè)器、X射線能譜分析儀等來區(qū)分這些信號(hào)以獲得所需要的信息。雖然X射線信號(hào)不能用于成像,但習(xí)慣上,仍然將X射線分析系統(tǒng)劃分到成像系統(tǒng)中。 有些探測(cè)器造價(jià)昂貴,比如Robinsons式背散射電子探測(cè)器,這時(shí),可以使用次級(jí)電子探測(cè)器代替,但需要設(shè)定一個(gè)偏壓電場(chǎng)以篩除次級(jí)電子。掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段。整體掃描電鏡哪家效果好
1940年英國劍橋大學(xué)初次試制成功掃描電鏡。廣西推薦的掃描電鏡檢測(cè)
在材料領(lǐng)域中,掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用,被普遍應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程,可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界,也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式,還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣系統(tǒng)組成。廣西推薦的掃描電鏡檢測(cè)
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