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發(fā)布時間:2024-10-31

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    光學(xué)線掃描儀,作為一種基于光學(xué)原理的設(shè)備,在多個領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。以下是對光學(xué)線掃描儀的詳細介紹:一、定義與工作原理定義:光學(xué)線掃描儀是一種利用光學(xué)技術(shù)將物體表面的線性特征(如線條、邊緣等)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信息的設(shè)備。它通過光源照射目標物體,利用光學(xué)傳感器捕捉反射光線,將光信號轉(zhuǎn)換為電信號,再經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號,通過計算機軟件處理形成圖像或數(shù)據(jù)。工作原理:光源發(fā)出強光照射在目標物體上。物體表面的線性特征反射光線至光學(xué)感應(yīng)器。光學(xué)感應(yīng)器接收信號并將其傳送到模數(shù)轉(zhuǎn)換器。模數(shù)轉(zhuǎn)換器將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號。計算機軟件處理數(shù)字信號,形成圖像或數(shù)據(jù)。二、功能與特點高精度:光學(xué)線掃描儀能夠捕捉物體表面的微小細節(jié),提供高精度的測量數(shù)據(jù)。非接觸式測量:避免了傳統(tǒng)接觸式測量可能造成的磨損和誤差。自動化程度高:能夠自動完成掃描過程,提高工作效率。數(shù)據(jù)處理能力強:配合計算機軟件,可對掃描數(shù)據(jù)進行準確的處理和分析。 光學(xué)應(yīng)變測量有助于深入了解材料的力學(xué)性質(zhì)和變形行為,為材料設(shè)計提供有力支持。上海光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)總代理

上海光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)總代理,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量是一種通過光學(xué)測量技術(shù)實現(xiàn)的應(yīng)變測量方法,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量利用光與物質(zhì)相互作用時產(chǎn)生的光學(xué)現(xiàn)象(如光的反射、折射、干涉、衍射等)來間接地測量物體的變形。通過分析物體變形前后光學(xué)信號的變化,可以推導(dǎo)出物體的應(yīng)變狀態(tài)。利用全息原理記錄物體的三維信息,通過比較變形前后的全息圖,可以計算出物體的應(yīng)變場。通過激光照射物體表面并測量反射光的振動情況,可以計算出物體的微小變形和應(yīng)變;趫D像處理技術(shù),通過比較物體變形前后兩幅或多幅數(shù)字圖像中特征點的位移變化,來計算物體的應(yīng)變場。DIC具有全場測量、精度高、易于實現(xiàn)等優(yōu)點。上海掃描電鏡數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量裝置非接觸測量避免物體損傷,激光相干性確保高精度和高靈敏度。

上海光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)總代理,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量

    在應(yīng)變測量時,根據(jù)所使用的應(yīng)變片的數(shù)量和測量目的,可以使用各種連接方法。在四分之一橋方法中,較多使用3線式連接來消除溫度變化對導(dǎo)線電阻的影響。但是,導(dǎo)線電阻相關(guān)的靈敏系數(shù)修正以及連接部分的接觸電阻變化等會產(chǎn)生測量誤差。因此,開發(fā)出了的獨特的1計4線應(yīng)變測量法,省去了根據(jù)導(dǎo)線電阻校正靈敏系數(shù)的需要,消除了由接觸電阻引起的測量誤差。在溫度恒定的條件,即使被測構(gòu)件未承受應(yīng)力,應(yīng)變計的指示應(yīng)變也會隨著時間的增加而逐漸變化,即零點漂移(零漂)。

    對于復(fù)合材料的拉伸試驗,可以使用試樣一側(cè)的單應(yīng)變測量來測量軸向應(yīng)變。然而,通過在試樣的相對兩側(cè)進行測量并計算它們的平均值,可以得到更一致和準確的結(jié)果。使用平均應(yīng)變測量對于壓縮測試至關(guān)重要,因為兩次測量之間的差異用于檢查試樣是否過度彎曲。通常在拉伸和壓縮測試中確定泊松比需要額外測量橫向應(yīng)變。剪切試驗時需要確定剪切應(yīng)變,剪切應(yīng)變可以通過測量軸向和橫向應(yīng)變來計算。在V型缺口剪切試驗中,應(yīng)變分布不均勻且集中在試樣的缺口之間,為了更加準確測量這些局部應(yīng)變需要使用應(yīng)變儀。 光學(xué)應(yīng)變測量技術(shù)全場測量,提供全部準確應(yīng)變數(shù)據(jù)。

上海光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)總代理,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量

    應(yīng)變測量有多種方法,比較常見的是使用應(yīng)變計。應(yīng)變計的電阻與設(shè)備的應(yīng)變存在比例關(guān)系;比較常用的應(yīng)變計是粘貼式金屬應(yīng)變計。金屬應(yīng)變計是由細金屬絲,或者更為常見的是由按柵格排列的金屬箔組成的。格網(wǎng)狀可以對并行方向中應(yīng)變的金屬絲/金屬箔量進行比較大化。格網(wǎng)能與一個被稱作基底的薄背板相連,基底直接連接至測試樣本。因此,測試樣本所受的應(yīng)變直接傳輸?shù)綉?yīng)變計,引起電阻的線性變化。應(yīng)變計的基礎(chǔ)參數(shù)是其對應(yīng)變的靈敏度,在數(shù)量上表示為應(yīng)變計因子(GF)。GF是電阻變化與長度變化或應(yīng)變的比值。 光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)對于遠程監(jiān)測橋梁、高樓等結(jié)構(gòu)的應(yīng)變情況尤為重要。上海光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)總代理

光學(xué)應(yīng)變測量是非接觸性的,避免了接觸式測量可能引起的誤差。上海光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)總代理

    建筑變形測量的基準點應(yīng)設(shè)置在變形影響植圍以外且位置穩(wěn)定易于長期保存的地方,宜避開高壓線;鶞庶c應(yīng)埋設(shè)標石或標志,且應(yīng)在埋設(shè)達到穩(wěn)定后方可開始進行變形測量。穩(wěn)定期應(yīng)根據(jù)觀測要求與地質(zhì)條件確定,不宜少于7d;鶞庶c應(yīng)每期檢測、定期復(fù)測,并應(yīng)符合下列規(guī)定:基準點復(fù)測周期應(yīng)視其所在位置的穩(wěn)定情況確定,在建筑施工過程中宜1-2月復(fù)測1次,施工結(jié)束后宜每季度或每半年復(fù)測1次。當某期檢測發(fā)現(xiàn)基準點有可能變動時,應(yīng)立即進行復(fù)測。 上海光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)總代理

 

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